[實(shí)用新型]配置有可充氣支撐件模塊的前開式晶圓盒有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201120259819.1 | 申請日: | 2011-07-21 |
| 公開(公告)號: | CN202159652U | 公開(公告)日: | 2012-03-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邱銘隆;洪國鈞;古震維;盛劍平;侯宜良 | 申請(專利權(quán))人: | 家登精密工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/673 | 分類號: | H01L21/673 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 周國城 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 配置 充氣 支撐 模塊 前開式晶圓盒 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型公開了一種前開式晶圓盒,特別是關(guān)于一種于前開式晶圓盒中配置有可充氣的支撐件,使得氣體可以在前開式晶圓盒中形成一氣體流場(Gas?flow)。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體晶圓由于需經(jīng)過各種不同流程的處理且需配合制程設(shè)備,因此會被搬運(yùn)到不同的工作站。為了方便晶圓的搬運(yùn)且避免受到外界的污染,常會利用一密封容器以供自動化設(shè)備輸送。請參考圖1所示,現(xiàn)有技術(shù)的晶圓盒示意圖。此晶圓盒是一種前開式晶圓盒(Front?Opening?Unified?Pod,F(xiàn)OUP),具有一盒體10及一門體20,盒體10由一對側(cè)壁10L及相鄰該對側(cè)壁10L的一頂面10T及一底面10B所組成,并于一側(cè)邊形成一開口12,而相對開口12的另一側(cè)邊形成一后壁(未顯示于圖中),其中在這對側(cè)壁10L上各設(shè)有多個插槽11以水平容置多個晶圓,而門體20具有一個外表面21及一個內(nèi)表面22,門體20通過內(nèi)表面22與盒體10的開口12相結(jié)合,用以保護(hù)盒體10內(nèi)部的多個晶圓。此外,在門體20的外表面21上配置至少一個門閂開孔23,用以開啟或是封閉前開式晶圓盒。在上述前開式晶圓盒中,由于半導(dǎo)體晶圓是水平地置于盒體10內(nèi)部,因此,在前開式晶圓盒搬運(yùn)過程中需有一晶圓限制件,以避免晶圓因震動而產(chǎn)生異位或往盒體10的開口12方向移動。
請參考圖2所示,為一美國公告專利6,736,268所揭露的一種前開式晶圓盒的門體20結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示,門體20的內(nèi)側(cè)面22配置有一凹陷區(qū)域24,此凹陷區(qū)域24從內(nèi)側(cè)面22的頂端221延伸到底端222且在左右二個鎖存機(jī)構(gòu)230(于門體內(nèi)部)之間,而在凹陷區(qū)域24中再進(jìn)一步配置有晶圓限制件模塊,此晶圓限制件模塊由左右二個晶圓限制件100所組成,而在每一個晶圓限制件100上具有多個晶圓接觸頭110,以利用此晶圓接觸頭110頂持其相對的晶圓,避免晶圓在傳送過程中因震動而異位或往盒體的開口方向移動。
上述盒體10兩側(cè)壁10L上的插槽11及門體20內(nèi)表面22的晶圓限制件模塊分別用來支撐及限制盒體10內(nèi)部的多個晶圓;這些支撐件及限制件都容易在晶圓盒運(yùn)送的過程中與晶圓產(chǎn)生摩擦,造成微粒(particle)的產(chǎn)生。當(dāng)晶圓盒的盒體10內(nèi)部有微粒出現(xiàn)時,微??赡軙A粼诰A表面或污染晶圓,造成后續(xù)的芯片產(chǎn)生其良率的下降。因此,在晶圓盒其支撐件及限制件的設(shè)計(jì)上,可以使用一具耐磨特性的材質(zhì),以避免支撐件及限制件與晶圓接觸時產(chǎn)生太多的微粒。如圖3所示,是美國公開專利2006/0283774所揭露的一種置于晶圓盒兩側(cè)壁的支撐件模塊的剖面示意圖。此支撐件模塊由多個垂直間隔排列的支撐件500所組成,而在支撐件500的表面包覆著一層樹酯501,這層樹酯501具有較低的摩擦特性以避免支撐件500和晶圓摩擦產(chǎn)生微粒。然而,此設(shè)計(jì)由于其樹酯501具有一斜面,當(dāng)晶圓支撐于樹酯501時,其僅能支撐到晶圓的邊緣附近;因此,當(dāng)晶圓的尺寸較大時,容易使晶圓下垂或下沉,除使晶圓容易有裂痕外,當(dāng)機(jī)器手臂在輸出晶圓時,亦容易產(chǎn)生破片或破壞晶圓。
此外,也有些設(shè)計(jì)是在晶圓盒的內(nèi)部,例如:晶圓與上述支撐件或限制件模塊接觸的附近,提供一噴氣的開口或刀口,則可將摩擦產(chǎn)生的微粒帶離晶圓。如圖4所示,是一美國公告專利US6,899,145所揭露的一種可置于晶圓盒內(nèi)部的可充氣支撐件模塊的示意圖。此充氣支撐件模塊包括一中空主體600,中空主體600固定于晶圓盒的盒體的側(cè)壁并向盒體的內(nèi)部延伸有多個垂直的支撐件601,以利用支撐件的上表面602支撐盒體內(nèi)部的多個晶圓。而在支撐件的側(cè)表面603一橫條狀的開口,可將中空主體600內(nèi)部的氣體由此橫條狀開口噴出,以避免因摩擦產(chǎn)生的微粒形成于晶圓表面。上述結(jié)構(gòu),由于橫條狀開口置于支撐件601的側(cè)面603,容易造成支撐力道不足進(jìn)而使晶圓發(fā)生異位或重疊,造成晶圓更嚴(yán)重的損壞。此外,當(dāng)晶圓承載于支撐件601其上表面602時,晶圓與支撐件601之間的接觸面積相當(dāng)?shù)拇?,這使微粒更容易產(chǎn)生。且,由于橫條狀的開口其長度與晶圓相當(dāng),因此,可能造成氣流微弱或是需要使用較大的充氣設(shè)備來提供較大的氣流量,方能形成有效的氣體流場。因此,目前的晶圓盒的內(nèi)部需要一種設(shè)計(jì)較周全的可充氣支撐件模塊,可有效地避免微粒產(chǎn)生及形成于晶圓表面。
實(shí)用新型內(nèi)容
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





