[實用新型]多芯片聯合測試裝置

無效

• 申請號: 201120172298.6
• 申請日: 2011-05-26
• 公開（公告）號: CN202066944U
• 公開（公告）日: 2011-12-07
• 發明（設計）人: 張松普;殷紹中;陳江鵬
• 申請（專利權）人: 中達電子零組件(吳江)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218
• 代理人: 翟羽;孫佳胤

技術領域

本實用新型涉及一種多芯片聯合測試裝置，特別是關于一種節省測試裝置制造成本的多芯片聯合測試裝置。

背景技術

芯片測試就是使用專用的自動測試設備（ATE）檢查制造出來的芯片其功能和性能是否滿足一定的要求。因此，芯片測試會包含多方面的內容，可以分為直流參數測試，功能測試，混合信號參數測試等等，不同類型的芯片對測試會有不同的要求，比如說純數字芯片就只用到功能測試和直流參數測試，而混合信號芯片上述三者的內容都會涵蓋到。隨著芯片技術的進步，一塊芯片上集成的功能越來越復雜，往往一塊芯片可以實現以往一個系統所需的全部功能，這就是所謂的SoC。但是，現今任然存在著很多功能單一的芯片，比如說存儲器芯片，因其制作工藝比較單一，往往單獨進行生產，這樣可以降低成本。在以后的文章中我會分別介紹每種類型的測試。

當今大部分芯片的量產測試都是在ATE系統上來完成的。ATE的作用簡單來說就是給芯片的輸入管腳施加所需的激勵信號，同時監測芯片的輸出管腳，看其輸出信號是否是預期的值。同時，ATE還能進行類似電壓/電流源，電壓/電流表等的功能，用于進行芯片直流參數的測試。由于芯片種類的不同，ATE也會有不同的種類來應對，比如說有存儲器（Memory）測試儀，數字測試儀，模擬測試儀，混合信號(Mixed?Signal)測試儀，射頻(RF)測試儀等等。

種類多樣化的ATE測試系統最近似乎朝著多功能一體化的方向發展，也就是一臺ATE集成了越來越多的測試能力。但是這種趨勢的優勢并不明顯，畢竟一體化的機型對于一些專門的芯片來說浪費太大。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是，提供一種節省測試裝置制造成本的多芯片聯合測試裝置。

為了解決上述問題，本實用新型提供了一種多芯片聯合測試裝置，包括多個測試座、開關控制器和測試信號源，所述測試信號源通過開關控制器電學連接至每個測試座。

可選的，所述開關控制器包括時序發生器、信號轉換器和多個開關，所述時序發生器通過信號轉換器連接至每一個開關，測試信號源連接至每一個開關，每個開關進一步對應連接至一個測試座。

可選的，所述時序發生器為計算機。

可選的，所述信號轉換器與時序發生器均具有串行接口，信號轉換器與時序發生器之間通過串行接口線連接。

本實用新型的優點在于，通過配置一套開關控制器可以控制多個測試座的測試狀態，避免了重復設置多套測試設備，節約了測試裝置的制造成本。

附圖說明

附圖1所示是本實用新型具體實施方式的多芯片聯合測試裝置結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型提供的多芯片聯合測試裝置的具體實施方式做詳細說明。

附圖1所示是本具體實施方式的多芯片聯合測試裝置結構示意圖，包括：以測試座11、12和13為例的多個測試座10，由開關21、22和23為例的多個開關、時序發生器24和信號轉換器25構成的開關控制器20，以及測試信號源30。

測試信號源30通過開關控制器20中的開關21、22和23電學連接至測試座11、12和13。時序發生器24為計算機，并通過信號轉換器25連接至開關21、22和23。信號轉換器25與時序發生器24均具有串行接口，信號轉換器25與時序發生器24之間通過串行接口線連接。

上述裝置的工作原理大致如下：時序發生器24根據測試需要編制一測試的時序，規定每個測試座的在哪一時刻打開進行測試，并將這一時序通過串行接口發送至信號轉換器25，信號轉換器25進一步將時序分解成每個測試座的測試命令，并由此控制至開關21、22和23的開/關狀態。當開關處于開啟狀態時，測試信號源30發出的測試命令可以加載到對應的測試座，并進一步加載到插接在該測試座的芯片上。

上述裝置通過配置一套開關控制器20可以控制多個測試座11、12和13的測試狀態，避免了重復設置多套測試設備，節約了測試裝置的制造成本。

以上所述僅是本實用新型的優選實施方式，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本實用新型的保護范圍。