[實用新型]X射線閃爍體光學(xué)成像系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201120123335.4 | 申請日: | 2011-04-25 |
| 公開(公告)號: | CN202049238U | 公開(公告)日: | 2011-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 顧寧;李光;羅守華 | 申請(專利權(quán))人: | 東南大學(xué) |
| 主分類號: | G01T1/202 | 分類號: | G01T1/202;G01T1/24;G01N23/083;A61B6/00;G02B21/36;G02B17/06 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標事務(wù)所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
| 地址: | 210096*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 射線 閃爍 光學(xué) 成像 系統(tǒng) | ||
1.一種X射線閃爍體光學(xué)成像系統(tǒng),該系統(tǒng)將X射線轉(zhuǎn)化成可見光并成像在電荷耦合器探測器(21)上,其特征在于:該系統(tǒng)包括:提供X射線的點源(10);閃爍體(15);設(shè)置在點源(10)與閃爍體(15)之間且具有旋轉(zhuǎn)、上下平移、左右平移、前后平移四自由度的載物臺(22);涂敷在閃爍體(15)與載物臺相對的一面的可見光反射涂層(12);與閃爍體(15)連接的光學(xué)玻璃基底(16);與光學(xué)玻璃基底(16)相連的顯微物鏡(17);與顯微物鏡(17)相距一定距離的轉(zhuǎn)向鏡(19);與轉(zhuǎn)向鏡(19)相距一定距離的管鏡(20);?與管鏡(20)相連的電荷耦合器探測器(21);其中,點源(10)發(fā)射X射線,經(jīng)過載物臺(22)上的物體的吸收,到達閃爍體(15),同時閃爍體(15)吸收轉(zhuǎn)化X射線成可見光,可見光通過光學(xué)玻璃基底(16)折射后到達顯微物鏡(17)的前端,顯微物鏡(17)與轉(zhuǎn)向鏡(19)的夾角等于管鏡(20)與轉(zhuǎn)向鏡(19)的夾角,顯微物鏡將閃爍體(15)發(fā)出的可見光線(18)成像到無窮遠處;該光線經(jīng)轉(zhuǎn)向鏡(19)后方向轉(zhuǎn)變,管鏡(20)則將光線聚焦到可見光電荷耦合器探測器(21)的感應(yīng)面上,通過這樣的將X射線轉(zhuǎn)換成可見光并聚焦的過程獲得圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線閃爍體光學(xué)成像系統(tǒng),其特征在于:所述的閃爍體(15)材料是鈰激活釔鋁石榴石單晶。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線閃爍體光學(xué)成像系統(tǒng),其特征在于:所述的閃爍體(15)的厚度因整個系統(tǒng)的放大倍數(shù)不同而不同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線閃爍體光學(xué)成像系統(tǒng),其特征在于:可見光反射涂層(12)為鋁膜。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線閃爍體光學(xué)成像系統(tǒng),其特征在于:所述的管鏡(20)經(jīng)過顯微物鏡(17)的平行光線聚焦到電荷耦合器探測器(21)感應(yīng)面上。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線閃爍體光學(xué)成像系統(tǒng),其特征在于:所述的顯微物鏡(17)像方視場范圍為26mm×26mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線閃爍體光學(xué)成像系統(tǒng),其特征在于:所述的光學(xué)玻璃基底(16)的折射率n為1.5。
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