[發(fā)明專(zhuān)利]液體處理裝置及液體處理方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110459283.2 | 申請(qǐng)日: | 2010-03-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102569133A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高栁康治;木下尚文 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/67 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;張會(huì)華 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 液體 處理 裝置 方法 | ||
本申請(qǐng)是申請(qǐng)日為2010年3月4日、申請(qǐng)?zhí)枮?010101268495、發(fā)明名稱(chēng)為“液體處理裝置及液體處理方法”的申請(qǐng)的分案申請(qǐng)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及例如將半導(dǎo)體晶圓等基板保持在設(shè)置于處理杯內(nèi)的基板保持部、在從噴嘴向基板供給處理液體、并且一邊使基板旋轉(zhuǎn)一邊進(jìn)行液體處理的液體處理裝置及液體處理方法。
背景技術(shù)
在對(duì)半導(dǎo)體晶圓(以下稱(chēng)作“晶圓”)實(shí)施的光刻工序中,進(jìn)行用于在晶圓的表面形成抗蝕劑膜的抗蝕劑涂敷處理,在該涂敷處理的方法中例如存在旋涂法。例如圖17所示,采用旋涂法的抗蝕劑涂敷裝置包括吸附保持晶圓W的旋轉(zhuǎn)吸盤(pán)11、使該旋轉(zhuǎn)吸盤(pán)11旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部12、向晶圓W供給抗蝕液的抗蝕劑噴嘴15、和包圍上述旋轉(zhuǎn)吸盤(pán)11的、在下部連接有廢液通路13、排氣管14的處理杯20。
另外,在上述處理杯20中設(shè)有自晶圓W的周緣部下方向外側(cè)下方傾斜的環(huán)狀的下側(cè)引導(dǎo)部21,并且,自晶圓W的周緣附近隔有間隙朝向斜下方地設(shè)有環(huán)狀的上側(cè)引導(dǎo)部22,在上側(cè)引導(dǎo)部22的上方還設(shè)有環(huán)狀的外側(cè)引導(dǎo)部23。上述下側(cè)引導(dǎo)部21與上側(cè)引導(dǎo)部22之間形成環(huán)狀流路24。如圖17及18所示,在上側(cè)引導(dǎo)部22中,沿著圓周方向形成有多個(gè)開(kāi)口部25,將由外側(cè)引導(dǎo)部23和上側(cè)引導(dǎo)部22包圍的空間與上述環(huán)狀流路24連通。
上述排氣管14在上游側(cè)通過(guò)減震器14a連接于工廠排氣管道(包括設(shè)置在工廠內(nèi)的排氣通路在內(nèi)的排氣系統(tǒng)),利用減震器14a的開(kāi)閉程度能夠以使處理杯20的氣氛為高排氣(排氣壓力較高、排氣量較多的狀態(tài))或者低排氣(排氣壓力較低、排氣量較少的狀態(tài))這兩個(gè)級(jí)別的排氣量進(jìn)行。高排氣以回收噴出抗蝕劑時(shí)的霧沫為目的設(shè)定,低排氣以回收烘干抗蝕劑時(shí)的霧沫為目的設(shè)定。在烘干抗蝕劑時(shí)以低排氣進(jìn)行排氣的理由在于,在以高排氣進(jìn)行排氣時(shí),有可能對(duì)膜厚的均勻性產(chǎn)生不良影響。
接著,簡(jiǎn)單說(shuō)明采用該抗蝕劑涂敷裝置進(jìn)行的抗蝕劑涂敷工序。上述抗蝕劑涂敷裝置內(nèi),利用風(fēng)機(jī)過(guò)濾單元(FFU)17形成下行流,例如自抗蝕劑噴嘴15向旋轉(zhuǎn)著的晶圓W的中心涂敷抗蝕劑,之后進(jìn)行旋轉(zhuǎn)烘干。在該工序中,自晶圓W飛散的抗蝕劑的一部分利用自重在下側(cè)引導(dǎo)部21中傳遞而自廢液通路13被排出到外部。另外,成為霧沫的抗蝕劑乘載于通過(guò)上述開(kāi)口部25流動(dòng)的下降氣流、及由旋轉(zhuǎn)著的晶圓W產(chǎn)生的氣流,在環(huán)狀流路24中流動(dòng),自排氣管14被吸引排出。
但是,以往,一邊使晶圓W旋轉(zhuǎn)、一邊向晶圓W的背面?zhèn)裙┙o作為清洗液的溶劑而進(jìn)行所謂的背面清洗,但要求除去附著在晶圓W的正面?zhèn)燃氨趁鎮(zhèn)鹊男泵?bevel)部的抗蝕劑,而且,正確地控制抗蝕劑膜的周緣與晶圓W的周緣的分離尺寸、換言之即是抗蝕劑的切入寬度。因此,如專(zhuān)利文獻(xiàn)1所述,公知有在晶圓W的背面周緣部的附近下方,自嵌合于內(nèi)側(cè)引導(dǎo)部21的噴嘴朝向晶圓W背面?zhèn)鹊男泵娌繃姵銮逑匆?溶劑)的技術(shù)。而且,在清洗該斜面時(shí),為了將噴出的清洗液從背面?zhèn)鹊男泵娌拷?jīng)由正面?zhèn)鹊男泵娌客粕现帘染AW的正面?zhèn)戎芫壙績(jī)?nèi)方一些的位置,需要將晶圓W的轉(zhuǎn)速設(shè)定為例如2500rpm左右的高旋轉(zhuǎn)。如圖17所示,上述斜面清洗噴嘴嵌入于下側(cè)引導(dǎo)部21,在該斜面清洗工序中,為了使清洗液到達(dá)晶圓W的正面周緣部,使該晶圓W的轉(zhuǎn)速大于以往的轉(zhuǎn)速。
另一方面,近年來(lái),隨著生產(chǎn)效率的提高,安裝于半導(dǎo)體制造裝置的處理杯20的數(shù)量增加,自多個(gè)處理杯20排出的總排氣量增大。結(jié)果,提高了工廠的運(yùn)營(yíng)費(fèi)用,也有可能對(duì)環(huán)境產(chǎn)生不良影響。并且,在抗蝕劑涂敷裝置中,鑒于排氣系統(tǒng)的控制復(fù)雜這樣的理由,難以將上述排氣系統(tǒng)做成兩個(gè)級(jí)別以上(例如高排氣、中排氣、低排氣這樣的三個(gè)級(jí)別),在噴出抗蝕劑時(shí),通過(guò)以高排氣進(jìn)行排氣來(lái)回收飛散的抗蝕劑霧沫,為了在除噴出抗蝕劑時(shí)之外的情況下(包括清洗斜面時(shí)在內(nèi))抑制排氣量增大,不得不以低排氣進(jìn)行排氣。
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H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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