[發明專利]一種基于數據統計學的關鍵績效指標分析方法

無效

• 申請號: 201110458126.X
• 申請日: 2011-12-31
• 公開（公告）號: CN102567536A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 高峽;朱海斌
• 申請（專利權）人: 南京柏梭信息科技有限公司
• 主分類號: G06F17/30
• 分類號: G06F17/30
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102
• 代理人: 任立;姚姣陽

技術領域

本發明涉及一種關鍵績效指標分析方法，更具體的說，涉及一種利用數據統計學對關鍵績效指標進行分析的方法。

背景技術

關鍵績效指標法(Key?Performance?Indicator，KPI)，把對績效的評估簡化為對幾個關鍵指標的考核，將關鍵指標當作評估標準，把員工的績效與關鍵指標作出比較地評估方法，在一定程度上可以說是目標管理法與帕累托定律的有效結合。關鍵指標必須符合SMART原則：具體性、衡量性、可達性、現實性和時限性(Time-based)。

KPI是通過對企業流程設置、取樣、計算、分析，衡量績效的一種目標式量化管理指標，是把企業的戰略目標分解為可操作的工作目標的一種方法。目前KPI被廣泛應用在企業管理經營中，大大的提高了管理效率。但是KPI是一個比較具體的目標，當企業設置的KPI出現問題時，企業的管理層會對該KPI進行分析，找出該KPI的問題所在，以便解決問題，使得KPI恢復正常。然而某個KPI的狀態可能是非常復雜的，它可能是受幾個或者幾十個其他指標影響的。那么在該KPI發生異常時，管理者并不能立刻知道為什么出現異常，他需要更進一步的分析影響該KPI的指標，如果影響該KPI的指標有很多都是異常時，就很難制定解決方案，從而影響整個管理體系。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是，克服現有技術的缺點，提供一種可以快速定位異常指標，準確合理的制定解決問題的方法，實現高效準確的管理體系的基于數據統計學的關鍵績效指標分析方法。

為了解決以上技術問題，本發明提供一種基于數據統計學的關鍵績效指標分析方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)將原始數據導入數據庫中并進行數據提取、轉換和加載，去除干擾分析的數據；

(2)對指標進行標準化處理，使每個指標都呈現出均值為0，標準差為1的分布；

(3)將各個指標繪制在散點圖中，直觀分析每個指標之間的關系強弱，將關系弱或者沒有關系的指標去除；

(4)將各個指標進行相關性分析，得到指標之間的相關系數；

(5)根據各個指標之間的相關系數以及指標在業務上的意義，確定是否需要將一些指標去除或者整合成新的指標；

(6)擬合指標，使目標指標表示成相關指標的線性組合，即Y＝a+bX₁+cX₂+dX₃+…的形式，其中，Y為目標指標，X_i為與Y相關指標，a、b、c、d…為步驟(4)中得到的指標之間的相關系數；

(7)以分析的數據作為基礎，將線性方程中各個指標X的值帶入方程中，得到的值用Y’表示，將Y’與原指標Y進行比較，其差值即為誤差e，求出誤差e的均值與方差，如果e的均值與方差達到要求，則執行步驟(8)，如果e的均值與方差未達到要求，則重復執行步驟(5)、步驟(6)和步驟(7)；所述e的均值與方差達到要求的標準在實際應用中具體確定，通常的標準為均值＜0.0005，方差＜0.02。

(8)建立父子關鍵績效指標關系，通過下鉆的方式，展開和該關鍵績效指標相關的指標，準確定位問題。

本發明進一步限定的技術方案是：步驟(1)中數據提取、轉換和加載的方法包括如下步驟：

a、獲取原始數據，將原始數據導入到數據庫中；

b、確認本次數據分析使用的數據，如果數據需要計算得到，理出計算公式，并生成查詢語句；

c、利用查詢語句將原始數據進行提取、匯集。

進一步的：步驟(2)中標準化處理的方法為：對于任意指標，使用公式其中X’是處理之后的指標值，X是處理之前的指標值，是指標的均值，σ_X是指標的標準差，是指標的均值，X_i為X的各個樣本，σ_X是指標的標準差，其中為樣本均值。

進一步的：步驟(3)中繪制散點圖的方法為：對于任意兩個指標，以

其中一個指標為橫軸，另一個指標為縱軸構成坐標點，完成散點圖的繪制。進一步的：步驟(4)中計算相關系統的方法為：計算任意兩變量之間的相關系數，公式來計算，其中R為相關系數，X_i為變量X的第i個原始值，Y_i為變量Y的第i個原始值，為X的均值，其中X_i為X的各個樣本，為Y的均值，Y_i為Y的各個樣本。