[發(fā)明專利]一種多晶硅制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110457997.X | 申請(qǐng)日: | 2011-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102557038A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 江宏富;鐘真武 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇中能硅業(yè)科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號(hào): | C01B33/035 | 分類號(hào): | C01B33/035 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 221004 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 多晶 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種多晶硅制備方法,具體涉及一種通過(guò)添加氧化性氣體減少霧化、改善產(chǎn)品表面形貌的多晶硅制備方法。
背景技術(shù)
多晶硅是光伏產(chǎn)業(yè)和電子工業(yè)最重要生產(chǎn)原料,在應(yīng)用上需要極高純度。一般來(lái)說(shuō),太陽(yáng)能級(jí)多晶硅的純度需達(dá)到6個(gè)9以上(99.9999%以上),電子級(jí)多晶硅的純度需達(dá)到9個(gè)9以上(99.9999999%以上)。現(xiàn)今,主流的多晶硅制備方法主要有:改良西門(mén)子法、硅烷法、冶金法、鈉還原法、鋅還原法等,其中改良西門(mén)子法生產(chǎn)的多晶硅占世界總產(chǎn)量的80%以上,其核心制程是三氯氫硅經(jīng)精餾提純后與高純氫一起送入反應(yīng)器,在反應(yīng)器內(nèi)的硅芯表面(硅芯被加熱至1000~1150?oC)發(fā)生化學(xué)氣相沉積反應(yīng),使硅芯逐漸長(zhǎng)成棒狀多晶硅,尾氣中包含未反應(yīng)的三氯氫硅、二氯二氫硅、四氯化硅、氫氣和氯化氫,經(jīng)CDI分離提純后回收利用。三氯氫硅還原反應(yīng)是個(gè)復(fù)雜的過(guò)程,期間發(fā)生了眾多反應(yīng),而對(duì)化學(xué)氣相沉積有貢獻(xiàn)的主要反應(yīng)如下:
SiHCl3+H2=Si+3HCl???????(1)
4SiHCl3=3SiCl4+2H2+Si????(2)。
在西門(mén)子法多晶硅生產(chǎn)過(guò)程中的眾多指標(biāo)中,多晶硅沉積速率和還原電耗是最受人們關(guān)注的指標(biāo),而影響多晶硅沉積速率和還原電耗的因素眾多,包括反應(yīng)溫度、壓力、流速、進(jìn)料量、物料配比等。生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)中多通過(guò)長(zhǎng)期的實(shí)踐摸索出一套適合現(xiàn)場(chǎng)的較優(yōu)操作工藝,采用該工藝可得到較佳的沉積速率和還原電耗。然而,由于生產(chǎn)的不確定性和物料供應(yīng)的不穩(wěn)定性,即使采用相同的操作工藝也很難保證得到較優(yōu)的結(jié)果,控制不好,在生產(chǎn)過(guò)程中還容易出現(xiàn)霧化現(xiàn)象。霧化即還原爐內(nèi)呈霧狀,霧化會(huì)影響還原爐內(nèi)的清晰度,此時(shí),通過(guò)還原爐視鏡無(wú)法準(zhǔn)確觀察還原爐內(nèi)硅棒的生長(zhǎng)情況,不利于生產(chǎn)精細(xì)操作。一般霧化現(xiàn)象出現(xiàn)在沉積反應(yīng)30h左右,可能會(huì)持續(xù)到反應(yīng)結(jié)束。常規(guī)抑制霧化的方式就是加大氫氣進(jìn)氣量,這將嚴(yán)重影響多晶硅沉積速率、還原電耗以及產(chǎn)品的質(zhì)量,情況嚴(yán)重下將造成過(guò)早停爐。霧化的主要原因是,在生長(zhǎng)后期,硅棒直徑變大,使?fàn)t內(nèi)空間減小,而進(jìn)料量增大,使反應(yīng)器內(nèi)單位體積物料濃度增加,促進(jìn)了三氯氫硅在氣相中的熱分解反應(yīng)(式2),另外,生長(zhǎng)后期,爐內(nèi)空間減小,硅棒間輻射量增加,使反應(yīng)器體相溫度升高,進(jìn)一步加劇了三氯氫硅的熱分解反應(yīng)。解決霧化的主要手段有:降低電流、降低物料進(jìn)料量、提高氫氣和三氯氫硅的配比等,其基本點(diǎn)是從減小三氯氫硅氣相熱分解反應(yīng)速率的角度入手解決霧化問(wèn)題,但由此也導(dǎo)致硅沉積速率下降,進(jìn)而影響平均沉積速率和還原電耗,這是多晶硅生產(chǎn)企業(yè)極不愿見(jiàn)的情況。
本發(fā)明針對(duì)上述問(wèn)題進(jìn)了生產(chǎn)工藝的改進(jìn),不但可解決多晶硅生產(chǎn)過(guò)程中出現(xiàn)的霧化問(wèn)題,而且不需降低硅棒表面溫度和物料濃度,保證了多晶硅生產(chǎn)高的沉積速率和低的還原電耗,改善了多晶硅棒的表面形貌。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的在于提供一種改進(jìn)的多晶硅制備方法,通過(guò)向反應(yīng)器加入一定量的鹵化氫氣體,來(lái)有效抑制還原爐內(nèi)體相中硅粉的產(chǎn)生,消除霧化現(xiàn)象,反應(yīng)所產(chǎn)生的熱量可供多晶硅沉積使用,提高能量利用效率和硅沉積速率,氯化氫氣體對(duì)硅棒表面的刻蝕能改善多晶硅表面形貌,得到致密多晶硅棒。
本發(fā)明另一目的在于所提供改進(jìn)的多晶硅制備方法,可在還原爐內(nèi)發(fā)生霧化的情況下,無(wú)需采取降低反應(yīng)溫度、物料濃度或提高H2/氯硅烷配比,就可消除霧化現(xiàn)象。
在多晶硅制備過(guò)程中,當(dāng)氯化氫氣體(如HCl)與固態(tài)硅材料的表面接觸時(shí),將發(fā)生氣化反應(yīng),形成三氯氫硅或四氯化硅。反應(yīng)式如下:
3HCl+Si=SiHCl3+H2?????(3)
4HCl+Si=SiCl4+2H2??????(4)。
一般情況下,當(dāng)溫度高于350?oC時(shí),反應(yīng)主要以(4)式進(jìn)行。由于反應(yīng)器內(nèi)的沉積硅為高純,沒(méi)有催化劑,因此,反應(yīng)溫度要稍高。而在反應(yīng)器內(nèi)的體相中,氣相溫度均高于500?oC,因此,當(dāng)體相中一旦有硅粉存在,反應(yīng)(3)和(4)可明顯發(fā)生,消除硅粉,另一方面,反應(yīng)(4)所產(chǎn)生的大量SiCl4將抑制SiHCl3的熱分解,從而抑制硅粉的產(chǎn)生。
當(dāng)僅考慮由于氯化氫氣體(如HCl)引入反應(yīng)器而發(fā)生的反應(yīng),消耗了固態(tài)硅,這導(dǎo)致了一種誤解,即氯化氫氣體(如HCl)引入反應(yīng)器后,致使硅的沉積速率下降。事實(shí)上,當(dāng)氯化氫氣體(如HCl)的量不超過(guò)氯硅烷的60%摩爾含量時(shí),不會(huì)引起硅沉積速率的明顯下降。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于江蘇中能硅業(yè)科技發(fā)展有限公司,未經(jīng)江蘇中能硅業(yè)科技發(fā)展有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110457997.X/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫(xiě)分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





