[發明專利]接觸式電路板測試系統的自檢工作方法

有效

• 申請號: 201110457852.X
• 申請日: 2011-12-30
• 公開（公告）號: CN102508150A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發明（設計）人: 徐煜明;韓雁;徐斐;莊燕濱
• 申請（專利權）人: 常州工學院
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 常州市江海陽光知識產權代理有限公司 32214
• 代理人: 湯志和

1.一種接觸式電路板測試系統的自檢工作方法，其特征在于：

所述接觸式電路板測試系統包括：與計算機接口(M0)相連的第一、第二FPGA電路(M4、M5)，與第一、第二FPGA電路(M4、M5)的控制信號輸出端相連的至少包含一個由兩組對管電路組成的三極管開關陣列電路；

所述的對管電路包括一個PNP型和NPN型三極管，該PNP型和NPN型三極管的集電極相連；所述的三極管陣列電路中的各PNP型三極管的發射極相連形成第一公共點(GND1)，該三極管陣列電路中的各NPN型三極管的發射極相連形成第二公共點(GND2)；各對管電路中的PNP型和NPN型三極管的集電極相連端為測試結點(J)；

第一FPGA電路(M4)的各控制信號輸出端與所述的三極管陣列電路中的各PNP型三極管的基極一一對應相連，第二FPGA電路(M5)的各控制信號輸出端與所述的三極管陣列電路中的各NPN型三極管的基極一一對應相連；第一FPGA電路(M4)連接有第一主電源(VCC3、GND3)、用于控制所述第一FPGA電路(M4)的各控制信號輸出端的輸出電壓的第一控制輸出電源(VCC5、GND5)；第二FPGA電路(M5)連接有第二主電源(VCC2、GND2)、用于控制所述第二FPGA電路(M5)的各控制信號輸出端的輸出電壓的第二控制輸出電源(VCC4、GND4)；

所述的第一FPGA電路(M4)的第一控制輸出電源的正極(VCC5)與所述第一公共點(GND1)相連，所述的第二FPGA電路(M5)的第二控制輸出電源的接地點(GND4)與所述第二公共點(GND2)相連；

所述第一公共點(GND1)還與一受控電流源的輸出端相連、第二公共點(GND2)與所述受控電流源的輸入端相連；

所述接觸式電路板測試系統的自檢工作方法，包括以下步驟：

①由計算機控制第一、第二FPGA電路(M4、M5)使三極管開關陣列中三極管全部截止；把測得的檢測電壓U_AB數據與存儲在計算機內部的三極管全部截止標準數據進行比對，若U_AB數據與所述標準數據不符，則判斷為：至少有一個所述的對管電路中的NPN型和PNP型三極管都損壞；

②保持三極管開關陣列中NPN型三極管全部截止，由計算機控制第一FPGA電路(M4)使所述的三極管開關陣列中PNP型三極管依次完成導通、截止，同時把所述檢測電壓U_AB與存儲在計算機內部的相應的第一數據進行比對，若所述檢測電壓U_AB與所述第一數據不符，即判斷出當前所測的NPN型三極管損壞；

③計算機控制第二FPGA電路(M5)使所述的三極管開關陣列中PNP型三極管全部截止，并控制第一FPGA電路(M4)使NPN型三極管依次完成導通、截止，同時把所述檢測電壓U_AB與存儲在計算機內部的相應的第二數據進行比對，若所述檢測電壓U_AB與所述第二數據不符，即判斷出當前所測的PNP型三極管損壞；

④由計算機控制第一、第二FPGA電路(M4、M5)使三極管開關陣列中三極管全部截止后；再控制所述三極管開關陣列中的每組對管電路依次完成導通、截止，同時把所述的檢測電壓U_AB與存儲在計算機內部的相應的第三數據進行比對，若所述檢測電壓U_AB與所述第三數據不符，即判斷出當前所測的對管電路存在故障。