[發(fā)明專利]一種中心布線雙圈排列IC芯片堆疊封裝件及其生產(chǎn)方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110455052.4 | 申請日: | 2011-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN102522383A | 公開(公告)日: | 2012-06-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱文輝;郭小偉;慕蔚;李習(xí)周 | 申請(專利權(quán))人: | 天水華天科技股份有限公司;華天科技(西安)有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/49 | 分類號: | H01L23/49;H01L23/495;H01L23/498;H01L21/48;H01L21/50 |
| 代理公司: | 甘肅省知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)中心 62100 | 代理人: | 鮮林 |
| 地址: | 741000 甘*** | 國省代碼: | 甘肅;62 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 中心 布線 排列 ic 芯片 堆疊 封裝 及其 生產(chǎn) 方法 | ||
1.一種中心布線雙圈排列IC芯片堆疊封裝件,包括引線框架載體、框架引線內(nèi)引腳、IC芯片、鍵合線及塑封體,其特征在于:所述引線框架載體(1)上粘接第一IC芯片(4),所述第一IC芯片(4)上堆疊有第二IC芯片(10),所述第一IC芯片(4)外側(cè)設(shè)有中心布線環(huán)(2),所述中心布線環(huán)(2)的外部設(shè)有兩圈內(nèi)引腳,分別為第一內(nèi)引腳(17)和第二內(nèi)引腳(19),所述兩圈內(nèi)引腳之間正面腐蝕出深度為引線框架厚度的1/2的第一凹坑(18),第一內(nèi)引腳(17)和第二內(nèi)引腳(19)底部腐蝕出深度為引線框架厚度的1/2的第二凹坑(27),所述中心布線環(huán)(2)上設(shè)有內(nèi)圈焊盤(22)和外圈焊盤(23)兩圈焊盤,所述內(nèi)圈焊盤(22)分別與第一IC芯片(4)和第二IC芯片(10)的焊盤打線,所述外圈焊盤(23)分別與第一內(nèi)引腳(17)和第二內(nèi)引腳(19)打線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種中心布線雙圈排列IC芯片堆疊封裝件,其特征在于:所述第一IC芯片(4)與第二IC芯片(10)打線連接形成第五鍵合線(11),所述第一IC芯片(4)與中心布線環(huán)(2)的內(nèi)圈焊盤(22)打線連接形成第一鍵合線(5)和第二鍵合線(6);所述第二IC芯片(10)與中心布線環(huán)(2)的內(nèi)圈焊盤(22)打線連接形成第六鍵合線(12)和第七鍵合線(13);所述外圈焊盤(23)打線后拉弧在第一內(nèi)引腳(17)上形成第三鍵合線(7)和第八鍵合線(14),打線后拉弧在第二內(nèi)引腳(19)上形成第四鍵合線(8)和第九鍵合線(15)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種中心布線雙圈排列IC芯片堆疊封裝件,其特征在于:所述中心布線環(huán)(2)鑲嵌或粘貼在引線框架載體(1)上,所述內(nèi)圈焊盤(22)和外圈焊盤(23)之間通過中心布線環(huán)(2)相通。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種中心布線雙圈排列IC芯片堆疊封裝件的制備方法,工藝流程為減薄、劃片、上芯、壓焊、塑封、后固化、打印、分離引腳、電鍍、產(chǎn)品分離、外觀檢驗(yàn)、包裝、入庫,其中除壓焊、分離引腳、電鍍工序以外,其它工序均采用相關(guān)封裝形式的常規(guī)工藝方法,其特征在于所述工藝過程為:
步驟1?減薄、劃片
采用相關(guān)封裝形式的常規(guī)方法進(jìn)行;
步驟2?上芯
a、雙芯片堆疊一次上芯
當(dāng)?shù)谝籌C芯片(4)的各邊長度比第二IC芯片(10)的各邊長度大于1.2mm時(shí),堆疊封裝的第一IC芯片(4)和第二IC芯片(10)采用一次分別上芯,一次烘烤;
b、雙芯片堆疊二次上芯
當(dāng)?shù)谝籌C芯片(4)的各邊長度比第二IC芯片(10)的各邊長度小于1.2mm時(shí),堆疊封裝的第一IC芯片(4)和第二IC芯片(10)采用二次上芯分別烘烤;
步驟3壓焊
堆疊封裝二次上芯壓焊材料也是金線和銅線,第二IC芯片(10)上的焊盤既與第一IC芯片(4)進(jìn)行焊線,又與中心布線環(huán)(2)的內(nèi)焊盤組(22)間壓焊,中心布線環(huán)(2)的外焊盤組(23)既與第一內(nèi)引腳(17)間打線,又與外圈第二內(nèi)引腳(19)間打線,要選擇正打、反打,多種線弧形式,防止線與線間短路;
步驟4?塑封、后固化、打印
采用相關(guān)封裝形式的常規(guī)方法對壓焊后形成的器件進(jìn)行塑封、后固化、打印;
步驟5分離引腳
磨削法分離,將打印完的半成品框架底部先進(jìn)行腐蝕,引線框架背面腐蝕掉0.045mm~0.065mm,然后進(jìn)行磨削、拋光厚度為0.065mm~0.045mm;
步驟6電鍍
對磨削法分離引腳間連筋,采用化學(xué)鍍方法先電鍍一層8μm~10μm的銅,然后電鍍7μm~15μm的純錫;
步驟7產(chǎn)品分離、外觀檢驗(yàn)、包裝
采用相關(guān)封裝形式的常規(guī)方法對電鍍后形成的器件進(jìn)行產(chǎn)品分離、外觀檢驗(yàn)、包裝。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種中心布線雙圈排列IC芯片堆疊封裝件的制備方法,其特征在于所述步驟b雙芯片堆疊二次上芯,當(dāng)使用絕緣膠二次上芯時(shí),在第一IC芯片(4)正面先點(diǎn)上第二粘片膠絕緣膠(9),再將第二IC芯片(10)吸附粘在第二粘片膠(9)上面,粘完第二IC芯片(10)后,將上芯好的半成品引線框架送烘烤,在150℃下烘烤3小時(shí)烤。
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