[發(fā)明專利]發(fā)光二極管芯片及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110443704.2 | 申請日: | 2011-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN103187495A | 公開(公告)日: | 2013-07-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 林雅雯;凃博閔;黃世晟;黃嘉宏;楊順貴 | 申請(專利權(quán))人: | 展晶科技(深圳)有限公司;榮創(chuàng)能源科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/02 | 分類號: | H01L33/02;H01L33/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市寶*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)光二極管 芯片 及其 制造 方法 | ||
1.一種發(fā)光二極管芯片,包括基板、設(shè)于該基板上的緩沖層、及設(shè)于該緩沖層上的磊晶結(jié)構(gòu),所述磊晶結(jié)構(gòu)包括依次形成在所述緩沖層上的n型半導(dǎo)體層、發(fā)光層以及p型半導(dǎo)體層,其特征在于,該基板具有一與所述緩沖層接觸的第一表面,該第一表面上形成有圖案化結(jié)構(gòu),該n型半導(dǎo)體層具有一遠(yuǎn)離所述緩沖層的頂面,該頂面與該緩沖層的第一表面的距離為0.5-2.5μm。
2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于:該頂面與該第一表面的距離為0.5-1.8μm。
3.如權(quán)利要求1或2任一項所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于:所述圖案化結(jié)構(gòu)由多個凸起所構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于:所述凸起呈圓弧狀,直徑為3μm。
5.如權(quán)利要求4所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于:所述凸起之間的距離為2μm。
6.一種發(fā)光二極管芯片的制造方法,包括以下步驟:
提供一基板,該基板具有一形成有圖案化結(jié)構(gòu)的第一表面;
在所述基板的第一表面上形成一緩沖層;
在該緩沖層上形成一n型半導(dǎo)體層,該n型半導(dǎo)體層遠(yuǎn)離緩沖層的頂面與所述第一表面的距離為0.5-2.5μm;
在該n型半導(dǎo)體層上依次形成發(fā)光層和p型半導(dǎo)體層。
7.如權(quán)利要求6所述的發(fā)光二極管芯片的制造方法,其特征在于:在該緩沖層上形成一n型半導(dǎo)體層的步驟可分為兩步來實現(xiàn):首先在該緩沖層上形成一3μm?厚的n型半導(dǎo)體層;然后蝕刻該n型半導(dǎo)體層,使得該n型半導(dǎo)體層遠(yuǎn)離緩沖層的頂面與所述第一表面的距離為0.5-2.5μm。
8.如權(quán)利要求7所述的發(fā)光二極管芯片的制造方法,其特征在于:蝕刻該n型半導(dǎo)體層步驟中,蝕刻后所述第一表面與所述頂面的距離為0.5-1.8μm。
9.如權(quán)利要求6至8任一項所述的發(fā)光二極管芯片的制造方法,其特征在于:所述圖案化結(jié)構(gòu)由多個凸起所構(gòu)成。
10.如權(quán)利要求9所述的發(fā)光二極管芯片的制造方法,其特征在于:所述凸起呈圓弧狀,直徑為3μm。
11.如權(quán)利要求10所述的發(fā)光二極管芯片的制造方法,其特征在于:所述凸起之間的距離為2μm。
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