[發(fā)明專利]電容容量及其寄生電阻測量電路

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110437279.6
• 申請日: 2011-12-23
• 公開（公告）號: CN103176053A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 白云;童松林
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01R27/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種電容容量及其寄生電阻測量電路，特別涉及一種用于測量超級電容容量及其寄生電阻的測量電路。

背景技術(shù)

隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，電子設(shè)備對其內(nèi)部元件的精度要求也越來越高，因此一些電子元件在使用前，經(jīng)常需要對其參數(shù)進(jìn)行測量。電容作為無源器件，在電路中具有儲能、濾波、去耦等作用，在很多電子產(chǎn)品中，電容都是必不可少的電子元件，電容的容量及其寄生電阻是電容元件的重要參數(shù)，傳統(tǒng)的測量方法是用電橋法測量，然而電橋法只適合對小容量的電容進(jìn)行測量，當(dāng)測量大容量的電容時(shí)，會產(chǎn)生較大的誤差，將測量值誤差較大的電容用在電子設(shè)備中，會影響電子設(shè)備的性能。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，有必要提供一種可以準(zhǔn)確測量電容容量及其寄生電阻的電路。

一種電容容量及其寄生電阻測量電路，包括：

一電壓轉(zhuǎn)換電路，用于接收一電壓并將接收到的電壓轉(zhuǎn)換后輸出；

一充電電路，用于對所述待測電容進(jìn)行充電，并在所述待測電容充滿電時(shí)輸出一停止充電信號；

一放電及采樣電路，包括一放電電阻，所述放電及采樣電路接收所述電壓轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓，并對一待測電容的放電過程進(jìn)行控制以及偵測所述待測電容的電壓及所述放電電阻的電壓；

一控制電路，包括一具有內(nèi)部計(jì)時(shí)器的微處理器，所述微處理器在待測電容充滿電時(shí)接收充電電路輸出的停止充電信號并根據(jù)所述停止充電信號控制所述充電電路停止對所述待測電容充電并輸出一放電控制信號通過所述放電及采樣電路控制所述待測電容放電，所述微處理器通過所述計(jì)時(shí)器及所述放電及采樣電路獲取所述待測電容從充滿電至放電至零伏電壓的放電時(shí)間并根據(jù)所述待測電容的放電時(shí)間及所述放電電阻的電阻值計(jì)算得到所述待測電容的容量；所述微處理器還控制所述放電及采樣電路偵測所述待測電容充滿電時(shí)的電壓及偵測所述待測電容放電過程中任一時(shí)刻所述待測電容及放電電阻的電壓以根據(jù)獲得的該時(shí)刻的電壓值及所述放電電阻的電阻值得到所述待測電容的寄生電阻值。

相較現(xiàn)有技術(shù)，所述電容容量及其寄生電阻測量電路通過所述控制電路控制所述充電電路對所述待測電容進(jìn)行充電及通過控制所述放電及采樣電路使所述待測電容放電，并通過所述放電及采樣電路獲取待測電容的電壓及放電電阻的電壓，以此來測量得到所述待測電容的電容容量及其寄生電阻值。所述電容容量及其寄生電阻測量電路測量準(zhǔn)確。

附圖說明

圖1為本發(fā)明電容容量及其寄生電阻測量電路的較佳實(shí)施方式的框圖。

圖2至圖5為本發(fā)明電容容量及其寄生電阻測量電路的較佳實(shí)施方式的電路圖。

主要元件符號說明