[發(fā)明專利]電容容量及其寄生電阻測量電路

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110437279.6
• 申請日: 2011-12-23
• 公開（公告）號: CN103176053A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 白云;童松林
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01R27/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電容容量及其寄生電阻測量電路，包括：

一電壓轉(zhuǎn)換電路，用于接收一電壓并將接收到的電壓轉(zhuǎn)換后輸出；

一充電電路，用于對所述待測電容進(jìn)行充電，并在所述待測電容充滿電時(shí)輸出一停止充電信號；

一放電及采樣電路，包括一放電電阻，所述放電及采樣電路接收所述電壓轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓，并對一待測電容的放電過程進(jìn)行控制以及偵測所述待測電容的電壓及所述放電電阻的電壓；

一控制電路，包括一具有內(nèi)部計(jì)時(shí)器的微處理器，所述微處理器在待測電容充滿電時(shí)接收充電電路輸出的停止充電信號并根據(jù)所述停止充電信號控制所述充電電路停止對所述待測電容充電并輸出一放電控制信號通過所述放電及采樣電路控制所述待測電容放電，所述微處理器通過所述計(jì)時(shí)器及所述放電及采樣電路獲取所述待測電容從充滿電至放電至零伏電壓的放電時(shí)間并根據(jù)所述待測電容的放電時(shí)間及所述放電電阻的電阻值計(jì)算得到所述待測電容的容量；所述微處理器還控制所述放電及采樣電路偵測所述待測電容充滿電時(shí)的電壓及偵測所述待測電容放電過程中任一時(shí)刻所述待測電容及放電電阻的電壓以根據(jù)獲得的該時(shí)刻的電壓值及所述放電電阻的電阻值得到所述待測電容的寄生電阻值。

2.如權(quán)利要求1所述的電容容量及其寄生電阻測量電路，其特征在于：所述電容容量測量電路還包括一連接所述微處理器的指令輸入單元，通過所述指令輸入單元輸入一指令信號以使所述微處理器控制所述放電及采樣電路偵測所述待測電容放電過程中任一時(shí)刻所述待測電容及放電電阻的電壓以根據(jù)獲得的該時(shí)刻的電壓值及所述放電電阻的電阻值得到所述待測電容的寄生電阻值。

3.如權(quán)利要求1所述的電容容量及其寄生電阻測量電路，其特征在于：所述電容容量測量電路還包括一連接所述微處理器的顯示單元，所述顯示單元用于顯示所述微處理器獲得的所述待測電容的電壓及放電時(shí)間。

4.如權(quán)利要求1所述的電容容量及其寄生電阻測量電路，其特征在于：所述電壓轉(zhuǎn)換電路包括第一至第五電容、第一至第四電阻、一電源轉(zhuǎn)換芯片、一第一電感及一電壓輸出端，所述電源轉(zhuǎn)換芯片的第一及第二輸入引腳相連并經(jīng)所述第一電感接一電壓源，所述第一及第二電阻連接在所述電壓源與地之間，所述電源轉(zhuǎn)換芯片的第一I/O引腳連接在所述第一與第二電阻之間的節(jié)點(diǎn)，所述第一電容連接在所述電源轉(zhuǎn)換芯片的第一輸入引腳與地之間，所述電源轉(zhuǎn)換芯片的第二I/O引腳連接所述控制電路，所述電源轉(zhuǎn)換芯片的第三I/O引腳連接第一輸入引腳及經(jīng)所述第二電容接地，所述電源轉(zhuǎn)換芯片的第一及第二輸出引腳相連并連接所述電壓輸出端，所述第四及第五電容分別連接在所述電壓輸出端與地之間，所述第三及第四電阻依次串接在所述電源轉(zhuǎn)換芯片的第二輸出引腳與地之間，所述電源轉(zhuǎn)換芯片的第四I/O引腳連接在所述第三及第四電阻之間的節(jié)點(diǎn)，第五I/O引腳經(jīng)所述第三電容接地。

5.如權(quán)利要求4所述的電容容量及其寄生電阻測量電路，其特征在于：所述充電電路包括一第一場效應(yīng)管、一開關(guān)、第六至第十電容、第五至第八電阻、一發(fā)光二極管及一充電芯片，所述充電芯片的輸入引腳經(jīng)所述開關(guān)連接所述電壓源，所述發(fā)光二極管的陽極連接所述充電芯片的輸入引腳，其陰極經(jīng)所述第五電阻接地，所述第六及第七電容分別連接在所述充電芯片的輸入引腳與地之間，所述第一場效應(yīng)管的漏極連接所述充電芯片的第一I/O引腳及經(jīng)所述第六電阻連接所述充電芯片的輸入引腳，其源極接地，其柵極連接所述控制電路，所述第八電容連接在所述充電芯片的第二及第三I/O引腳之間，所述充電芯片的第四I/O引腳連接所述控制電路，其輸出引腳連接所述待測電容，所述第九及第十電容分別連接在所述充電芯片的輸出引腳與地之間，所述充電芯片的第五I/O引腳經(jīng)所述第八電阻接地，所述充電芯片的第六I/O引腳連接所述電壓源及經(jīng)所述第七電阻接地。