[發明專利]一種模塊的LCD接口的PIN腳測試方法

有效

• 申請號: 201110435948.6
• 申請日: 2011-12-22
• 公開（公告）號: CN103176094B
• 公開（公告）日: 2018-01-23
• 發明（設計）人: 涂宏俊
• 申請（專利權）人: 芯訊通無線科技（上海）有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙)31260
• 代理人: 成麗杰

技術領域

本發明涉及一種PIN腳測試技術，尤其涉及一種LCD接口的PIN腳測試技術。

背景技術

對于模塊產品，為了保證模塊在出廠之后的質量，就需要在模塊出廠之前進行一項測試，即PIN TEST測試。測試的目的就是確保模塊的對外引腳的連接性能良好，不會出現PIN腳虛焊或者連焊的問題，從而導致其功能的缺失。

對模塊的液晶顯示(Liquid Crystal Display，簡稱“LCD”)接口來說，如果LCD接口中PIN腳的連接有問題，就會導致LCD屏無法顯示。LCD接口中，各PIN腳一端與模塊主芯片相連，另一端與LCD接口對外的接觸點相連。其中，PIN腳與LCD接口對外的接觸點之間是否虛焊或者連焊，是肉眼可以觀察到的，且對外的接觸點之間的距離一般比較大，不易發生虛焊或者連焊的問題，而PIN腳與主芯片的連接點十分密集，僅靠肉眼無法判斷其是否正確連接，因此測試模塊LCD接口的連接是否良好，主要是測試LCD接口中各PIN腳與模塊主芯片的連接是否良好。

測試模塊的LCD接口的連接性能是否良好，最常用的方法就在夾具上安裝一個LCD屏，然后將模塊的LCD引腳連到夾具的LCD屏上面，之后讓模塊輸出一副圖片在LCD屏上顯示，看LCD屏上的圖片是否完整。如果LCD屏上的圖片顯示完整，則說明模塊的LCD接口的連接性能良好；如果LCD屏上的圖片顯示不完整或者沒有圖片，則說明模塊的LCD接口的連接性能不好，屬于有問題的模塊，需要檢查問題的原因。

上述測試方法比較常用，但會增加一定的成本費用，而且從實際的應用情況來看，由于工廠對夾具的使用比較頻繁，LCD屏的使用壽命有限，很容易出現LCD屏損壞的情況。所以就希望有一種方法能夠解決這樣的問題，在夾具上不需要安裝LCD屏就能夠實現對模塊的LCD接口的連接性能的良好性進行評估，能夠判斷出該模塊的LCD接口中PIN腳與模塊主芯片之間是否虛焊或者是連焊，以確保模塊的質量。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是提供一種模塊的LCD接口的PIN腳測試方法，使得無需在模塊夾具上安裝LCD屏的情況下，能夠對模塊LCD接口的連接性進行測試。

為了解決上述技術問題，本發明提供了一種模塊的LCD接口的PIN腳測試方法，包含以下步驟：

對于復用為輸入輸出口的LCD接口，將該LCD接口中、在與模塊主芯片相連的一端相鄰的兩個PIN腳的對外一端連接在一起，分別將兩個PIN腳設置為一輸入和一輸出狀態；

主芯片控制各輸出狀態的PIN腳分別輸出一個高或低電平；

主芯片讀取各輸入狀態的PIN腳上的電平值，比較所讀取的電平值與該PIN腳所連接的輸出狀態的PIN腳的輸出電平值是否一致，如果一致，則該相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好；如果不一致，則該相連接的一對PIN腳與主芯片的連接異常。

作為上述技術方案的改進，在判定該相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好之前，還包含以下步驟：

主芯片控制各輸出狀態的PIN腳再次輸出一個高或低電平，所輸出的電平值與前一次相反；

主芯片讀取各輸入狀態的PIN腳上的電平值，比較所讀取的電平值與該PIN腳所連接的輸出狀態的PIN腳的輸出電平值是否一致，如果一致，則該相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好；如果不一致，則該相連接的一對PIN腳與主芯片的連接異常。

作為上述技術方案的改進，在判定該相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好之前，還包含以下步驟：

將相連接的各對PIN腳的輸入輸出狀態交換，主芯片控制各輸出狀態的PIN腳分別輸出一個高或低電平；

主芯片讀取各輸入狀態的PIN腳上的電平值，比較所讀取的電平值與該PIN腳所連接的輸出狀態的PIN腳的輸出電平值是否一致，如果一致，則該相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好；如果不一致，則該相連接的一對PIN腳與主芯片的連接異常。

作為上述技術方案的改進，在判定該相連接的一對PIN腳與主芯片連接良好之前，還包含以下步驟：

對于輸入輸出狀態交換后的各對PIN腳，主芯片控制各輸出狀態的PIN腳再次輸出一個高或低電平，所輸出的電平值與前一次相反；

主芯片讀取各輸入狀態的PIN腳上的電平值，比較所讀取的電平值與該PIN腳所連接的輸出狀態的PIN腳的輸出電平值是否一致，如果一致，則該相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好；如果不一致，則該相連接的一對PIN腳與主芯片的連接異常。