[發(fā)明專利]一種模塊的LCD接口的PIN腳測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110435948.6
• 申請日: 2011-12-22
• 公開（公告）號: CN103176094B
• 公開（公告）日: 2018-01-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 涂宏俊
• 申請（專利權(quán)）人: 芯訊通無線科技（上海）有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 上海晨皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)31260
• 代理人: 成麗杰

1.一種模塊的LCD接口的PIN腳測試方法，其特征在于，包含以下步驟：

判斷LCD接口是否可復(fù)用為輸入輸出口；

對于復(fù)用為輸入輸出口的LCD接口，將該LCD接口中、在與模塊主芯片相連的一端相鄰的兩個(gè)PIN腳的對外一端連接在一起，分別將兩個(gè)PIN腳設(shè)置為一輸入和一輸出狀態(tài)；

所述主芯片控制所述各輸出狀態(tài)的PIN腳分別輸出一個(gè)高或低電平；

所述主芯片讀取所述各輸入狀態(tài)的PIN腳上的電平值，比較所讀取的電平值與該P(yáng)IN腳所連接的輸出狀態(tài)的PIN腳的輸出電平值是否一致，如果一致，則所述相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好；如果不一致，則所述相連接的一對PIN腳與主芯片的連接異常；

所述主芯片控制所述各輸出狀態(tài)的PIN腳分別輸出一個(gè)高或低電平的步驟中，如果所述各輸出狀態(tài)的PIN腳在與主芯片相連的一端相鄰，則控制所述相鄰的PIN腳輸出高低錯(cuò)開的電平；

對于不可復(fù)用為輸入輸出口的LCD接口，在模塊主芯片的CPU的LCD功能單元中置入第一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，所述CPU將該第一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)以高低電平的形式輸出到LCD接口與主芯片連接的各PIN腳上；

所述CPU分別讀取各PIN腳上的電平值；

比較從各PIN腳上讀取的電平值與輸出到該P(yáng)IN腳的電平值是否一致，如果一致，則該P(yáng)IN腳與主芯片的連接良好；如果不一致，則該P(yáng)IN腳與主芯片的連接異常；

所述第一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)在各相鄰PIN腳上所對應(yīng)的電平值高低錯(cuò)開，所述相鄰PIN腳為所述LCD接口中與主芯片相連的一端相鄰的PIN腳；

對于不可復(fù)用為輸入輸出口的LCD接口，在所述LCD功能單元中置入第二預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，所述CPU將所述第二預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)以高低電平的形式輸出到所述LCD接口中與主芯片連接的各PIN腳上；所述CPU分別讀取各PIN腳上的電平值；

比較從各PIN腳上讀取的電平值與輸出到該P(yáng)IN腳的電平值是否一致，如果一致，則該P(yáng)IN腳與主芯片的連接良好；如果不一致，則該P(yáng)IN腳與主芯片的連接異常；

所述在LCD功能單元中置入第二預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)的步驟中，所述第二預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)在各PIN腳上所對應(yīng)的高低電平值與所述第一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相反；

所述第二預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)在各相鄰PIN腳上所對應(yīng)的電平值高低錯(cuò)開。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模塊的LCD接口的PIN腳測試方法，其特征在于，在判定所述相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好之前，還包含以下步驟：

所述主芯片控制各輸出狀態(tài)的PIN腳再次輸出一個(gè)高或低電平，所輸出的電平值與前一次相反；

所述主芯片讀取所述各輸入狀態(tài)的PIN腳上的電平值，比較所讀取的電平值與該P(yáng)IN腳所連接的輸出狀態(tài)的PIN腳的輸出電平值是否一致，如果一致，則所述相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好；如果不一致，則所述相連接的一對PIN腳與主芯片的連接異常。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模塊的LCD接口的PIN腳測試方法，其特征在于，在判定所述相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好之前，還包含以下步驟：

將所述相連接的各對PIN腳的輸入輸出狀態(tài)交換，所述主芯片控制所述各輸出狀態(tài)的PIN腳分別輸出一個(gè)高或低電平；

所述主芯片讀取所述各輸入狀態(tài)的PIN腳上的電平值，比較所讀取的電平值與該P(yáng)IN腳所連接的輸出狀態(tài)的PIN腳的輸出電平值是否一致，如果一致，則所述相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好；如果不一致，則所述相連接的一對PIN腳與主芯片的連接異常。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的模塊的LCD接口的PIN腳測試方法，其特征在于，在判定所述相連接的一對PIN腳與主芯片連接良好之前，還包含以下步驟：

對于輸入輸出狀態(tài)交換后的各對PIN腳，所述主芯片控制各輸出狀態(tài)的PIN腳再次輸出一個(gè)高或低電平，所輸出的電平值與前一次相反；

所述主芯片讀取所述各輸入狀態(tài)的PIN腳上的電平值，比較所讀取的電平值與該P(yáng)IN腳所連接的輸出狀態(tài)的PIN腳的輸出電平值是否一致，如果一致，則所述相連接的一對PIN腳與主芯片的連接良好；如果不一致，則所述相連接的一對PIN腳與主芯片的連接異常。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任意一項(xiàng)所述的模塊的LCD接口的PIN腳測試方法，其特征在于，如果所述LCD接口的PIN腳在與主芯片相連的一端，與至少兩個(gè)PIN腳相鄰，則依次將該P(yáng)IN腳與所述相鄰的PIN腳連接，分別進(jìn)行所述測試。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模塊的LCD接口的PIN腳測試方法，其特征在于，所述CPU分別讀取各PIN腳上的電平值的步驟中，所述CPU通過模/數(shù)轉(zhuǎn)換功能讀取各PIN腳上的電平值。