[發(fā)明專利]雙面晶體管動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的方法與雙面晶體管結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110425198.4 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102683211A | 公開(公告)日: | 2012-09-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沃納·鄭林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南亞科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/336 | 分類號(hào): | H01L21/336;H01L21/8242;H01L29/73 |
| 代理公司: | 深圳新創(chuàng)友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀純 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 雙面 晶體管 動(dòng)態(tài) 隨機(jī)存取存儲(chǔ)器 方法 結(jié)構(gòu) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器單元,特別涉及具有雙面晶體管動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的方法與雙面晶體管結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
元件尺寸微形化(miniaturization)是現(xiàn)在半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域中的趨勢,因而誕生了高密度的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器單元(Dynamic?Random?AccessMemory?cell,DRAM?cell),能夠在較小面積中容納較多數(shù)量的字線(word?line)與比特線(bit?line),進(jìn)而產(chǎn)生較快的運(yùn)算速度。
然而,正因?yàn)榘雽?dǎo)體元件的尺寸不斷微型化,造成動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器單元彼此的間距也更為緊密,往往會(huì)導(dǎo)致非常強(qiáng)的字線-字線耦合效應(yīng)(wordline-word?line?coupling),增加了耦合噪聲,造成數(shù)據(jù)存取錯(cuò)誤。因此,本發(fā)明的目的之一在于提供一種可避免上述問題的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器單元。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種雙面晶體管動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的方法與雙面晶體管結(jié)構(gòu),其可避免非常強(qiáng)的字線-字線耦合效應(yīng)。所述結(jié)構(gòu)提供多個(gè)可彼此耦接的左側(cè)門極與右側(cè)門極,因此在字線中提供局部連接(localconnection),并且降低一硅晶圓(silicon?wafer)中字線的電阻值。
為了達(dá)到上述的目的,本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,其提供一種雙面晶體管動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的方法,包含有:提供一硅鰭式場效晶體管結(jié)構(gòu)(silicon?Fin?Field?Effect?Transistorstructure,silicon?FinFET?structure),其具有至少兩個(gè)鰭片和位于所述兩個(gè)鰭片之間的一溝槽;在每一鰭片的兩側(cè)形成多個(gè)高電阻門極;在每一對(duì)高電阻門極之間形成一孔洞以使所述每對(duì)高電阻門極互相連接;在所述溝槽的一側(cè)和所述每對(duì)高電阻門極之中一高電阻門極的下方形成一門極;形成一氧化層以覆蓋所述門極;和沉積一厚金屬層于所述溝槽中以形成一字線。
依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,其還提供一種雙面晶體管結(jié)構(gòu),包含有:至少兩個(gè)鰭片,具有一溝槽位于所述兩個(gè)鰭片之間;一對(duì)高電阻門極,形成于每一鰭片的兩側(cè),其中所述每對(duì)高電阻門極通過一孔洞互相電性連接;一門極,形成于所述溝槽的一側(cè)和所述每對(duì)高電阻門極的一高電阻門極的下方;和一低電阻字線,形成于所述門極下方。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于鰭式場效晶體管導(dǎo)通速度與驅(qū)動(dòng)電流量比現(xiàn)有技術(shù)中的單面(one-sided)晶體管有很多的優(yōu)勢,故可避免非常強(qiáng)的字線一字線耦合效應(yīng)。
附圖說明
圖1為本發(fā)明一實(shí)施例中的一動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的X軸方向的截面與Y軸方向的截面的示意圖。
其中,附圖標(biāo)記說明如下:
103????????????????????高電阻門極
105????????????????????門極
107?????????????????????低電阻字線
109、111????????????????孔洞
113?????????????????????硅柱
具體實(shí)施方式
由于典型的字線具有高電阻,所以容易產(chǎn)生交差耦合(cross-coupling)的情形,為了解決此問題,本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了埋入式低電阻字線(buried?low?ohmicword?line),并且耦合一鰭式場效晶體管中一鰭片的左側(cè)門極與右側(cè)門極實(shí)現(xiàn)一雙面(two-sided)晶體管,而此種晶體管結(jié)構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)在于其導(dǎo)通速度與驅(qū)動(dòng)電流量比現(xiàn)有技術(shù)中的單面(one-sided)晶體管有很多的優(yōu)勢。
傳統(tǒng)的鰭式場效晶體管結(jié)構(gòu)包含多個(gè)硅鰭片,其中所述多個(gè)硅鰭片的每一硅鰭片的任一側(cè)都具有一門極,且兩側(cè)的這些門極彼此之間是獨(dú)立工作,故需要狹小且具有高電阻的字線,但會(huì)因此導(dǎo)致非常強(qiáng)的字線一字線耦合效應(yīng)。為了要避免上述問題出現(xiàn),本發(fā)明的目的之一在于實(shí)現(xiàn)可連同雙面晶體管一起操作的低電阻字線。
請(qǐng)參閱圖1,圖1為本發(fā)明的一實(shí)施例中一動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器布局(layout)的示意圖。如圖所示,左方為所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器布局的Y軸方向的截面,而右方則為供左方參照用的所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器布局的X軸方向的截面。X軸方向的截面與一標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器十字線單元(crosshair?cell)唯一不同之處僅在于溝槽的底部有一孔洞,使得所述多個(gè)門極能夠穿越鰭式場效晶體管結(jié)構(gòu)而彼此耦接。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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