[發明專利]測量觸摸屏上導電膜的方法

無效

• 申請號: 201110422251.5
• 申請日: 2011-12-16
• 公開（公告）號: CN102564288A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 楊世光
• 申請（專利權）人: 東莞中逸電子有限公司
• 主分類號: G01B7/06
• 分類號: G01B7/06;G01N27/20
• 代理公司: 廈門市新華專利商標代理有限公司 35203
• 代理人: 彭長久

技術領域

本發明涉及觸摸屏制作領域技術，尤其是指一種觸摸屏制程中測量觸摸屏上導電膜之均勻度和厚度的方法。

背景技術

在觸摸屏制程中，在玻璃上涂覆導電膜后，若不進行良率測試，則只有至觸摸屏成品階段測試才進行良率測試，一旦出現不良品，則需要銷毀整個觸摸屏，極為浪費。再者，目前市面上導電膜電阻的測量主要采用光學的方法量測薄膜厚度，而這種設備成本較高，量測時間較長。

發明內容

本發明主要目的是提供一種測量觸摸屏上導電膜的方法，以解決前述現有技術測量方法所存在的成本高和時間長的問題。

為實現上述目的，本發明采用如下之技術方案：

一種測量觸摸屏上導電膜的方法，包括如下步驟：

a）預設不同面電阻值所對應的膜厚度值；

b）利用陣列排列的探針于導電膜上采集n?個電阻值，各電阻值分別為相鄰兩探針之間的電阻值，形成電阻值集合；

c）摒棄邊緣區域之控針的的電阻值；

d）在非邊緣區的電阻值中任選至少三個相鄰探針的電阻值，計算出該所選之電阻值形成的面電阻值，依該方法重復對前述非邊緣區的其它電阻值進行選擇計算，獲得?m?個面電阻值；

e）比較上述?m?個面電阻值，若各個面電阻值的差值在闕值范圍內，則視為導電膜的厚度為均勻，否則為不均勻；

f）將上述?m?個面電阻值進行優化計算，獲得面電阻值的平均值并依前述步驟a)的預設找出對應的膜厚度值，完成導電膜厚度的測量。

優選的，于前述步驟d)中，所選擇的電阻值為正方形的四個相鄰探針的電阻值。

本發明與現有技術相比具有明顯的優點和有益效果，具體而言，由上述技術方案可知，其采用量測面電阻值的方法來判定薄膜的均勻度與厚度，此種測量方法簡單、方便、時間短、效率高；并且，采用本發明的測量方法完全可以在玻璃涂覆導電膜后即進行不良率測試，若出現不良品，則只需在玻璃上洗去導電膜即可，大大降低了生產成本。

為更清楚地闡述本發明的結構特征和功效，下面結合附圖與具體實施例來對本發明進行詳細說明。

附圖說明

圖1是本發明之實施例中電阻值集合的排布示意圖。

具體實施方式

請參照圖1所示，詳細說明本發明的測量觸摸屏上導電膜的方法，其包括如下步驟：

a）預設不同面電阻值所對應的膜厚度值，例如面電阻值m1所對應的膜厚度值為h1，面電阻值m2所對應的膜厚度值為h2等；

b）利用陣列排列的探針于導電膜上采集n?個電阻值，各電阻值分別為相鄰兩探針之間的電阻值，形成電阻值集合K，如圖1中的電阻值a1、a2……，電阻值b1、b2……，……電阻值f1、f2……；

c）摒棄邊緣區域之控針的的電阻值，如圖1中的電阻值a1、a2……等；

d）在非邊緣區的電阻值中任選至少三個相鄰探針的電阻值（其中以正方形的四個面電阻值為最佳），計算出所選之電阻值所形成的面電阻值?R，并依該方法重復對前述非邊緣區的所有電阻值進行選擇計算，獲得?m?個面電阻值R1、R2……；

e）比較上述?m?個面電阻值R1、R2……，若各個面電阻值的差值在闕值范圍內，則視為導電膜的厚度為均勻，否則為不均勻；其中闕值范圍大小可以依需要而設置；

f）將上述?m?個面電阻值R1、R2……進行優化計算，獲得面電阻值的平均值并依前述步驟a)的預設找出對應的膜厚度值h，完成導電膜厚度的測量。

綜合而言，本發明重點在于采用量測面電阻值的方法來判定薄膜的均勻度與厚度，其測量方法簡單、方便、時間短、效率高；并且，采用本發明的測量方法完全可以在玻璃涂覆導電膜后即進行不良率測試，若出現不良品，則只需在玻璃上洗去導電膜即可，大大降低了生產成本。

以上所述，僅是本發明的較佳實施例而已，并非對本發明的技術范圍作任何限制，故凡是依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何細微修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發明技術方案的范圍內。