[發明專利]測量觸摸屏上導電膜的方法無效
| 申請號： | 201110422251.5 | 申請日： | 2011-12-16 |
| 公開（公告）號： | CN102564288A | 公開（公告）日： | 2012-07-11 |
| 發明（設計）人： | 楊世光 | 申請（專利權）人： | 東莞中逸電子有限公司 |
| 主分類號： | G01B7/06 | 分類號： | G01B7/06;G01N27/20 |
| 代理公司： | 廈門市新華專利商標代理有限公司 35203 | 代理人： | 彭長久 |
| 地址： | 523000 廣東省東莞市黃江鎮*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測量 觸摸屏 導電 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種測量觸摸屏上導電膜的方法，其特征在于：包括如下步驟：
a）預設不同面電阻值所對應的膜厚度值；
b）利用陣列排列的探針于導電膜上采集n?個電阻值，各電阻值分別為相鄰兩探針之間的電阻值，形成電阻值集合；
c）摒棄邊緣區域之控針的的電阻值；
d）在非邊緣區的電阻值中任選至少三個相鄰探針的電阻值，計算出該所選之電阻值形成的面電阻值，依該方法重復對前述非邊緣區的其它電阻值進行選擇計算，獲得?m?個面電阻值；
e）比較上述?m?個面電阻值，若各個面電阻值的差值在闕值范圍內，則視為導電膜的厚度為均勻，否則為不均勻；
f）將上述?m?個面電阻值進行優化計算，獲得面電阻值的平均值并依前述步驟a)的預設找出對應的膜厚度值，完成導電膜厚度的測量。
2.根據權利要求1所述的測量觸摸屏上導電膜的方法，其特征在于：于前述步驟d)中，所選擇的電阻值為正方形的四個相鄰探針的電阻值。
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