[發明專利]一種LDMOS的等效電路有效
| 申請號: | 201110421649.7 | 申請日: | 2011-12-15 |
| 公開(公告)號: | CN102497185A | 公開(公告)日: | 2012-06-13 |
| 發明(設計)人: | 姜艷;胡林輝 | 申請(專利權)人: | 上海新進半導體制造有限公司 |
| 主分類號: | H03K17/687 | 分類號: | H03K17/687 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯長明;王寶筠 |
| 地址: | 200241 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 ldmos 等效電路 | ||
技術領域
本發明涉及電路領域,尤其涉及一種LDMOS(Laterally?Diffused?Metal?Oxide?Semiconductor,橫向擴散金屬氧化物半導體)的等效電路。
背景技術
LDMOS與其他晶體管相比,在關鍵的器件特性方面,如增益、線性度、開關性能、散熱性能以及減少級數等方面優勢明顯,因此,大量應用于各種高功率開關電路中。
由于LDMOS是一個固有的器件,本身電學特性復雜,因此,在電路設計過程中使用LDMOS時,往往很難對設計得到的電路進行準確的判斷和評價。即便通過仿真對電路進行判斷,由于LDMOS電學特性復雜,很難對設計得到的電路進行準確的判斷和評價,電路的仿真結果并不準確。
因此,在現有技術中使用LDMOS進行開關電路設計時,設計得到的電路難以評價。
發明內容
有鑒于此,本發明要解決的技術問題是,提供一種LDMOS的等效電路,能夠在仿真中作為LDMOS的等效電路,提高包含LDMOS的電路的仿真精度。
為此,本發明實施例采用如下技術方案:
本發明實施例提供一種LDMOS等效電路,包括:
可變電容的第一端連接場效應管的柵極,可變電容的第二端連接場效應管的漏極;場效應管的柵極與可變電容第一端的連接點作為LDMOS等效電路的柵極,場效應管的漏極與可變電容第二端的連接點連接LDMOS等效電路的漏極,場效應管的源極作為LDMOS等效電路的源極。
其中,場效應管的漏極與可變電容第二端的連接點,該連接點與LDMOS等效電路的漏極之間串接電阻。
所述電阻的電學模型為:
Rd=rd0*(1+pvc*abs(v(d,di)))*(1+pvb*abs(v(d,di)))/((w+wa)*1e6)*(1+ptc*dtemp);
其中,rd0表示LDMOS漏極在溫度為27℃下單位寬度電阻;pvc表示LDMOS漏極電阻的漏源電壓系數;pvb表示LDMOS漏極電阻的襯偏電壓系數;wa表示窄溝調節參數;ptc表示LDMOS漏端電阻溫度系數;w表示LDMOS的溝道寬度;v(d,di)表示電阻兩端的電壓。
還包括:
LDMOS等效電路的漏極連接第一二極管的陰極,第一二極管的陽極接地。
場效應管的漏極連接第二二極管的陰極,第二二極管的陽極連接場效應管的源極。
所述可變電容的電學模型為:
可變電容Cgd=(c0/(pwr((1-(min(0,v(s,d)))/vj),mj)))*w
其中,c0表示LDMOS等效電路所對應LDMOS的漏極和源極間電壓差為0時,柵極到漏極單位寬度的交疊電容;vj表示LDMOS的內建電勢;mj表示電容指數系數;v(s,d)表示LDMOS的源極和漏極之間的電壓;w表示LDMOS的溝道寬度;pwr是冪指數函數。
對于上述技術方案的技術效果分析如下:
可變電容的第一端連接場效應管的柵極,可變電容的第二端連接場效應管的漏極;場效應管的柵極與可變電容第一端的連接點作為LDMOS等效電路的柵極,場效應管的漏極與可變電容第二端的連接點連接LDMOS等效電路的漏極,場效應管的源極作為LDMOS等效電路的源極。通過可變電容表征LDMOS柵極和漏極之間的電容,從而能夠在仿真中作為LDMOS的等效電路,提高包含LDMOS的電路的仿真精度。
附圖說明
圖1為本發明實施例第一種LDMOS等效電路結構示意圖;
圖2為本發明實施例第二種LDMOS等效電路結構示意圖;
圖3為本發明實施例第三種LDMOS等效電路結構示意圖;
圖4為本發明實施例第四種LDMOS等效電路結構示意圖;
圖5為本發明實施例LDMOS等效電路仿真結構示意圖。
具體實施方式
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