[發明專利]圖案編碼懸浮陣列芯片的檢測方法有效
| 申請號： | 201110408013.9 | 申請日： | 2011-12-09 |
| 公開（公告）號： | CN102520171A | 公開（公告）日： | 2012-06-27 |
| 發明（設計）人： | 張繼中 | 申請（專利權）人： | 東南大學 |
| 主分類號： | G01N33/569 | 分類號： | G01N33/569;C12Q1/70;C12Q1/68;C12R1/93 |
| 代理公司： | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 210096*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 圖案 編碼 懸浮 陣列 芯片 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種圖案編碼懸浮陣列芯片的檢測方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：
a、在檢測基底上構筑能夠固定圖案編碼微載體的微坑陣列；?
b、將需要檢測的圖案編碼微載體以一個微坑固定一個圖案編碼微載體的方式固定在檢測基底上的微坑陣列中；?
c、通過成像技術對在檢測基底上微坑陣列中形成的圖案編碼微載體陣列成像以進行檢測。
2.根據權利要求1所述圖案編碼懸浮陣列芯片的檢測方法，其特征在于，檢測基底上的微坑陣列是根據微載體形狀通過刻蝕技術或者模板復制技術制作的微坑陣列。
3.?根據權利要求1所述圖案編碼懸浮陣列芯片的檢測方法，其特征在于，所述將需要檢測的圖案編碼微載體以一個微坑固定一個圖案編碼微載體方式固定在微坑陣列中是指通過作用力將圖案編碼微載體固定至微坑陣列中。
4.?根據權利要求1所述圖案編碼懸浮陣列芯片的檢測方法，其特征在于，所述成像技術是指采用包括光學顯微鏡、熒光顯微鏡、紅外顯微鏡、拉曼顯微鏡、掃描儀、照相機在內的成像設備對圖案編碼微載體陣列進行成像。
5.根據權利要求1所述圖案編碼懸浮陣列芯片的檢測方法其特征在于，所述需要檢測的圖案編碼微載體是指固定有傳感敏感材料的圖案編碼微載體完成包括與待測樣品的作用在內的信號提取前的所有步驟進行信號提取的圖案編碼微載體。
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