[發明專利]光學相干斷層圖像攝像方法和設備

有效

• 申請號: 201110397461.3
• 申請日: 2011-11-30
• 公開（公告）號: CN102599882A
• 公開（公告）日: 2012-07-25
• 發明（設計）人: 末平信人;松本和浩;戶松宣博
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: A61B3/14
• 分類號: A61B3/14
• 代理公司: 北京魏啟學律師事務所 11398
• 代理人: 魏啟學

技術領域

本發明涉及光學相干斷層圖像攝像方法和光學相干斷層圖像攝像設備，更具體地，涉及一種用于眼科診療的光學相干斷層圖像攝像方法和光學相干斷層圖像攝像設備。

背景技術

目前，使用利用光學儀器的各種眼科設備。光學儀器的例子包括前眼部拍攝裝置、眼底照相機以及共焦掃描激光檢眼鏡(SLO)。其中，使用利用低相干光的光學相干斷層成像(OCT)的光學相干斷層圖像攝像設備是能夠利用高分辨率獲取被檢眼的斷層圖像的設備，并由此在視網膜專門門診治療中成為作為眼科設備的必不可少的設備。以下，將該設備稱為OCT設備。

日本特開2009-279031中說明的眼底觀察設備包括眼底照相機單元、OCT單元和計算控制器。眼底照相機獲取眼底的二維圖像，并且OCT單元獲取眼底的斷層圖像。此外，可以通過指定眼底的特征部分并改變測量光的照射位置來進行測量。然后，可以形成眼底的斷層圖像和三維圖像。

發明內容

根據本發明的第一方面，提供一種光學相干斷層圖像攝像方法，用于基于來自經由物鏡利用測量光照射的被檢眼的返回光和與所述測量光相對應的參考光的合成光來獲取所述被檢眼的斷層圖像，所述光學相干斷層圖像攝像方法包括以下步驟：獲取與所述被檢眼的第一斷層圖像相對應的、所述被檢眼和所述物鏡之間的第一距離；以及將所述第一斷層圖像校正為與所述被檢眼和所述物鏡之間的第二距離相對應的第二斷層圖像，其中所述第二距離與所述第一距離不同。

如果作為被檢眼和物鏡之間的間隔的工作距離不同，則斷層圖像中視網膜的形狀也不同。根據本發明的第一方面，可以減小由于工作距離的不同引起的斷層圖像中視網膜的形狀差異。因此，可以提供用于觀察眼球形狀隨時間的變化等的斷層圖像。

此外，根據本發明的第二方面，提供一種光學相干斷層圖像攝像方法，用于通過調整被檢眼和物鏡之間的距離、并基于參考光和來自所述被檢眼的返回光的合成光來獲取所述被檢眼的斷層圖像，其中，通過利用測量光照射所述被檢眼來獲得所述返回光，所述光學相干斷層圖像攝像方法包括以下步驟：測量所述被檢眼和所述物鏡之間的距離；以及通過使用所述距離來計算所述被檢眼的斷層圖像中的預定區域的曲率。

如果作為被檢眼和物鏡之間的間隔的工作距離不同，則斷層圖像中視網膜的形狀也不同。根據本發明的第二方面，可以減小由于工作距離的不同引起的斷層圖像中視網膜的形狀差異。因此，可以定量地測量諸如視網膜的曲率等的眼睛的形狀。

根據本發明的其它方面，一種光學相干斷層圖像攝像設備，用于基于來自經由物鏡利用測量光照射的被檢眼的返回光和與所述測量光相對應的參考光的合成光來獲取所述被檢眼的斷層圖像，所述光學相干斷層圖像攝像設備包括：獲取單元，用于獲取與所述被檢眼的第一斷層圖像相對應的、所述被檢眼和所述物鏡之間的第一距離；以及校正單元，用于將所述第一斷層圖像校正為與所述被檢眼和所述物鏡之間的第二距離相對應的第二斷層圖像，其中所述第二距離與所述第一距離不同。

根據本發明的其它方面，一種光學相干斷層圖像攝像設備，用于基于來自經由物鏡利用測量光照射的被檢眼的返回光和與所述測量光相對應的參考光的合成光來獲取所述被檢眼的視網膜的斷層圖像，所述光學相干斷層圖像攝像設備包括：獲取單元，用于獲取與所述斷層圖像相對應的、所述被檢眼和所述物鏡之間的距離；以及計算單元，用于基于所述距離來計算所述斷層圖像中的視網膜的曲率。

通過以下參考附圖對典型實施例的說明，本發明的其它特征將變得明顯。

附圖說明

圖1是示出OCT設備的圖。

圖2A、2B和2C是示出工作距離和掃描半徑的圖。

圖3是示出工作距離和轉動中心與視網膜之間的距離之間的關系的圖。

圖4是示出由于工作距離的變化引起的斷層圖像和二維圖像的變化的圖。

圖5A、5B和5C是示出由于工作距離的變化引起的前眼部觀察的變化的圖。

圖6是示出本發明第一實施例中的信號處理的過程的圖。

圖7A和7B是校正量的概念圖。

圖8是示出本發明第二實施例中的信號處理的過程的圖。

圖9A和9B是示出坐標轉換的圖。

圖10A和10B是示出本發明第三實施例中的曲率的計算的圖。

具體實施方式

以下參考附圖詳細說明本發明的實施例。

第一實施例

圖1是示出根據本發明第一實施例的光學相干斷層圖像攝像設備的結構的圖。