[發明專利]光學相干斷層圖像攝像方法和設備

有效

• 申請號: 201110397461.3
• 申請日: 2011-11-30
• 公開（公告）號: CN102599882A
• 公開（公告）日: 2012-07-25
• 發明（設計）人: 末平信人;松本和浩;戶松宣博
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: A61B3/14
• 分類號: A61B3/14
• 代理公司: 北京魏啟學律師事務所 11398
• 代理人: 魏啟學

1.一種光學相干斷層圖像攝像方法，用于基于來自經由物鏡利用測量光照射的被檢眼的返回光和與所述測量光相對應的參考光的合成光來獲取所述被檢眼的斷層圖像，所述光學相干斷層圖像攝像方法包括以下步驟：

獲取與所述被檢眼的第一斷層圖像相對應的、所述被檢眼和所述物鏡之間的第一距離；以及

將所述第一斷層圖像校正為與所述被檢眼和所述物鏡之間的第二距離相對應的第二斷層圖像，其中所述第二距離與所述第一距離不同。

2.根據權利要求1所述的光學相干斷層圖像攝像方法，其特征在于，還包括基于所述第一距離來計算針對所述第一斷層圖像的多個線數據中的各個線數據的校正量，

其中，通過使用所述第一距離、在所述測量光掃描所述被檢眼的視網膜時從所述視網膜觀看的掃描轉動中心和所述視網膜之間的距離、在所述測量光掃描時從所述視網膜觀看的掃描角以及由所述參考光的光路長度所確定的相干門位置，計算所述校正量。

3.根據權利要求2所述的光學相干斷層圖像攝像方法，其特征在于，還包括校正用于掃描所述測量光的兩個掃描器的轉動中心之間的位置差異，所述兩個掃描器的轉動中心是不同的轉動中心。

4.根據權利要求1所述的光學相干斷層圖像攝像方法，其特征在于，測量所述被檢眼的視網膜的曲率，并且當所述曲率大于預定值時，縮短所述第一距離以獲得所述第一斷層圖像。

5.一種光學相干斷層圖像攝像方法，用于通過調整被檢眼和物鏡之間的距離、并基于參考光和來自所述被檢眼的返回光的合成光來獲取所述被檢眼的斷層圖像，其中，通過利用測量光照射所述被檢眼來獲得所述返回光，所述光學相干斷層圖像攝像方法包括以下步驟：

測量所述被檢眼和所述物鏡之間的距離；以及

通過使用所述距離來計算所述被檢眼的斷層圖像中的預定區域的曲率。

6.根據權利要求5所述的光學相干斷層圖像攝像方法，其特征在于，所述預定區域包括脈絡膜、色素上皮層、內節和外節的接合面、外界膜、外核層、外叢狀層、內核層、內叢狀層、神經節細胞層、神經纖維層以及這些層之間的邊界。

7.根據權利要求5所述的光學相干斷層圖像攝像方法，其特征在于，計算所述曲率的步驟包括：通過使用所述測量光的掃描轉動中心和視網膜之間的距離、掃描角、由所述參考光的光路長度所確定的相干門位置、所述斷層圖像上的坐標以及所述斷層圖像的深度方向上的分辨率來計算所述曲率。

8.根據權利要求7所述的光學相干斷層圖像攝像方法，其特征在于，還包括設置用于掃描所述測量光的具有不同轉動中心的兩個掃描器，

其中，計算所述曲率的步驟包括在計算所述曲率之前校正所述兩個掃描器的轉動中心之間的位置差異。

9.根據權利要求5所述的光學相干斷層圖像攝像方法，其特征在于，通過使用包括至少由所述斷層圖像中的具有相同深度的兩個點及其垂直二等分線上的一個點構成的三角形的底邊和高、以及由所述參考光的光路長度所確定的相干門位置的信息，計算所述曲率。

10.根據權利要求5所述的光學相干斷層圖像攝像方法，其特征在于，還包括控制顯示單元以在所述斷層圖像上顯示基于所述曲率確定的曲線。

11.根據權利要求5所述的光學相干斷層圖像攝像方法，其特征在于，還包括控制顯示單元以將針對所述斷層圖像的多個區域計算出的曲率顯示為映射。

12.一種光學相干斷層圖像攝像設備，用于基于來自經由物鏡利用測量光照射的被檢眼的返回光和與所述測量光相對應的參考光的合成光來獲取所述被檢眼的斷層圖像，所述光學相干斷層圖像攝像設備包括：

獲取單元，用于獲取與所述被檢眼的第一斷層圖像相對應的、所述被檢眼和所述物鏡之間的第一距離；以及

校正單元，用于將所述第一斷層圖像校正為與所述被檢眼和所述物鏡之間的第二距離相對應的第二斷層圖像，其中所述第二距離與所述第一距離不同。

13.根據權利要求12所述的光學相干斷層圖像攝像設備，其特征在于，還包括分光計，所述分光計用于獲取用于生成所述斷層圖像的多個線數據并將所述多個線數據發送至所述校正單元。

14.根據權利要求12所述的光學相干斷層圖像攝像設備，其特征在于，還包括用于移動所述物鏡以調整所述第一距離的單元。