[發明專利]一種獲得電磁響應曲線特征參數的方法及其裝置

有效

• 申請號: 201110390851.8
• 申請日: 2011-11-30
• 公開（公告）號: CN103136397A
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發明（設計）人: 劉若鵬;季春霖;劉斌;牛攀峰;張建
• 申請（專利權）人: 深圳光啟高等理工研究院
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50;G06F17/10
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何青瓦

技術領域

本發明涉及超材料領域，特別是涉及一種獲得人工電磁材料單元結構的電磁響應曲線特征參數的方法及其裝置。

背景技術

針對人工電磁材料的標準化、自動化設計方案是目前國際上一個亟需解決的難題。而針對人工電磁材料結構單元的電磁特性測量是人工電磁材料設計過程中不可或缺的一個重要環節。

目前對人工電磁材料的研究和設計尚停留在憑經驗手工調節和設計的階段，缺乏標準化的設計流程，無法進行大規模設計和產業化應用。

因此，有必要提供一種獲得人工電磁材料單元結構的電磁響應曲線特征參數的方法及其裝置，有效地解決上述存在的問題。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是提供一種獲得人工電磁材料單元結構的電磁響應曲線特征參數的方法及其裝置，能夠使人工電磁材料的研究處于標準化的設計流程，以方便進行大規模設計和產業化應用。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種獲得人工電磁材料單元結構的電磁響應曲線特征參數的方法，包括：建立用于描述所述電磁材料單元結構幾何參數與電磁響應曲線特征參數之間對應關系的高斯混合模型；根據所述建立的高斯混合模型，確定待測量電磁材料單元結構幾何參數所對應的電磁響應曲線特征參數。

其中，所述確定待測量電磁材料單元結構幾何參數所對應的電磁響應曲線特征參數的步驟包括：通過插值的方法確定待測量電磁材料單元結構幾何參數所對應的電磁響應曲線特征參數。

其中，所述高斯混合模型建立的步驟包括：

建立由K個高斯分布組成的高斯混合模型，每個高斯分布稱為一個組分，所述K個組分線性加成在一起組成了高斯混合模型的概率密度函數：

p(x)=Σk=1Kp(k)p(x|k)=Σk=1KπkN(x|μk,Σk)---(1)]]>

其中，K是正整數；

利用最大似然估計來確定所述參數π_k、μ_k及∑_k，其中所述高斯混合模型的似然函數為：