[發明專利]一種獲得電磁響應曲線特征參數的方法及其裝置有效
| 申請號： | 201110390851.8 | 申請日： | 2011-11-30 |
| 公開（公告）號： | CN103136397A | 公開（公告）日： | 2013-06-05 |
| 發明（設計）人： | 劉若鵬;季春霖;劉斌;牛攀峰;張建 | 申請（專利權）人： | 深圳光啟高等理工研究院 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50;G06F17/10 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何青瓦 |
| 地址： | 518057 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 獲得 電磁 響應 曲線 特征 參數 方法 及其 裝置 | ||
1.一種獲得人工電磁材料單元結構的電磁響應曲線特征參數的方法，其特征在于，包括：
建立用于描述所述電磁材料單元結構幾何參數與電磁響應曲線特征參數之間對應關系的高斯混合模型；
根據所述建立的高斯混合模型，確定待測量電磁材料單元結構幾何參數所對應的電磁響應曲線特征參數。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
所述確定待測量電磁材料單元結構幾何參數所對應的電磁響應曲線特征參數的步驟包括：通過插值的方法確定待測量電磁材料單元結構幾何參數所對應的電磁響應曲線特征參數。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
所述高斯混合模型建立的步驟包括：
建立由K個高斯分布組成的高斯混合模型，每個高斯分布稱為一個組分，所述K個組分線性加成在一起組成了高斯混合模型的概率密度函數：
其中，K是正整數；
利用最大似然估計來確定所述參數πk、μk及∑k，其中所述高斯混合模型的似然函數為：
利用期望最大值算法，分布迭代地求得所述高斯混合模型似然函數的最大值，并獲得在所述最大值時所述參數πk、μk及∑k的值，將所述參數的值代入(1)式，即得到高斯混合模型的概率密度函數。
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