[發明專利]放射線檢測器、其制造方法和放射線攝影圖像拍攝設備

有效

• 申請號: 201110387989.2
• 申請日: 2011-11-29
• 公開（公告）號: CN102551758A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 成行書史;阿賀野俊孝;大田恭義;中津川晴康
• 申請（專利權）人: 富士膠片株式會社
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;黃綸偉

技術領域

本發明涉及放射線(radiation)檢測器，該放射線檢測器具有用于將放射線轉換為可見光的閃爍體和用于將可見光轉換為電信號的光電二極管，以及放射線檢測器的制造方法，以及包括放射線檢測器的放射線攝影圖像拍攝設備。

背景技術

在醫療領域，慣常從放射線源向受檢者施加放射線并且用放射線攝影圖像拍攝設備來檢測透過受檢者的放射線，由此拍攝受檢者的放射線攝影圖像。放射線攝影圖像拍攝設備包括：閃爍體，用于將透過受檢者的放射線轉換為可見光；和放射線檢測器，其具有光電檢測器基板，該光電檢測器基板包括用于將可見光轉換為電荷的光電二極管。受檢者的放射線攝影圖像是基于光電二極管產生的電荷而產生的。

發明內容

上述類型的放射線攝影圖像可能存在所謂的贗像，這種贗像隨著溫度升高而出現。人們認為這種贗像在放射線攝影圖像中增強，因為由于溫度升高構成放射線檢測器中包括的像素和信號處理電路的半導體的特征趨于變化，如日本專利特開No.2007-222604中公開的。本發明的申請人進行的研究表明，即使當溫度升高，如果放射線檢測器中的圖像拍攝區域中的溫度分布的偏差(即，放射線檢測器中的每個位置的溫度差)很小，那么也不會發生顯著的問題，但是如果溫度分布發生了大的偏差，則可能相對容易出現贗像。尤其是在半導體的靈敏度隨著溫度變化時這種趨勢就會顯露出來。

如果在實際健康的身體區域的圖像中出現贗像，則該贗像可能造成觀察者錯誤地將該身體區域識別為患病區，因此贗像可能降低基于圖像的診斷準確度。

之前進行了各種嘗試來防止放射線攝影圖像中出現贗像。例如，日本特開No.2007-222604公開了一種包括熱輻射器的放射線攝影圖像拍攝設備，該熱輻射器釋放由放射線檢測器產生的熱，以便由此防止溫度增加。

日本特開No.63-243782公開了一種鑒于閃爍體的溫度的變化所造成增益變化，基于放射線檢測器檢測放射線數據時的溫度來校正由放射線檢測器獲得的放射線數據的技術。

在日本特開No.2007-222604中公開的放射線攝影圖像拍攝設備要求熱輻射器。因此，所公開的放射線攝影圖像拍攝設備所包括的部件的數量較多、結構復雜、重量大并且制造成本高。

熱輻射器可降低放射線攝影圖像拍攝設備中的最大溫度。然而，熱輻射器趨于造成在從熱輻射器隔開因而很難從其輻射熱的區域和接近熱輻射器因而容易輻射熱的區域之間的溫度差。這種溫度差，或者說放射線攝影圖像拍攝設備的溫度分布的偏差易于產生被放射線攝影圖像拍攝設備拍攝的放射線攝影圖像中的贗像，因為在高溫度和低溫度區域中半導體分別顯露出不同的特征。

日本特開No.63-243782中公開的放射線數據校正技術要求制造商進行復雜的任務來生成校正程序。此外，所公開的放射線數據校正技術要求復雜的系統布置，因為其要求控制電路來執行校正程序。

另外，溫度分布的偏差所產生的贗像可能不一定能校正，這是因為溫度分布的偏差是時間依賴的。此外，由于僅在放射線檢測器被放射線照射時才識別由溫度分布的偏差造成的放射線檢測器的靈敏度的變化，或者說在放射線檢測器被放射線照射之前都不能識別這種變化，所以從離線圖像不一定能夠校正贗像。

本發明的總體目的是提供一種放射線檢測器，該放射線檢測器由相對數量較少的部件組成，因此結構簡單。

本發明的主要目的是提供一種放射線檢測器，該放射線檢測器具體地不需要校正程序。

本發明的另一個目的是提供一種放射線檢測器，該放射線檢測器能夠有效地防止贗像被增強。

本發明的又一個目的是提供一種制造這種放射線檢測器的方法。

本發明的又一個目的是提供一種包括這種放射線檢測器的放射線攝影圖像拍攝設備。

上述目的可通過以下[1]到[4]的布置來實現。

[1]一種放射線檢測器，所述放射線檢測器包括用于將放射線轉換為可見光的閃爍體和用于將所述可見光轉換為電荷的光電二極管，其中：

如果假定用A[％/K]表示閃爍體對放射線的靈敏度的溫度依賴變化率并且用B[％/K]表示光電二極管對可見光的靈敏度的溫度依賴變化率，則溫度依賴變化率A和B滿足以下不等式(1)：

-0.35[％/K]＜A+B＜0.35[％/K]…(1)

[2]一種放射線檢測器的制造方法，所述放射線檢測器包括用于將放射線轉換為可見光的閃爍體和用于將所述可見光轉換為電荷的光電二極管，所述方法包括以下步驟：

測量所述閃爍體的靈敏度對所述放射線的溫度依賴變化率；以及