[發明專利]一種基于滑動窗口的RFID數據流多標簽清洗方法有效
| 申請號: | 201110358369.6 | 申請日: | 2011-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN102509062A | 公開(公告)日: | 2012-06-20 |
| 發明(設計)人: | 戚湧;李千目;謝新;侯君 | 申請(專利權)人: | 無錫南理工科技發展有限公司 |
| 主分類號: | G06K7/00 | 分類號: | G06K7/00 |
| 代理公司: | 南京天華專利代理有限責任公司 32218 | 代理人: | 徐冬濤 |
| 地址: | 214192 江蘇省無錫*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 滑動 窗口 rfid 數據流 標簽 清洗 方法 | ||
技術領域
本發明涉及RFID標簽技術即射頻識別,是一種非接觸式的自動識別技術,尤其是通過射頻信號自動識別目標對象并獲取相關數據的方法,具體地說是一種基于滑動窗口的RFID數據流多標簽清洗方法。識別工作無須人工干預,可工作于各種惡劣環境。RFID技術可識別高速運動物體并可同時識別多個標簽,操作快捷方便。RFID標簽具有低成本、壽命長、不怕污染和適應惡劣環境等特點,有望在將來替代目前流行的條形碼,具體地說是一種基于滑動窗口的RFID數據流多標簽清洗方法。
背景技術
目前,RFID技術已經被廣泛的應用在很多領域,例如供應鏈監控、資產跟蹤、超市購物、火車調度等許多方面,而這些應用領域正是對實時信息的處理與跟蹤有著極高的要求。隨著低成本、低功耗的被動標簽制造工藝的逐步提高,布置RFID將成為全球技術革新中最為重要的一環,同時它也將極大的推動RFID技術的研究與發展,并為全球“物聯網”的提出和最終實現奠定了堅實的基礎。
然而,阻礙RFID技術廣泛應用的一項重要原因,就是RFID閱讀器產生的數據流具有不可靠性,RFID系統因其射頻技術無線通信的特點,會受到閱讀錯誤數據的困擾。其中根據RFID閱讀錯誤結果分類,RFID數據不可靠的情況,主要有以下三種:1、漏讀,由于無線射頻信號極易受環境影響,而且相互干擾,其當標簽和閱讀器數量較多時,信號干擾加強。因此造成閱讀器同時讀多個標簽時;某些標簽被遺漏。數據漏讀現象十分普遍,是RFID數據不可靠的主要原因,這種錯誤也稱為拒真(False?Negative);2、多讀,指當一個標簽在一個閱讀器閱讀范圍之外時,該閱讀器仍然讀到了該標簽。這種情況主要因為多個閱讀器同時存在時的電磁波的干擾,隨機性很大。這種錯誤也稱為納偽(False?Positive);3、臟數據,由于電磁干擾等原因造成的閱讀器讀取的標簽信息是非法的、重復的這種標簽數據稱為臟數據,通常這種錯誤發生概率較低,并且一般的閱讀器會自動處理臟數據的情況。因為RFID數據不可靠性,導致原始RFID數據流對于高級別的應用程序毫無用處。
發明內容
本發明的目的是針對RFID閱讀器產生的數據流具有不可靠性,導致原始RFID數據流對于高級別的應用程序毫無用處的問題,提出一種基于滑動窗口的RFID數據流多標簽清洗方法,能有效提高RFID數據的可靠性、完整性和動態性。
本發明的技術方案是:
一種基于滑動窗口的RFID數據流多標簽清洗方法,它包括以下步驟:
(a)、計算平均讀取間隔avgInterval:采用射頻閱讀器讀取一個或多個電子標簽的所有EPC事件,計算在一段時間內所有EPC事件的平均讀取間隔avgInterval,
其中:duration表示讀取所有EPC事件的時間段長度;sum(EPC)表示在這段時間內所讀取的標簽的數量即有多少個不同的EPC碼,同一標簽發送的EPC事件中帶有同一個EPC碼,,當只有單個電子標簽時,sum(EPC)的值為1;∑event表示所有標簽發送的所有EPC事件的總數;
(b)、計算當前最大事件間隔evInterval:根據前一個最大事件間隔evInterval′的值和當前平均讀取間隔avgInterval的值來計算當前最大事件間隔evInterval的值,
evInterval=evInterval′+scaleFactor×(avgInterval-evInterval′)
其中:最大事件間隔evInterval的初始值為0,scaleFactor為窗口縮放因子;
(c)、計算滑動窗口大小evTimeout:通過一個精度影響因子precisionFactor和當前最大事件間隔evInterval來決定滑動窗口大小evTimeout的值,
evTimeout=evInterval×precisionFactor
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于無錫南理工科技發展有限公司,未經無錫南理工科技發展有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110358369.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





