[發(fā)明專利]陣列基板及制造方法、顯示裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110353778.7 | 申請(qǐng)日: | 2011-11-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102655117A | 公開(公告)日: | 2012-09-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫雙 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/77 | 分類號(hào): | H01L21/77;H01L27/12;G02F1/1368;G02F1/1362 |
| 代理公司: | 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陣列 制造 方法 顯示裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種陣列基板及制造方法、顯示裝置。
背景技術(shù)
TFT-LCD(Thin?Film?Transistor-Liquid?Crystal?Display,薄膜晶體管液晶顯示器)由于具有體積小、功耗低、無輻射等特點(diǎn)而備受關(guān)注,在平板顯示領(lǐng)域中占據(jù)了主導(dǎo)地位,被廣泛的應(yīng)用到各行各業(yè)中。一個(gè)液晶顯示器中的TFT陣列基板的制作是通過一組薄膜的沉積和光刻工藝形成圖案完成的。光刻用的掩模板數(shù)目是衡量制造TFT陣列基板工藝繁簡程度,一次光刻工藝使用一個(gè)掩模板,這樣減少一個(gè)掩模板就會(huì)降低制造成本。
為了有效的降低TFT陣列基板的制造成本,TFT陣列基板的制造工藝從開始的七次掩模工藝發(fā)展到采用灰度掩模板技術(shù)的四次掩模工藝。四次掩模工藝通常為,第一步是在基板上通過構(gòu)圖工藝形成柵線、柵極圖形;第二步是采用灰度掩模板,通過構(gòu)圖工藝在柵線、柵極上形成柵絕緣層、半導(dǎo)體有源層、源極、漏極和數(shù)據(jù)線圖形;第三步,在源極、漏極上形成保護(hù)層、漏極與像素電極連接的過孔;第四步,在保護(hù)層上形成像素電極。這里的構(gòu)圖工藝是指薄膜沉積、掩模板曝光、顯影、刻蝕和光刻膠去除工序。
而在實(shí)現(xiàn)上述四次掩模工藝的過程中,TFT陣列基板的制造工藝仍較為復(fù)雜,掩模板數(shù)量多的缺陷,使得TFT陣列基板的制造成本較高,生產(chǎn)效率低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例提供一種陣列基板及制造方法、顯示裝置,能夠簡化制造工藝,降低TFT陣列基板的制造成本,提高生產(chǎn)效率。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案:
一種陣列基板的制造方法,包括:
形成包括柵線、柵極、柵絕緣層和半導(dǎo)體有源層的圖形;
形成包括保護(hù)層和位于保護(hù)層的過孔的圖形;
形成包括像素電極、數(shù)據(jù)線、源極和漏極的圖形。
一種陣列基板,包括:
基板;
形成于基板上的柵極、柵線,依次形成于所述柵極上的柵絕緣層和半導(dǎo)體有源層;
在形成有柵極、柵線、柵絕緣層和半導(dǎo)體有源層的所述基板上形成的保護(hù)層和位于保護(hù)層的過孔;
形成于所述保護(hù)層上的像素電極、數(shù)據(jù)線、源極和漏極,源極和數(shù)據(jù)線連接,漏極和像素電極相連接,所述源極、漏極通過所述過孔與所述半導(dǎo)體有源層相連。
一種顯示裝置,包括上述陣列基板。
本發(fā)明實(shí)施例提供的陣列基板及制造方法、顯示裝置,通過在基板上形成包括柵線、柵極、柵絕緣層、半導(dǎo)體有源層的圖形;通過在形成有柵線、柵極、柵絕緣層、半導(dǎo)體有源層的基板上,形成有包括保護(hù)層和位于保護(hù)層的過孔;通過在形成有所述保護(hù)層和位于保護(hù)層的過孔的基板上形成包括像素電極、數(shù)據(jù)線、源極、漏極,從而簡化了陣列基板的制造工藝,降低了制造成本,提高生產(chǎn)效率。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法流程示意圖;
圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法S201形成柵金屬薄膜層、柵絕緣層薄膜、半導(dǎo)體有源層薄膜后的沿圖1A-A向剖視圖;
圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法S201曝光顯影后的沿圖1A-A向剖視圖;
圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法S201形成柵線、柵極、柵絕緣層、半導(dǎo)體有源層的沿圖1A-A向剖視圖;
圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法S202形成保護(hù)層薄膜、導(dǎo)電層薄膜后的沿圖1A-A向剖視圖;
圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法S202曝光顯影后的沿圖1A-A向剖視圖;
圖8為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法S202形成保護(hù)層和過孔后的沿圖1A-A向剖視圖;
圖9為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法S203形成數(shù)據(jù)金屬層薄膜后的沿圖1A-A向剖視圖;
圖10為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法S203曝光顯影后的沿圖1A-A向剖視圖;
圖11為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法S203形成像素電極、數(shù)據(jù)線、源極、漏極后的沿圖1A-A向剖視圖;
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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