[發明專利]加速設計規則檢查的方法及裝置

有效

• 申請號: 201110351640.3
• 申請日: 2011-11-08
• 公開（公告）號: CN102346800A
• 公開（公告）日: 2012-02-08
• 發明（設計）人: 吳玉平;陳嵐;葉甜春
• 申請（專利權）人: 中國科學院微電子研究所
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 逯長明;王寶筠

1.一種加速設計規則檢查的方法，其特征在于，包括：

將集成電路設計的版圖劃分為多個子區域；

將幾何同構的子區域置于同一個同構列表中；

對每個同構列表中的至少一個子區域進行設計規則檢查；

根據同構列表中子區域間的幾何關系和已得到的子區域的設計規則檢查的結果，計算得到同構列表中其他子區域的設計規則檢查的結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將集成電路設計的版圖劃分為多個子區域的步驟包括：

將所述集成電路版圖劃分為M行×N列個矩形的內區域；

將所述內區域的邊框向與其相鄰的內區域延伸一部分形成外邊框區域，所述內區域與外邊框區域構成一個子區域。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，根據同構列表中子區域間的幾何關系和已得到的子區域的設計規則檢查的結果，計算得到同構列表中其他子區域的設計規則檢查的結果的步驟為：根據同構列表中子區域間的幾何關系和已得到的子區域中的內區域部分的設計規則檢查的結果，計算得到同構列表中其他子區域中的內區域的設計規則檢查的結果。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將幾何同構的子區域置于同一個同構列表中的步驟包括：根據子區域內的圖形的幾何數據之間是否存在幾何同構關系，判斷各個子區域內的圖形是否幾何同構，將幾何同構關系的子區域置于同一個同構列表中，所述幾何同構關系包括相同、角度旋轉或鏡像。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，根據子區域內的圖形的幾何數據之間是否存在幾何同構關系，判斷各個子區域內的圖形是否幾何同構，將幾何同構關系的子區域置于同一個同構列表中的步驟包括：

確定各子區域的原點；

確定各子區域內的圖形相對于原點的相對坐標；

將各子區域內的相對坐標順序排列，以形成子區域內圖形的幾何數據；

判斷各子區域間的幾何數據是否存在相同、角度旋轉、鏡像或平移的幾何同構關系，若是幾何同構關系，將幾何同構的子區域置于同一個同構列表中。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，將各子區域內的相對坐標順序排列，以形成子區域內圖形的幾何數據的步驟包括：

按照掩膜層號將子區域劃分為具有不同掩膜層號的圖形子集合；

逐一將各圖形子集合內的相對坐標順序排列，以形成子區域內圖形的幾何數據。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在對每個同構列表中的至少一個子區域進行設計規則檢查之后，計算得到同構列表中其他子區域的設計規則檢查的結果之前，還包括步驟：所述子區域內沒有違反設計規則的幾何圖形，標記所述子區域所在的同構列表設計規則檢查為通過。

8.根據權利要求1-7中任一項所述的方法，其特征在于，以并行方式同時對每個同構列表中的至少一個子區域進行設計規則檢查。

9.根據權利要求1-7中任一項所述的方法，其特征在于，對每個同構列表中的至少一個子區域進行設計規則檢查，其中進行設計規則檢查的步驟包括：

檢查子區域內各圖形本身是否符合設計規則；

檢查子區域內各圖形之間是否符合設計規則。

10.一種加速設計規則檢查的裝置，其特征在于，包括：

版圖區域劃分單元，用于將集成電路設計的版圖劃分為多個子區域；

區域同構單元，用于將幾何同構的子區域置于同一個同構列表中；

子區域設計規則檢查單元，用于對同構列表中的至少一個子區域進行設計規則檢查；

設計規則結果復用單元，根據同構列表中子區域間的幾何關系和已得到的子區域的設計規則檢查的結果，計算得到同構列表中其他子區域的設計規則檢查的結果。