[發(fā)明專利]一種器件時序參數(shù)確定方法和裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110345911.4
• 申請日: 2011-11-04
• 公開（公告）號: CN102508149A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 關(guān)朕
• 申請（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市愛派知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 44292
• 代理人: 梁培峰

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及嵌入式技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及嵌入式系統(tǒng)中一種器件時序參數(shù)的確定方法和裝置。

背景技術(shù)

隨著社會經(jīng)濟的發(fā)展和信息產(chǎn)業(yè)的推進，嵌入式系統(tǒng)已逐漸滲入各行各業(yè)，小到手機、iPad(平板電腦)、機頂盒、智能家居，大到通訊基站、航天衛(wèi)星、現(xiàn)代化工業(yè)控制等，嵌入式系統(tǒng)在人們的生活和工作中正扮演著越來越不可或缺的角色。嵌入式系統(tǒng)是以應(yīng)用為中心，以計算機技術(shù)為基礎(chǔ)，軟硬件可剪裁(可編程，可重構(gòu))的專用計算機系統(tǒng)。在一個小的嵌入式系統(tǒng)中可能包含有各類硬件存儲器件、復(fù)雜可編程邏輯器件、特殊應(yīng)用集成電路和現(xiàn)場可編程門陣列等器件，為了保障嵌入式系統(tǒng)可以穩(wěn)定運行，一般需要在啟動嵌入式系統(tǒng)前，對一些器件的時序參數(shù)進行配置或調(diào)整。

現(xiàn)有技術(shù)一般通過查找器件手冊和CPU手冊，根據(jù)手冊中的參數(shù)建議值對器件的時序參數(shù)進行配置。然而實際情況是，即使根據(jù)手冊的參數(shù)建議值對一些器件的時序參數(shù)進行了配置，系統(tǒng)可能仍無法穩(wěn)定運行，例如對于一些時序敏感器件，比如內(nèi)存，即使?jié)M足了手冊要求，仍然會出現(xiàn)高低溫運行不穩(wěn)定的情況。而且當(dāng)系統(tǒng)需要更換部件時，也無法通過手冊查到這些器件的時序參數(shù)，因此如何在未知器件時序參數(shù)的情況下，快速定位器件的最佳時序參數(shù)，并對器件進行時序參數(shù)配置，是本領(lǐng)域有待解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于，提供一種器件時序參數(shù)確定方法和裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)無法快速定位器件的最佳時序參數(shù)，無法保持系統(tǒng)穩(wěn)定運行的問題。

本發(fā)明通過以下方法解決上述技術(shù)問題：

一種器件時序參數(shù)確定方法，上述方法包括以下步驟：

上位機將待測試的時序參數(shù)寫入待測器件的一個時序模塊，并對上述器件進行壓力測試，測試結(jié)束后，判斷是否有未被測試過的時序參數(shù)；

若是，則將下一個時序參數(shù)寫入上述時序模塊中，繼續(xù)進行壓力測試；否則計算通過壓力測試的時序參數(shù)的平均值，并將上述平均值作為上述器件在上述時序模塊的最佳時序參數(shù)。

上述方法還包括以下初始化步驟：

上述上位機獲取待測器件的寄存器的地址信息，并根據(jù)上述地址信息將上述器件劃分為多個時序模塊。

上述寄存器的地址信息包括上述寄存器的起始地址及位寬。

上述上位機將上述器件劃分為多個時序模塊之后，還包括以下步驟：

記錄各時序模塊的起始地址和位寬，并為各時序模塊分別設(shè)置待測試的時序參數(shù)及進行上述壓力測試的次數(shù)。

在對上述器件進行壓力測試之前，上述上位機判斷上述器件能否正常運轉(zhuǎn)，若否，則跳過壓力測試的步驟。

測試結(jié)束后，上述上位機還記錄被測試的時序參數(shù)及其對應(yīng)的測試結(jié)果。

上述壓力測試為讀寫壓力測試，上述器件包括內(nèi)存或閃存。

本發(fā)明還采用以下技術(shù)方案：

一種器件時序參數(shù)確定裝置，包括上位機，上述上位機包括：參數(shù)寫入模塊，壓力測試模塊，測試判斷模塊，參數(shù)確定模塊；

上述參數(shù)寫入模塊，用于將待測試的時序參數(shù)寫入待測器件的一個時序模塊；

上述壓力測試模塊，用于對待測器件進行壓力測試；

上述測試判斷模塊，用于判斷是否有未被測試過的時序參數(shù)；

上述參數(shù)確定模塊，用于計算通過壓力測試的時序參數(shù)的平均值，并將上述平均值作為待測器件在相應(yīng)時序模塊的最佳時序參數(shù)。

上述裝置還包括初始化模塊，參數(shù)設(shè)置模塊；

上述初始化模塊，用于獲取待測器件的寄存器的地址信息，并根據(jù)上述地址信息將上述待測器件劃分為多個時序模塊。

上述參數(shù)設(shè)置模塊，用于為待測器件的各時序模塊分別設(shè)置待測試的時序參數(shù)及進行壓力測試的次數(shù)。

上述寄存器的地址信息包括上述寄存器的起始地址及位寬。

上述壓力測試為讀寫壓力測試，上述待測器件包括內(nèi)存或閃存。

同現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有如下有益技術(shù)效果：本發(fā)明可以有效解決器件的時序參數(shù)配置問題(包括內(nèi)存，F(xiàn)LASH)，縮短了嵌入式系統(tǒng)的調(diào)試時間，使嵌入式產(chǎn)品在各種環(huán)境下都能夠穩(wěn)定運行。本發(fā)明具有創(chuàng)新性強，拓展性好，適用性廣的特點。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本發(fā)明的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中：

圖1是本發(fā)明優(yōu)選實施例中器件時序參數(shù)確定方法的流程圖；

圖2是本發(fā)明優(yōu)選實施例中器件時序參數(shù)確定裝置的模塊框圖。

具體實施方式