[發(fā)明專利]一種器件時序參數(shù)確定方法和裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110345911.4
• 申請日: 2011-11-04
• 公開（公告）號: CN102508149A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 關(guān)朕
• 申請（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市愛派知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 44292
• 代理人: 梁培峰

1.一種器件時序參數(shù)確定方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

上位機將待測試的時序參數(shù)寫入待測器件的一個時序模塊，并對所述器件進行壓力測試，測試結(jié)束后，判斷是否有未被測試過的時序參數(shù)；

若是，則將下一個時序參數(shù)寫入所述時序模塊中，繼續(xù)進行壓力測試；否則計算通過壓力測試的時序參數(shù)的平均值，并將所述平均值作為所述器件在所述時序模塊的最佳時序參數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括以下初始化步驟：

所述上位機獲取待測器件的寄存器的地址信息，并根據(jù)所述地址信息將所述器件劃分為多個時序模塊。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于：所述寄存器的地址信息包括所述寄存器的起始地址及位寬。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于：所述上位機將所述器件劃分為多個時序模塊之后，還包括以下步驟：

記錄各時序模塊的起始地址和位寬，并為各時序模塊分別設(shè)置待測試的時序參數(shù)及進行所述壓力測試的次數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于：在對所述器件進行壓力測試之前，所述上位機判斷所述器件能否正常運轉(zhuǎn)，若否，則跳過壓力測試的步驟。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于：測試結(jié)束后，所述上位機還記錄被測試的時序參數(shù)及其對應(yīng)的測試結(jié)果。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述壓力測試為讀寫壓力測試，所述器件包括內(nèi)存或閃存。

8.一種器件時序參數(shù)確定裝置，包括上位機，其特征在于，所述上位機包括：參數(shù)寫入模塊，壓力測試模塊，測試判斷模塊，參數(shù)確定模塊；

所述參數(shù)寫入模塊，用于將待測試的時序參數(shù)寫入待測器件的一個時序模塊；

所述壓力測試模塊，用于對待測器件進行壓力測試；

所述測試判斷模塊，用于判斷是否有未被測試過的時序參數(shù)；

所述參數(shù)確定模塊，用于計算通過壓力測試的時序參數(shù)的平均值，并將所述平均值作為待測器件在相應(yīng)時序模塊的最佳時序參數(shù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括初始化模塊，參數(shù)設(shè)置模塊；

所述初始化模塊，用于獲取待測器件的寄存器的地址信息，并根據(jù)所述地址信息將所述待測器件劃分為多個時序模塊。

所述參數(shù)設(shè)置模塊，用于為待測器件的各時序模塊分別設(shè)置待測試的時序參數(shù)及進行壓力測試的次數(shù)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于：所述寄存器的地址信息包括所述寄存器的起始地址及位寬。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于：所述壓力測試為讀寫壓力測試，所述待測器件包括內(nèi)存或閃存。