[發(fā)明專利]集成電路封裝材料的合成方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110345260.9 | 申請日: | 2011-11-04 |
| 公開(公告)號: | CN102364665A | 公開(公告)日: | 2012-02-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐振武 | 申請(專利權(quán))人: | 徐振武 |
| 主分類號: | H01L21/48 | 分類號: | H01L21/48;C22C11/06;B22D27/04 |
| 代理公司: | 石家莊科誠專利事務(wù)所 13113 | 代理人: | 張紅衛(wèi) |
| 地址: | 065700 河*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成電路 封裝 材料 合成 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于金屬材料領(lǐng)域,涉及一種半導(dǎo)體焊接材料的合成,具體地說是一種集成電路封裝材料的一種合成方法。?
背景技術(shù)
目前焊接材料的合成方法有真空合成和普通合成,不能滿足集成電路高精度器件的焊接要求。具體而言就是:?
(1)??真空合成
用高頻真空熔煉,爐根據(jù)焊料要求按重量稱重和在一起加溫電磁攪拌合成。所制得的部分合金,其金屬顆粒的直徑遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于50微米,最大可至133微米,因此導(dǎo)致焊接后的元器件在使用時(shí)因金屬顆粒大、不均而存在的熱脹系數(shù)不同問題,造成器件芯片脫開或龜裂、局部熱點(diǎn)、結(jié)退化、開路、高阻、短路和熱阻增加引起的二次擊穿等等,直接導(dǎo)致使用壽命降低。
因此,真空合成不能滿足高精度器件的要求。?
(2)??普通合成?
在大氣中根據(jù)焊料要求按重量稱重和在一起加溫,機(jī)器攪拌合成。造成氧化物過多,使焊接中脫焊電阻增加,也不能滿足高精度器件的要求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種集成電路封裝材料的合成方法,采用鉛、錫、銀為原料,采用無流澆鑄的方法進(jìn)行鑄錠,能夠克服現(xiàn)有金屬液在鑄錠過程中需要流動而導(dǎo)致的偏析、晶粒變大的弊病,所制得的焊接材料顆粒小于50微米,且顆粒大小均勻一致,使焊接元件性能可靠。?
本發(fā)明為解決上述技術(shù)問題,所采用的技術(shù)方案是:?
一種集成電路封裝材料的合成方法,制成所述集成電路封裝材料有效成份的原料包括重量份數(shù)比為2:1:37的錫、銀、鉛,該合成方法按照以下步驟順序進(jìn)行:
(1)?熔煉
取錫與銀,在真空熔煉爐(設(shè)備本身帶有電磁攪拌)中加熱至熔融,冷卻成型,得錫銀二元金屬錠A;
取鉛,與錫銀二元金屬錠A,在敞口耐高溫容器中加熱至400—450℃熔煉至熔融,得熔融三元金屬液體B;?
(2)?去除氧化渣
對熔融三元金屬液體B進(jìn)行攪拌,去氧化渣,得待鑄金屬液C;
(3)鑄錠
將待鑄金屬液C進(jìn)行無流隔氧劇冷成型,即得。
作為本發(fā)明的一種限定,所述無流隔氧劇冷成型即:?
將15—30℃恒溫的敞口模具,快速浸入到熔融三元金屬液體C中,停留5—8min,提起,快速冷卻成型。
作為本發(fā)明的另一種限定,所述步驟(1)前還設(shè)有步驟(1′),即:?
(1′)表面處理
取錫、鉛、銀,分別去除表面氧化皮。
表面去除氧化皮,保證材料純度。?
作為本發(fā)明的進(jìn)一步限定,所述步驟(1)與步驟(1′)間還設(shè)有步驟(1″),即:?
(1″)純度分析
對錫、鉛、銀進(jìn)行純度分析,選用純度為99.99%以上的原材料。
對原料的純度要求較高,避免成品中雜質(zhì)含量過高、過多,影響焊接元件的使用性能。?
說明:本發(fā)明所述的“無流隔氧劇冷成型”中,“無流”是指鑄錠時(shí)金屬液無流動,避免過程中發(fā)生偏析現(xiàn)象帶來晶粒變大的可能,因此能控制鑄錠時(shí)合金的均勻度;“隔氧”是指不能讓氧氣進(jìn)入待鑄金屬液中,避免氧化物的生成影響合成材料的品質(zhì)、焊接元件的性能,待鑄金屬液本身就具有這種隔氧作用;“劇冷”,是指快速冷卻,這種冷卻方式能夠控制金屬晶粒大小不使長大。?
由于采用了上述的技術(shù)方案,本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,所取得的技術(shù)進(jìn)步在于:本發(fā)明以鉛-錫-銀為原料,采用無流鑄錠成型的方法,制得的焊接材料顆粒小于50微米,且顆粒大小均勻一致,從而使焊料顆粒的熱脹系數(shù)相同,避免了焊接器件脫開、龜裂、局部熱點(diǎn)、結(jié)退化、開路、高阻、短路、熱阻增加引起的二次擊穿等現(xiàn)象,延長器件的使用壽命。本發(fā)明適用于合成航天、空客飛機(jī)、高檔汽車、高檔電器等領(lǐng)域器件用半導(dǎo)體材料的焊接材料。?
本發(fā)明下面將結(jié)合說明書附圖與具體實(shí)施例作進(jìn)一步詳細(xì)說明。?
附圖說明
圖1是本發(fā)明實(shí)施例的工藝流程圖;?
圖2是本發(fā)明實(shí)施例的合成過程示意圖。
圖中:1—模具;2—起重設(shè)備;3—待鑄金屬液;4—容器。?
具體實(shí)施方式
實(shí)施例
一種用于集成電路封裝材料的合成方法,其工藝流程參考圖1。?
該材料以重量份數(shù)比為2:1:37的錫、銀、鉛制成,其合成方法按照以下步驟順序進(jìn)行:?
①表面處理
取錫、鉛、銀,通過機(jī)器處理扒皮實(shí)現(xiàn)表面除氧化皮。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





