[發明專利]基于激光測距的零件高度的測量方法

無效

• 申請號: 201110340903.0
• 申請日: 2011-10-21
• 公開（公告）號: CN103063141A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發明（設計）人: 王瀚威;申再生
• 申請（專利權）人: 東莞富強電子有限公司;正崴精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種高度測量方法，尤其涉及一種基于激光測距技術實現的多零件產品高度測量方法。

背景技術

激光測距技術是指以激光器作為光源進行測距的技術。它的基本原理是利用激光測距儀發射出的激光經被測量物體反射后又被測距儀接收所需的往返時間來實現被測物體的距離測量，其測距公式為：D＝0.5c×t，式中，D是測量距離，c是光速，t是測距信號往返時間。

激光測距不僅作為一種測量距離的技術得到了廣泛應用，也作為一種檢測手段在工業檢測技術中得到了推廣。例如，利用激光測距原理測量產品的高度或者產品相對兩表面之間的厚度，檢驗產品尺寸是否符合生產規格。利用激光測距原理測量物體的高度或厚度時，只需要分別測量激光測距儀到物體兩個表面的距離，然后計算兩個表面到激光測距儀的距離差即可得出物體的高度或厚度測量結果。

在實際生產中，利用激光測距技術判斷產品尺寸是否符合規格時，可以測量單一高度產品的高度，也可以測量具有不同高度零件的多零件產品的高度。在現有技術中，當一件待測產品具有多個待測零件，通常會在各個零件表面選取待測點進行測量。如圖1所示，對于選取待測點的多個零件高度的測量，一般會采用停頓測量方式進行測量。即，激光測量儀走到一個待測點時，停下測量；當一個待測點測量結束時，再移動到下一個待測點進行測量，如圖1所示各點即為停頓測量點10。這種測量方式不僅容易造成誤判、漏檢，而且在待測點的確定以及測量儀起停過程浪費大量的時間，如待測點數目較多或者對大批量產品進行測量時，則比較費時、費力。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于激光測距的零件高度的測量方法。該方法在測量過程中無需判斷待測點位置，不需要停頓逐點測量；在測量結束后，以資料處理的方式找出測量結果。

為達成上述目的，本發明所提供的一種基于激光測距的零件高度的測量方法，包括如下步驟：

(1)激光測距儀勻速沿測量軌跡逐點測量各待測點到該激光測距儀的距離；

(2)在步驟(1)進行的同時，激光測距儀將測量軌跡上各待測點的測量結果連同測量時間一并傳送至存儲單元，該測量時間為該激光測距儀位移至待測點的時間；

(3)當激光測距儀結束測量時，存儲單元將接收到的資料發送至分析單元；

(4)分析單元根據存儲單元發送的資料，并結合測量軌跡和各待測點位置，計算出各待測點的高度基準值并對外輸出。

其中優選地，所述待測點包括用于計算零件高度基準值的參考點。

其中優選地，所述待測點的高度基準值通過所述待測點與所述參考點到所述激光測距儀的距離差確定。

其中優選地，所述測量軌跡為包括各待測點的任意形狀。

如上所述，本發明省去了測量過程中各待測點位置的確定以及激光測距儀在各待測點的起停時間，節約了測量時間，因此尤其適用于大批量同規格產品的高度測量。在測量過程中，只需在測量之前對測量軌跡進行一次設定，直接將依據測量軌跡獲得的測量結果圖譜進行比對，即可得出產品是否合格的結果，無需準確計算每一單件產品中各零件的具體高度，大大提高了測量效率。

附圖說明

圖1為現有技術中，測量待檢測零件高度時出現的停頓測量點示意圖；

圖2為本發明所述測量方法的實施流程圖；

圖3為本發明的一個實施例中待檢測高度的零件產品示意圖；

圖4為本發明的一個實施例中各零件產品的測量順序示意圖；

圖5為本發明的一個實施例中所獲得的測量結果的示意圖。

具體實施方式

為詳細說明本發明的技術內容、構造特征、所達成的目的及功效，以下茲例舉實施例并配合圖式詳予說明。

如圖2所示，本發明所提供的零件高度的測量方法基于激光測距技術，包括如下的操作步驟：

步驟S10：激光測距儀勻速沿測量軌跡30逐點測量各待測點20到激光測距儀的距離；

步驟S20：在步驟S10進行的同時，激光測距儀將測量軌跡30上各待測點20的測量結果連同測量時間一并傳送至存儲單元，予以存儲，該測量時間為該激光測距儀位移至待測點20的時間；

步驟S30：當激光測距儀結束測量時，存儲單元將接收到的資料統一發送至分析單元；

步驟S40：分析單元根據存儲單元發送的資料，并結合測量軌跡30和各待測點20位置，計算出各待測點20的高度基準值并對外輸出。