[發明專利]一種電子標簽匹配阻抗的測量方法及系統有效
| 申請號: | 201110336651.4 | 申請日: | 2011-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN103091556A | 公開(公告)日: | 2013-05-08 |
| 發明(設計)人: | 甘泉 | 申請(專利權)人: | 國民技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/02 | 分類號: | G01R27/02 |
| 代理公司: | 北京輕創知識產權代理有限公司 11212 | 代理人: | 楊立 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市南山區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電子標簽 匹配 阻抗 測量方法 系統 | ||
技術領域
本發明涉及測量領域,尤其涉及一種電子標簽匹配阻抗的測量方法及系統。
背景技術
RFID(Radio?Frequency?Identification,射頻識別)是一種非接觸式的自動識別技術,它通過射頻信號自動識別目標對象并獲取相關數據,識別工作無須人工干預,可工作于各種惡劣環境。RFID可識別高速運動物體并可同時識別多個電子標簽,操作快捷方便。?
RFID系統是一種簡單的無線系統,只有兩個基本器件,該系統用于控制、檢測和跟蹤物體。
RFID系統按具體應用中工作頻點的不同分為低頻LF、高頻HF、超高頻UHF、微波MW,相對應的代表性頻率分別為低頻135KHz以下、高頻13.56MHz、超高頻860MHz-960MHz、微波2.4GHz、5.8GHz。
RFID系統由一個讀寫器(也可以稱為詢問器)和很多電子標簽(也可以稱為應答器)組成。電子標簽Tag由耦合元件及芯片組成,每個電子標簽具有唯一的電子編碼,附著在物體上標識目標對象;讀寫器Reader是讀取(有時還可以寫入)電子標簽信息的設備,可設計為手持式或固定式;電子標簽Tag和讀寫器Reader都具有天線Antenna,天線Antenna用于在電子標簽和讀寫器間傳遞射頻信號。
電子標簽由電子標簽芯片和電子標簽天線構成,電子標簽芯片與電子標簽天線的匹配情況決定了電子標簽的工作性能。也就是說,電子標簽芯片與電子標簽天線匹配與否是非常重要的,這就需要明確獲得電子標簽芯片的阻抗。然而電子標簽芯片的阻抗根據其獲得的能量不同而發生變化,這樣就要求尋找到電子標簽靈敏度極限時對應的阻抗進行匹配。而現有技術中,沒有一種通過獲得精確的電子標簽芯片在靈敏度極限時的阻抗進行天線設計,都是通過制作幾十款甚至上百款不同阻抗的天線來找到一款合適的天線,這樣帶來的問題是需要經過大量的測試,并且耗費大量天線材料,同樣浪費很多的時間,并且在設計下一種應用的天線時又要花費上述的工作。
如果能夠獲得電子標簽芯片在靈敏度極限時的阻抗值,則可以大大簡化電子標簽的天線設計,節約設計的時間和成本,并且能夠提高天線設計的精度。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種電子標簽匹配阻抗的測量方法及系統,簡化電子標簽的天線設計,節約設計時間和成本,提高設計精度。
為解決上述技術問題,本發明提出了一種電子標簽匹配阻抗的測量方法,包括:
將讀寫器、同軸導線、測試探針、電子標簽芯片依次相連,找到所述讀寫器能夠支持所述電子標簽芯片工作的最小輸出功率P0;
將矢量網絡分析儀、經過校準的所述同軸導線、經過校準的所述測試探針、所述電子標簽芯片依次相連,設置所述矢量網絡分析儀的輸出功率為P0,通過測量獲得第四回波反射值;
對所述第四回波反射值進行處理,得到所述電子標簽芯片的匹配阻抗。
進一步地,上述方法還可具有以下特點,所述同軸導線通過如下方式校準:
將矢量網絡分析儀與同軸導線校準件相連,設置矢量網絡分析儀的輸出功率為P0,用同軸導線校準件進行校準。
進一步地,上述方法還可具有以下特點,所述測試探針通過如下方式校準:
將矢量網絡分析儀、經過校準的所述同軸導線、所述測試探針、探針校準件依次相連,設置矢量網絡分析儀的輸出功率為P0,通過測量獲得此時探針校準件分別在開路、短路、50歐負載時的第三開路回波反射值、第三短路回波反射值、第三負載回波反射值。
進一步地,上述方法還可具有以下特點,還包括:
將矢量網絡分析儀、經過校準的所述同軸導線、所述測試探針、所述電子標簽芯片依次相連,設置矢量網絡分析儀的輸出功率為P0,通過測量獲得此時的第一回波反射值;
將矢量網絡分析儀、經過校準的所述同軸導線、所述測試探針依次相連,設置矢量網絡分析儀的輸出功率為P0,通過測量獲得此時的第二回波反射值;
通過對第一回波反射值、第二回波反射值、第三開路回波反射值、第三短路回波反射值、第三負載回波反射值進行處理,獲得同軸導線和測試探針的衰減值L;
用所述最小允許輸出功率P0減去所述衰減值L,即得到所述電子標簽芯片的靈敏度。
為解決上述技術問題,本發明還提出了一種電子標簽匹配阻抗的測量系統,包括讀寫器、同軸導線、測試探針、矢量網絡分析儀、同軸導線校準件和探針校準件,其中:
所述讀寫器,用于與所述同軸導線、所述測試探針和電子標簽芯片依次連接,測量能夠支持所述電子標簽芯片工作的最小輸出功率P0;
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