[發明專利]一種電子標簽匹配阻抗的測量方法及系統

有效

• 申請號: 201110336651.4
• 申請日: 2011-10-31
• 公開（公告）號: CN103091556A
• 公開（公告）日: 2013-05-08
• 發明（設計）人: 甘泉
• 申請（專利權）人: 國民技術股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 楊立

1.一種電子標簽匹配阻抗的測量方法，其特征在于，包括：

將讀寫器、同軸導線、測試探針、電子標簽芯片依次相連，找到所述讀寫器能夠支持所述電子標簽芯片工作的最小輸出功率P0；

將矢量網絡分析儀、經過校準的所述同軸導線、經過校準的所述測試探針、所述電子標簽芯片依次相連，設置所述矢量網絡分析儀的輸出功率為P0，通過測量獲得第四回波反射值；

對所述第四回波反射值進行處理，得到所述電子標簽芯片的匹配阻抗。

2.根據權利要求1所述的電子標簽匹配阻抗的測量方法，其特征在于，所述同軸導線通過如下方式校準：

???將矢量網絡分析儀與同軸導線校準件相連，設置矢量網絡分析儀的輸出功率為P0，用同軸導線校準件進行校準。

3.根據權利要求1所述的電子標簽匹配阻抗的測量方法，其特征在于，所述測試探針通過如下方式校準：

????將矢量網絡分析儀、經過校準的所述同軸導線、所述測試探針、探針校準件依次相連，設置矢量網絡分析儀的輸出功率為P0，通過測量獲得此時探針校準件分別在開路、短路、50歐負載時的第三開路回波反射值、第三短路回波反射值、第三負載回波反射值。

4.根據權利要求3所述的電子標簽匹配阻抗的測量方法，其特征在于，還包括：

將矢量網絡分析儀、經過校準的所述同軸導線、所述測試探針、所述電子標簽芯片依次相連，設置矢量網絡分析儀的輸出功率為P0，通過測量獲得此時的第一回波反射值；

將矢量網絡分析儀、經過校準的所述同軸導線、所述測試探針依次相連，設置矢量網絡分析儀的輸出功率為P0，通過測量獲得此時的第二回波反射值；

通過對第一回波反射值、第二回波反射值、第三開路回波反射值、第三短路回波反射值、第三負載回波反射值進行處理，獲得同軸導線和測試探針的衰減值L；

用所述最小允許輸出功率P0減去所述衰減值L，即得到所述電子標簽芯片的靈敏度。

5.一種電子標簽匹配阻抗的測量系統，其特征在于，包括讀寫器、同軸導線、測試探針、矢量網絡分析儀、同軸導線校準件和探針校準件,其中:

所述讀寫器,用于與所述同軸導線、所述測試探針和電子標簽芯片依次連接,測量能夠支持所述電子標簽芯片工作的最小輸出功率P0;

所述同軸導線校準件,用于對所述同軸導線進行校準;

所述探針校準件,用于對所述探針進行校準;

所述矢量網絡分析儀,?用于輸出功率為P0的射頻信號,以及與經過校準的所述同軸導線、經過校準的所述測試探針和電子標簽芯片依次連接,?以測量第四回波反射值,對該第四回波反射值進行處理即得到所述電子標簽芯片的匹配阻抗。