[發明專利]用于樣品結構顯微成像的方法和設備

有效

• 申請號: 201110317596.4
• 申請日: 2011-10-18
• 公開（公告）號: CN102539395A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: J·佛林
• 申請（專利權）人: 徠卡顯微系統復合顯微鏡有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京泛華偉業知識產權代理有限公司 11280
• 代理人: 王勇

1.一種用于光學顯微成像樣品結構(34)的方法，其中：

用標記來準備所述樣品結構(34)，所述標記可轉變到可光學顯微成像的狀態，

產生活性標記部分，其中所述標記的一部分被轉變到該可光學顯微成像的狀態中，

在存在預先確定的活化狀態時，該樣品結構(34)被成像在傳感器元件的裝置(40)上，在所述活化狀態中，包含在活性標記部分中的標記彼此之間具有平均間距，該平均間距大于由光學顯微成像裝置的分辨率極限預先確定的最小間距，這些傳感器元件分別產生圖像信號，其中，這些圖像信號以其整體給出樣品結構(34)的單幅圖像，

其特征在于，檢驗該預先確定的活化狀態的存在，其中相距一個時間間隔地產生至少兩個單幅檢驗圖像，至少對于傳感器元件的一部分分別檢測圖像信號在兩個單幅檢驗圖像之間的變化，并且在檢測到的圖像信號的變化在其整體上超過預先確定的大小時，確定該預先確定的活化狀態存在。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據檢測到的圖像信號的變化確定兩個單幅檢驗圖像的圖像信號的彼此相應的時間相關性并且在該時間相關性低于預先確定的相關性閾值時，確定該預先確定的活化狀態存在。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，該時間相關性根據下述關系式來確定：

k=Σi,jrijr~ijΣi,jrij2≈Σi,jrijr~ijΣi,jr~ij2]]>

其中，

k表示一個相關性參數，

r_ij用于兩個單幅檢驗圖像中首先拍攝的檢驗圖像表示一個這樣的傳感器元件的圖像信號的信號值，所述傳感器元件在一個具有n行和m列的矩陣形式的傳感器元件裝置(40)中位于第i行和第j列，其中i＝1，2，...，n及j＝1，2，...，m，并且

用于兩個單幅檢驗圖像中的稍后拍攝的檢驗圖像表示一個設置在第i行和第j列中的傳感器元件的圖像信號的信號值。

4.根據前述權利要求之一所述的方法，其特征在于，在檢測到的圖像信號位于第一值域中時，兩個單幅檢驗圖像的檢測到的圖像信號分別被配置一個第一值，及在檢測到的圖像信號位于與該第一值域互補的第二值域中時，兩個單幅檢驗圖像的檢測到的圖像信號分別被配置一個與第一值不同的第二值。

5.根據前述權利要求之一所述的方法，其特征在于，調節產生兩個單幅檢驗圖像的時間間隔，使得該時間間隔大約等于標記在該可光學顯微成像的狀態中的平均停留時間的1倍至3倍。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，調節傳感器元件的曝光時間，使得它大約等于標記在該可光學顯微成像的狀態中的平均停留時間。