[發(fā)明專利]砷化鎵表面自體氧化物清洗、純化及淀積Al2O3介質(zhì)的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110285677.0 | 申請日: | 2011-09-23 |
| 公開(公告)號: | CN102339775A | 公開(公告)日: | 2012-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫清清;房潤辰;楊雯;王鵬飛;張衛(wèi) | 申請(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/316;B08B3/08 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陸飛;盛志范 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 砷化鎵 表面 氧化物 清洗 純化 al sub 介質(zhì) 方法 | ||
1.一種砷化鎵表面自體氧化物清洗、純化及淀積Al2O3介質(zhì)的方法,其特征在于具體步驟為:
(1)砷化鎵樣品經(jīng)過常規(guī)的化學(xué)清洗后,立即放入事先配置好的硫鈍化溶液中,硫鈍化溶液由1-5g硫代乙酰胺、1-4ml無水乙醇和1-4ml氨水所組成,鈍化反應(yīng)的溫度25℃-60℃,鈍化時間為5-30min;
(2)鈍化結(jié)束后,再用去離子水漂洗砷化鎵樣品10-60秒,然后用高純的氮?dú)獯迪礃悠?-15秒,然后立刻裝入原子層淀積反應(yīng)腔中;
(3)在生長氧化鋁薄膜介質(zhì)之前,先進(jìn)行砷化鎵樣品的三甲基鋁的預(yù)處理反應(yīng),預(yù)處理的條件為:三甲基鋁氣體通入原子層淀積反應(yīng)腔中2-8分鐘,氮?dú)獯迪?0-60秒鐘;
(4)用原子層淀積的方法生長需要的高質(zhì)量的Al2O3薄膜介質(zhì),反應(yīng)源分別為三甲基鋁和去離子水,淀積反應(yīng)的溫度為250-350℃,反應(yīng)腔氣壓小于15托,氧化物薄膜的厚度通過控制原子層反應(yīng)循環(huán)周期次數(shù)調(diào)節(jié)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述方法,其特征在于步驟(4)中單個反應(yīng)周期依次為:1-5秒的三甲基鋁氣體通入,2-10秒鐘的氮?dú)獯迪矗?-5秒的去離子水蒸汽通入,2-10秒的氮?dú)獯迪础?/p>
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





