[發明專利]制作高導電高光反射低光損失之島狀成長結構背電極無效
| 申請號: | 201110282426.7 | 申請日: | 2011-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN103022161A | 公開(公告)日: | 2013-04-03 |
| 發明(設計)人: | 簡唯倫;劉幼海;劉吉人 | 申請(專利權)人: | 吉富新能源科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0224 | 分類號: | H01L31/0224;H01L31/052;H01L31/18 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 201707 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 制作 導電 反射 損失 成長 結構 電極 | ||
1.本發明主要是采用銀金屬背電極島狀結構沉積成膜的機制原理,使其表面形成凸形的島狀結構,增加入射光到達背電極后反射光散射之方向性,提升光在吸收層的行進距離,再鍍一層平滑表面的金屬薄膜層,減少光損失,以增加太陽能電池發電效率。
2.根據權利要求1所述的一種銀金屬背電極島狀結構沉積成膜之方法,在鍍制過程中,將其基板溫度提升至一定溫度(約為200℃),銀金屬因為溫度影響,成膜機制轉變成島狀方式沉積。
3.根據權利要求1所述的一種銀金屬背電極島狀結構沉積成膜之方法,以基板溫度100℃的情況下在島狀結構薄膜層上方再鍍制一層高導電性、平滑表面的銀金屬薄膜層。
4.根據權利要求1所述的一種銀金屬背電極島狀結構沉積成膜之方法,基板無須任何特定結構限制,只須能承受200℃的制程溫度即可。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





