[發明專利]一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析裝置及方法

有效

• 申請號: 201110275729.6
• 申請日: 2011-09-17
• 公開（公告）號: CN102867104A
• 公開（公告）日: 2013-01-09
• 發明（設計）人: 柯宏發;陳永光;梁高波;唐躍平;夏斌;唐曉婧
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍裝備指揮技術學院
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 洛陽市凱旋專利事務所 41112
• 代理人: 陸君

技術領域

本發明涉及電磁干擾電子設備技術領域，尤其涉及一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析裝置及方法。?

背景技術

目前，環境因素、特別是復雜電磁環境對易受電磁信號影響的電子設備工作性能的影響分析一直是公認的難題之一。目前的分析方法有定性分析和單因素定量分析方法。而實際電子設備工作性能受到n個因素的影響，n個一般為大于等于2、小于10的自然數；目前的定性分析和單因素定量分析方法都不能對這n個影響因素進行綜合分析并對其主次關系進行排序。?

發明內容

為克服現有技術的不足，本發明提供一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析裝置及方法，能夠通過搜索、判斷相關電磁環境影響因素的大小對電子設備性能進行預測。預測電子設備的性能以及相關電磁環境因素表達在大多數情況下是區間數的形式，即實現對n個影響因素的綜合分析并對其主次關系進行排序，預測出相關電磁環境影響的主因素對電子設備性能進行的干擾，以便排除或減少電磁環境影響的主因素對電子設備性能進行的干擾。?

為實現如上所述的發明目的，本發明采用如下技術方案：?

一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析裝置，包括：數據采集裝置、影響因素數據接口裝置、電子設備數據接口裝置、影響因素主次關系定量分析裝置，所述影響因素數據接口裝置及電子設備數據接口裝置通過數據錄取線纜與數據采集裝置相連，數據采集裝置通過數據錄取線纜與影響因素主次關系定量分析裝置相連；電子設備數據接口裝置為信號源X₁，影響因素數據接口裝置為X₂至X_N。

一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析方法，采用將影響因素數據接口裝置、電子設備數據接口裝置采集的信號源數據通過數據采集裝置將上述傳輸至影響因素主次關系定量分析裝置，進行電子設備的影響因素主次關系的定量分析，確定影響電子設備的主要因素，以便排除或減小其影響，便于在惡劣的電磁環境下電子設備的正常工作，其步驟如下：?

1）、首先進行粗略的定量分析：

a.?建立信號源數據GM(1,N)模型，首先建電子設備性能特征數據的建模序列和相關影響因素數據的建模序列；通過數據接口裝置經采集裝置在時刻1、2…、n采集的電子設備性能和影響因素數據：?、、…、?，對電子設備性能和影響因素數據列進行1階累加生成處理；及建立緊鄰均值生成序列；

b.?建立近似時間響應的影子模型，通過設模型中間參數Y，模型中間參數R，

建GM(1,N)模型的最小二乘估計參數列：及??GM(1,N)模型的影子方程；???；???????

2）、再進行精確的定量分析：為了進一步提高粗略定量分析的分析精度，令（），得GM(1,N)模型中電子設備性能特征變量的相對殘差和平均相對殘差，即有：

?????????從而可以得到GM(1,N)模型的模擬精度為：??；

GM(1,N)模型中對電子設備性能特征數據的緊鄰均值生成是一種數值平滑，為克服緊鄰均值生成的背景值產生的滯后誤差，造成產生的模型偏差較大及降低建模分析精度，結合背景值加權構造形式，即；

式中為新信息的加權權重，對電子設備性能特征數據進行優化求解，設定加權權重，得到GM(1,N)模型模擬值，和累減還原值，

??????即平均相對誤差為：，?

式中是權值的函數，于是通過數學規劃模型：

，

得到最優的權值，從而得GM(1,N)模型的最優模型參數和模擬時間響應序列。

一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析方法，所述信號源數據GM(1,N)模型，?包括：電子設備性能特征數據建模序列和相關影響因素數據建模序列；?

?

?

?

其中、、…、表示數據采集裝置在時刻1采集的電子設備性能和影響因素數據，、、…、表示數據采集裝置在時刻2采集的電子設備性能和影響因素數據，…，、、…、表示數據采集裝置在時刻n采集的電子設備性能和影響因素數據；

對電子設備性能和影響因素數據列進行1階累加生成處理，其方法為：

為的1階累加生成算子（AGO，Accumulating?Generation?Operator）序列，為的緊鄰均值生成序列，即：

????????????????????????????????????????????????????????