[發明專利]一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析裝置及方法

有效

• 申請號: 201110275729.6
• 申請日: 2011-09-17
• 公開（公告）號: CN102867104A
• 公開（公告）日: 2013-01-09
• 發明（設計）人: 柯宏發;陳永光;梁高波;唐躍平;夏斌;唐曉婧
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍裝備指揮技術學院
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 洛陽市凱旋專利事務所 41112
• 代理人: 陸君

1.一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析裝置，其特征在于：包括：數據采集裝置、影響因素數據接口裝置、電子設備數據接口裝置、影響因素主次關系定量分析裝置，所述影響因素數據接口裝置及電子設備數據接口裝置通過數據錄取線纜與數據采集裝置相連，數據采集裝置通過數據錄取線纜與影響因素主次關系定量分析裝置相連；電子設備數據接口裝置為信號源X₁，影響因素數據接口裝置為X₂至X_N。

2.如權利要求1所述裝置的一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析方法，其特征在于：采用將影響因素數據接口裝置、電子設備數據接口裝置采集的信號源數據通過數據采集裝置將上述傳輸至影響因素主次關系定量分析裝置，進行電子設備的影響因素主次關系的定量分析，確定影響電子設備的主要因素，以便排除或減小其影響，便于在惡劣的電磁環境下電子設備的正常工作，其步驟如下：

1）、首先進行粗略的定量分析：

a.?建立信號源數據GM(1,N)模型，首先建電子設備性能特征數據的建模序列和相關影響因素數據的建模序列；通過數據接口裝置經采集裝置在時刻1、2…、n采集的電子設備性能和影響因素數據：?、、…、?，對電子設備性能和影響因素數據列進行1階累加生成處理；及建立緊鄰均值生成序列；

b.?建立近似時間響應的影子模型，通過設模型中間參數Y，模型中間參數R，

建GM(1,N)模型的最小二乘估計參數列：及??GM(1,N)模型的影子方程；???；?

2）、再進行精確的定量分析：為了進一步提高粗略定量分析的分析精度，令（），得GM(1,N)模型中電子設備性能特征變量的相對殘差和平均相對殘差，即有：

?????????從而可以得到GM(1,N)模型的模擬精度為：??；

GM(1,N)模型中對電子設備性能特征數據的緊鄰均值生成是一種數值平滑，為克服緊鄰均值生成的背景值產生的滯后誤差，造成產生的模型偏差較大及降低建模分析精度，結合背景值加權構造形式，即；

式中為新信息的加權權重，對電子設備性能特征數據進行優化求解，設定加權權重，得到GM(1,N)模型模擬值，和累減還原值，

??????即平均相對誤差為：，?

式中是權值的函數，于是通過數學規劃模型：

，

得到最優的權值，從而得GM(1,N)模型的最優模型參數和模擬時間響應序列。

3.如權利要求1所述的一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析方法，其特征在于：所述信號源數據GM(1,N)模型，?包括：電子設備性能特征數據建模序列和相關影響因素數據建模序列；

?

?

?

其中、、…、表示數據采集裝置在時刻1采集的電子設備性能和影響因素數據，、、…、表示數據采集裝置在時刻2采集的電子設備性能和影響因素數據，…，、、…、表示數據采集裝置在時刻n采集的電子設備性能和影響因素數據；

對電子設備性能和影響因素數據列進行1階累加生成處理，其方法為：

為的1階累加生成算子（AGO，Accumulating?Generation?Operator）序列，為的緊鄰均值生成序列，即：

????????????????????????????????????????????????????????

則GM(1,N)模型為???式中為GM(1,N)的發展系數，為GM(1,N)的驅動系數，為參數列。

4.如權利要求1所述的一種電子設備的電磁環境影響因素的定量分析方法，其特征在于：所述近似時間響應的影子模型，包括設模型中間參數Y，模型中間參數R，

，??????????????????????????????????????

則GM(1,N)模型的最小二乘估計參數列為：????????

設參數列，則為GM(1,N)模型的影子方程；

影子方程的近似時間響應式為：

??????????????????????????????

累減還原值為：??????????????

通過近似時間響應式判斷，GM(1,N)模型是一種狀態模型，根據電子設備性能特征的發展趨勢和影響因素狀態，采用狀態模型進行估計與分析，即GM(1,N)的驅動系數分別代表各個影響因素的作用力大小，再通過比較驅動系數的大小來對影響因素的相對重要性進行分析。