[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110274284.X | 申請日: | 2011-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN102412289A | 公開(公告)日: | 2012-04-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 北川光彥 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社東芝 |
| 主分類號: | H01L29/739 | 分類號: | H01L29/739;H01L29/06;H01L29/78 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐殿軍 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 | ||
1.一種半導(dǎo)體器件,其特征在于,具備:
基極層;
設(shè)置在所述基極層上的第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層;
第一絕緣膜,設(shè)置在從所述第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的表面向所述基極層側(cè)延伸、未到達(dá)所述基極層的多個第一溝槽的內(nèi)壁上;和
第一電極,隔著所述第一絕緣膜設(shè)置在所述第一溝槽內(nèi),并且與所述第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的表面相接地設(shè)置,
所述第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層具有:
由所述第一溝槽夾持的第1第二導(dǎo)電型區(qū)域;和
第2第二導(dǎo)電型區(qū)域,設(shè)置在所述第1第二導(dǎo)電型區(qū)域與所述基極層之間以及所述第一溝槽的底部與所述基極層之間,所述第2第二導(dǎo)電型區(qū)域的第二導(dǎo)電型雜質(zhì)量比所述第1第二導(dǎo)電型區(qū)域少。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
還具備:
第一導(dǎo)電型半導(dǎo)體層,設(shè)置在所述基極層的設(shè)有所述第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的面的相反側(cè);
第二絕緣膜,設(shè)置在從所述第一導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的表面向所述基極層側(cè)延伸、未到達(dá)所述基極層的多個第二溝槽的內(nèi)壁上;和
第二電極,隔著所述第二絕緣膜設(shè)置在所述第二溝槽內(nèi),并且與所述第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的表面相接地設(shè)置,
所述第一導(dǎo)電型半導(dǎo)體層具有:
由所述第二溝槽夾持的第1第一導(dǎo)電型區(qū)域;和
第2第一導(dǎo)電型區(qū)域,設(shè)置在所述第1第一導(dǎo)電型區(qū)域與所述基極層之間以及所述第二溝槽的底部與所述基極層之間,所述第2第一導(dǎo)電型區(qū)域的第一導(dǎo)電型雜質(zhì)量比所述第1第一導(dǎo)電型區(qū)域少。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
還具備:
第一導(dǎo)電型半導(dǎo)體層,在所述基極層的設(shè)有所述第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的面?zhèn)龋c所述第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層離開地設(shè)置;
第二絕緣膜,設(shè)置在從所述第一導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的表面向所述基極層側(cè)延伸、未到達(dá)所述基極層的多個第二溝槽的內(nèi)壁上;和
第二電極,隔著所述第二絕緣膜設(shè)置在所述第二溝槽內(nèi),并且與所述第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的表面相接地設(shè)置,
所述第一導(dǎo)電型半導(dǎo)體層具有:
由所述第二溝槽夾持的第1第一導(dǎo)電型區(qū)域;和
第2第一導(dǎo)電型區(qū)域,設(shè)置在所述第1第一導(dǎo)電型區(qū)域與所述基極層之間以及所述第二溝槽的底部與所述基極層之間,所述第2第一導(dǎo)電型區(qū)域的第一導(dǎo)電型雜質(zhì)量比所述第1第一導(dǎo)電型區(qū)域少。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
所述第2第二導(dǎo)電型區(qū)域的第二導(dǎo)電型雜質(zhì)濃度比所述第1第二導(dǎo)電型區(qū)域低。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
所述第2第一導(dǎo)電型區(qū)域的第一導(dǎo)電型雜質(zhì)濃度比所述第1第一導(dǎo)電型區(qū)域低。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
所述第2第二導(dǎo)電型區(qū)域的厚度比所述第一溝槽的深度小。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
所述第2第一導(dǎo)電型區(qū)域的厚度比所述第二溝槽的深度小。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
所述第1第二導(dǎo)電型區(qū)域與所述第一電極相接,
在所述第2第二導(dǎo)電型區(qū)域與所述第一電極之間設(shè)置所述第一絕緣膜。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
所述第1第一導(dǎo)電型區(qū)域與所述第二電極相接,
在所述第2第一導(dǎo)電型區(qū)域與所述第二電極之間設(shè)置所述第二絕緣膜。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
所述第1第二導(dǎo)電型區(qū)域的寬度為1μm以下。
11.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
所述第1第一導(dǎo)電型區(qū)域的寬度為1μm以下。
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H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





