[發明專利]天線特性測量系統和天線特性測量方法

無效

• 申請號: 201110268084.3
• 申請日: 2011-08-03
• 公開（公告）號: CN102375097A
• 公開（公告）日: 2012-03-14
• 發明（設計）人: 宮田邦行
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;黃綸偉

1.一種天線特性測量系統，該天線特性測量系統包括：

測量點掃描器，其被配置成對測量點進行掃描；

天線增益測量裝置，其被配置成測量受測天線在多個所述測量點處的天線增益，確定多個所述測量點中的基準點，并且求得所述基準點處的天線增益與多個所述測量點中的除所述基準點以外的測量點處的各個天線增益之間的天線增益差分值；以及

天線特性測量裝置，其被配置成測量所述受測天線在所述基準點處的基準天線特性，并且基于所述基準天線特性和各個所述天線增益差分值來求得所述受測天線在多個所述測量點中的除所述基準點以外的各個測量點處的天線特性。

2.根據權利要求1所述的天線特性測量系統，其中，在所述受測天線與通信裝置中的通信部電連接的情況下，

所述天線增益測量裝置在所述受測天線預先與所述通信部斷開電連接的狀態下測量所述受測天線的天線增益，并且

所述天線特性測量裝置在所述受測天線與所述通信部電連接的狀態下測量所述受測天線的天線特性。

3.根據權利要求1所述的天線特性測量系統，其中，所述天線特性測量裝置測量所述受測天線在所述基準點處的基準接收靈敏度，并且利用各個所述天線增益差分值校正所述基準接收靈敏度來求得所述受測天線在多個所述測量點中的除所述基準點以外的各個測量點處的接收靈敏度。

4.根據權利要求1所述的天線特性測量系統，其中，所述天線特性測量裝置測量所述受測天線在所述基準點處的基準輻射功率，并且利用各個所述天線增益差分值校正所述基準輻射功率來求得所述受測天線在多個所述測量點中的除所述基準點以外的各個測量點處的輻射功率。

5.根據權利要求1所述的天線特性測量系統，該天線特性測量系統還包括測量控制器，所述測量控制器包括所述天線增益測量裝置和所述天線特性測量裝置。

6.一種測量天線特性的方法，該方法包括以下步驟：

對測量點進行掃描，在該測量點處測量受測天線的天線特性；

測量所述受測天線在多個所述測量點處的天線增益；

確定多個所述測量點中的基準點，并求得所述基準點處的天線增益與多個所述測量點中的除所述基準點以外的的測量點處的各個天線增益之間的天線增益差分值；

測量所述受測天線在所述基準點處的基準天線特性；以及

通過利用各個所述天線增益差分值校正所述基準天線特性，求得所述受測天線在多個所述測量點中的除所述基準點以外的各個測量點處的天線特性。