[發明專利]天線特性測量系統和天線特性測量方法無效
| 申請號: | 201110268084.3 | 申請日: | 2011-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN102375097A | 公開(公告)日: | 2012-03-14 |
| 發明(設計)人: | 宮田邦行 | 申請(專利權)人: | 富士通株式會社 |
| 主分類號: | G01R29/10 | 分類號: | G01R29/10 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;黃綸偉 |
| 地址: | 日本神奈*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 天線 特性 測量 系統 測量方法 | ||
技術領域
本文中公開的實施例涉及測量天線特性的天線特性測量系統和天線特性測量方法。
背景技術
經常執行測量來求得諸如接收靈敏度或輻射功率的通信性能,通信性能包括諸如移動電話、筆記本個人計算機中內置的通信裝置等的移動通信設備的天線特性。在測量時,重要的是將在電波暗室中去除移動通信設備的電路和結構對天線的影響作為測量目標。
在如上所述地測量移動通信設備的通信性能時,采用了球面測量法來測量通信設備在受測設備(將被測量的設備)周圍的球面上發出的電磁場,由此可以允許在圍繞通信設備全部立體角處進行測量。
日本特開2008-89567號公報已經提出了利用反射器將來自受測天線(將被測量的天線)的輻射功率集中在上半球表面上來測量天線輻射特性的技術。日本特開2005-61949號公報已經提出了一種電磁波測量箱,其中利用反射器將屏蔽腔的內部形成為球形。
發明內容
因此,本發明的一個方面的目的是提供一種天線特性測量系統,該天線特性測量系統被構造成通過縮短用于測量球面上的測量點處的接收靈敏度和輻射功率所花費的時間來提高測量效率。
根據本發明的一個方面,一種天線特性測量系統包括:測量點掃描器,其對測量點進行掃描;天線增益測量裝置,其測量受測天線在多個所述測量點處的天線增益,確定多個所述測量點中的基準點,并且求得所述基準點處的天線增益與多個所述測量點中的除所述基準點以外的測量點處的各個天線增益之間的天線增益差分值;以及天線特性測量裝置,其測量所述受測天線在所述基準點處的基準天線特性,并且通過利用各個所述天線增益差分值校正所述基準天線特性來求得所述受測天線在多個所述測量點中的除所述基準點以外的各個測量點處的天線特性。
本發明的目的和優點將通過在權利要求中具體指出的部件和組合來實現和獲得。
應當理解,上述一般描述和下面的詳細描述僅是示例性和說明性的,并且并不是如權利要求那樣對本發明進行限制。
附圖說明
圖1是例示一種天線特性測量系統的構造的例子的示意圖;
圖2是例示一種天線特性測量系統的構造的例子的示意圖;
圖3是例示測量點的例子的示意圖;
圖4是一天線特性測量操作的整個操作流程的例子;
圖5是例示一種測量衰減的方式的例子的示意圖;
圖6是例示一種測量天線增益的方式的例子的示意圖;
圖7是例示一種測量接收靈敏度的方式的例子的示意圖;以及
圖8是例示一種測量輻射功率的方式的例子的示意圖。
具體實施方式
初步考慮
在如上所述的球面測量中,在測量了受測設備在圍繞該受測設備的球面上的多個測量點(例如,264個測量點)處的接收靈敏度和輻射功率。接收靈敏度和輻射功率用于評估受測設備在該球面上的通信性能。
在接收靈敏度的測量中,首先,從測量天線(用于測量的天線)向安裝在受測設備上的受測天線輻射無線電波,從而建立起受測設備與用于測量通信性能的仿真基站之間的通信信道。然后,在信道的建立起來之后,求得了受測設備接收可能導致預定誤碼率的無線電波的接收電平。
例如,通過降低從虛設基站輸出的無線電波的電平,在大約20dB的范圍內,每次按照接收的無線電波的電平的0.1dB(0.1dB的操作)來降低接收電平。繼續降低電平,直至誤碼率達到受測設備規定值為止。顯示規定誤差的最小接收電平表示在涉及的測量點處的接收靈敏度。通過按照上述方式測量各個接收靈敏度,可以評估出對于接收極限來說降低接收電平的程度。
然而,如上所述的接收靈敏度測量具有這樣的問題:由于利用具有多個頻率的無線電波測量球面上的全部測量點中的各個測量點處的各接收靈敏度,測量花費了大量時間,例如每一個頻帶花費26個小時。
此外,在上述測量中,由于接收電平被降低至受測設備的接收極限,在一些情況中,在各個測量的中間,受測設備與虛設基站之間的通信的可能斷開。在上述情況中,再次設置通信并再次測量各個測量點處的各接收靈敏度可能是不可避免的。如上所述,在天線特性的傳統測量中,測量可能花費大量時間,并且不能獲得有效的測量。
鑒于上述情況而做出本發明,并且本發明的目的在于提供一種天線特性測量系統,該天線特性測量系統被構造成通過縮短用于測量球面上的測量點處的接收靈敏度和輻射功率所花費的時間來提高測量效率。
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