[發明專利]改善存儲裝置的可靠性、可用性及可維修性

有效

• 申請號: 201110266608.5
• 申請日: 2007-06-29
• 公開（公告）號: CN102394112A
• 公開（公告）日: 2012-03-28
• 發明（設計）人: K·S·貝恩斯
• 申請（專利權）人: 英特爾公司
• 主分類號: G11C29/42
• 分類號: G11C29/42
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 朱海煜

本申請是申請日為2007年6月29日、申請號為200710129013.9、發明名稱為“改善存儲裝置的可靠性、可用性及可維修性”的申請的分案申請。

技術領域

本發明的實施例一般涉及集成電路領域，尤其涉及用于改善存儲裝置的可靠性、可用性及可維修性的系統、方法和裝置。

背景技術

存儲裝置易發生錯誤，諸如瞬態(或軟)錯誤等。如果這些錯誤不被適當處理，就可能導致計算系統故障。以糾錯碼(ECC)形式的冗余信息可用于改善系統的總體可靠性。然而，冗余信息增加了對存儲系統的存儲要求，因此，增加了存儲系統的成本。因此，ECC通常只用在高端或任務關鍵的系統中。較低成本的(或較不關鍵的)系統不使用ECC，而提供適于其使用的一定級別的可靠性。

在有些情況下，通過增加額外的存儲裝置(例如，動態隨機存取存儲器(DRAM)器件)，將存儲器的額外位加到系統。例如，用8個DRAM來存儲數據的系統也可用一個額外的DRAM來存儲校驗碼。在另一些情況下，額外位被存儲在特別為在ECC系統中使用而設計的不同DRAM中。例如，非ECC?DRAM可具有256M位的容量和16個輸出。DRAM的ECC變形例可具有288M位的容量和18個輸出。在所有這些例子中，ECC系統具有比非ECC對應部多12.5％的存儲容量。

在ECC系統中使用不同的DRAM器件會存在有一些不利。例如，增加了與設計、制造和庫存兩種(或更多種)DRAM器件相關聯的成本。此外，ECC型DRAM器件比非ECC型的大，所以更難制造。將額外位加到ECC型的DRAM上降低了器件的產量，因此增加了器件的成本。使用兩種(或更多種)的DRAM器件的另一缺點是：需要與DRAM器件接口的存儲控制器來支持額外的引腳(例如，ECC引腳)。同時，ECC型的DRAM模塊使用母板上更多的空間，因為其連接部大于非ECC型。

發明內容

本發明為克服現有技術中存在的上述不利或缺點構思而成。

本發明的一個方面是一種存儲裝置，其中包括：

存儲核心，它具有存儲數據位的第一部分和存儲對應于所述數據位的糾錯碼(ECC)位(所存儲的ECC位)的第二部分；以及

糾錯邏輯部件，它與所述存儲核心在同一芯片上，所述糾錯邏輯部件包含ECC計算邏輯部件來計算對應于所述數據位的ECC位(所計算的ECC位)。

本發明的又一方面是一種方法，包括：

從存儲核心的第一部分讀出數據位；

從所述存儲核心的第二部分讀出所存儲的糾錯碼(ECC)位；

用ECC計算邏輯部件來產生所計算的ECC位，其中，所述存儲核心和所述ECC計算邏輯部件位于共用集成電路上；以及

比較所存儲的ECC位和所計算的ECC位來判定所存儲的ECC位是否與所計算的ECC位匹配。

本發明的再一方面是一種系統，其中包括：

動態隨機存取存儲器(DRAM)，包括：

包含第一存儲體和第二存儲體的分離的存儲體對，其中，若所述動態隨機存取存儲器處于錯誤檢驗模式中，則數據位將被存儲在第一存儲體中而對應的糾錯碼(ECC)位(所存儲的ECC位)將被存儲在第二存儲體中；以及

與所述分離的存儲體對位于同一芯片上的糾錯邏輯部件，所述糾錯邏輯部件包含ECC產生邏輯部件來計算對應于所述數據位的ECC位(所計算的ECC位)；以及

與所述動態隨機存取存儲器(DRAM)連接的請求器。

附圖說明

本發明的實施例是解釋性的而不是限制性的，在附圖中，相同的附圖標記代表相同的部件要素。

圖1是說明本發明一實施例實現的計算系統的選定形態的高級框圖。

圖2是說明本發明一實施例實現的動態隨機存取存儲器(DRAM)的選定形態的框圖。

圖3是說明本發明一實施例實現的動態隨機存取存儲器(DRAM)的選定形態的框圖。

圖4是說明本發明一實施例在數據位和錯誤檢驗位之間的地址映射的框圖。

圖5A和5B說明本發明一實施例的寫入數據幀序列的選定形態。

圖6是說明本發明一實施例的片上糾錯邏輯部件的選定形態的框圖。

圖7是說明本發明一實施例從存儲裝置讀出數據的選定形態的流程圖。

圖8表示本發明一實施例的讀出數據幀的序列的選定形態。

圖9是說明本發明一實施例的電子系統的選定形態的框圖。

圖10是說明本發明備選實施例的電子系統的選定形態的框圖。