[發明專利]近晶態液晶空間散射度測量方法和裝置

有效

• 申請號: 201110265448.2
• 申請日: 2011-09-08
• 公開（公告）號: CN102419315A
• 公開（公告）日: 2012-04-18
• 發明（設計）人: 于濤;田麗;孫剛
• 申請（專利權）人: 蘇州漢朗光電有限公司
• 主分類號: G01N21/49
• 分類號: G01N21/49
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛;李艷

技術領域

本發明涉及一種液晶空間散射度測量方法和裝置，尤指一種評價近晶態液晶散射性能的測量。

背景技術

近晶態液晶材料是一種新型的液晶顯示材料，其可以在磨砂遮光和全透明狀態之間切換，甚至可以切換多種不同的漸進灰度階狀態。更為重要的是，在撤去電信號的情況下，近晶態液晶也能保持加載電壓時所產生的光效應，具有良好的多穩態特性。由于只有在改變近晶態液晶分子排列形態的瞬間才需要加電，所以近晶態液晶材料的能耗極低，是一種綠色環保的新型材料，可應用于調光幕墻、電子書、電子標簽、戶外信息牌、雙面顯示全彩廣告牌等多個領域，其功耗低、顯示效果好、結構簡單，具有十分廣泛的應用前景。

近晶態液晶材料采用散射光線方式成像，與傳統的透射式液晶成像相比，可以雙面顯示，沒有背光模組，不需要使用偏光片，極大地提高了光能的利用率，更加節能環保。對于近晶態液晶材料，迫切需要一種客觀有效的手段來評價其散射屬性，不但包括散射光的強度，還要知道散射光的空間分布情況，這樣才能更好的評價近晶態液晶材料的顯示效果。

發明內容

本發明的目的在于提供一種近晶態液晶空間散射度的測量方法和裝置，其可有效評價近晶態液晶的散射性能，得到散射光的空間分布規律。

為了實現上述目的，本發明一方面提供一種近晶態液晶空間散射度測量方法，包括如下步驟：

（1）、光源發出準直細光束垂直入射到待測近晶態液晶測試片上；

（2）、將測試片在其所處平面內繞入射光線的中心軸旋轉一角度；

（3）、將光電探測器分別調整到待測視場方向角和，即光電探測器與光線入射方向的夾角分別為和，其中_{0≤∣∣﹤π/2}，_{0≤∣∣﹤π/2}，且_{∣∣≠∣∣}，分別測量第一位置的散射光強度q₁和第二位置的散射光強度q_2，散射光強度q符合廣義高斯分布函數，其概率密度函數為式Ⅰ：

????????????????????（Ⅰ）

其中，在0~之間取值；為形狀參數，代表密度函數的衰減速度，；為尺度參數，將其定義為散射空間分布系數，代表散射程度的強弱，β＞0，對于散射均勻的理想情況，為標量，對于不均勻散射的情況，是方位角的函數；Γ是gamma函數；

由式Ⅱ計算散射空間分布系數值，

?????????????????????????（Ⅱ）。

進一步地，可以使用多個相同的光電探測器來同步完成步驟（3）中的散射光強度測量。

本發明另一方面提供一種近晶態液晶空間散射度測量裝置，它包括光源、圓弧滑軌、至少一個光電探測器，光源、待測近晶態液晶測試片和光電探測器沿光線傳播方向設置，光電探測器可沿導軌滑動地放置在圓弧滑軌上。圓弧滑軌最好是精密圓弧滑軌。

優選地，該測量裝置還可以包括能夠以待測近晶態液晶測試片所在平面的法線為軸線旋轉的夾具，待測近晶態液晶測試片安排在夾具上。

進一步地，光源可以是單色光光源或者白光光源。

進一步地，光源可以是面光源，在光源和待測近晶態液晶測試片之間沿光線傳播方向依次配置準直系統和可調光闌。

進一步地，圓弧滑軌的圓心與光線入射待測近晶態液晶測試片的中心點重合。

進一步地，光電探測器接收面的法線與入射光線相交且交點落在待測近晶態液晶測試片上。

進一步地，光源和光電探測器可以放置在待測近晶態液晶測試片的同側，也可以分別放置在待測近晶態液晶測試片的兩側。