[發(fā)明專利]近晶態(tài)液晶空間散射度測量方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110265448.2
• 申請日: 2011-09-08
• 公開（公告）號: CN102419315A
• 公開（公告）日: 2012-04-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 于濤;田麗;孫剛
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州漢朗光電有限公司
• 主分類號: G01N21/49
• 分類號: G01N21/49
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛(wèi);李艷

1.一種近晶態(tài)液晶空間散射度測量方法，其特征在于包括如下步驟：

（1）、光源發(fā)出準(zhǔn)直細(xì)光束垂直入射到待測近晶態(tài)液晶測試片上；

（2）、將測試片在其所處平面內(nèi)繞入射光線的中心軸旋轉(zhuǎn)一角度????????????????????????????????????????????????；

（3）、將光電探測器分別調(diào)整到待測視場方向角和，即光電探測器的接收面的法線與光線入射方向的夾角分別為和，0≤∣∣﹤π/2，0≤∣∣﹤π/2，∣∣≠∣∣，分別測量第一位置的散射光強(qiáng)度q₁和第二位置的散射光強(qiáng)度q₂，散射光強(qiáng)度q符合廣義高斯分布函數(shù)，其概率密度函數(shù)為式Ⅰ：

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其中，在0~之間取值；為形狀參數(shù)，代表密度函數(shù)的衰減速率，；為尺度參數(shù)，將其定義為散射空間分布系數(shù)，代表散射程度的強(qiáng)弱，β＞0；Γ是gamma函數(shù)；

由式Ⅱ計算散射空間分布系數(shù)值

?????????????????????????（Ⅱ）。

2.?如權(quán)利要求1所述的近晶態(tài)液晶空間散射度測量方法，其特征在于：使用多個相同的光電探測器同步完成步驟（3）中的散射光強(qiáng)度測量。

3.一種近晶態(tài)液晶空間散射度測量裝置，其特征在于：它包括光源、圓弧滑軌、至少一個光電探測器，光源、待測近晶態(tài)液晶測試片和光電探測器沿光線傳播方向設(shè)置，光電探測器可沿導(dǎo)軌滑動地放置在圓弧滑軌上。

4.如權(quán)利要求3所述的近晶態(tài)液晶空間散射度測量裝置，其特征在于：該測量裝置還包括能夠以待測近晶態(tài)液晶測試片所在平面的法線為軸線旋轉(zhuǎn)的夾具，待測近晶態(tài)液晶測試片安排在夾具上。

5.如權(quán)利要求3所述的近晶態(tài)液晶空間散射度測量裝置，其特征在于：所述光源是單色光光源或者白光光源。

6.如權(quán)利要求3所述的近晶態(tài)液晶空間散射度測量裝置，其特征在于：所述光源是面光源，在光源和待測近晶態(tài)液晶測試片之間沿光線傳播方向依次配置準(zhǔn)直系統(tǒng)和可調(diào)光闌。

7.如權(quán)利要求3所述的近晶態(tài)液晶空間散射度測量裝置，其特征在于：所述圓弧滑軌的圓心與光線入射待測近晶態(tài)液晶測試片的中心點重合。

8.如權(quán)利要求3所述的近晶態(tài)液晶空間散射度測量裝置，其特征在于：所述光電探測器接收面的法線與入射光線相交且交點落在待測近晶態(tài)液晶測試片上。

9.如權(quán)利要求3-8之一所述的近晶態(tài)液晶空間散射度測量裝置，其特征在于：所述光源和光電探測器放置在待測近晶態(tài)液晶測試片的同側(cè)，或者分別放置在待測近晶態(tài)液晶測試片的兩側(cè)。