[發明專利]半導體集成電路裝置有效
| 申請號: | 201110251651.4 | 申請日: | 2011-08-30 |
| 公開(公告)號: | CN102404002A | 公開(公告)日: | 2012-04-04 |
| 發明(設計)人: | 大村昌伸 | 申請(專利權)人: | 佳能株式會社 |
| 主分類號: | H03L7/099 | 分類號: | H03L7/099;H01L23/58;H01L23/522 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 歐陽帆 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 集成電路 裝置 | ||
1.一種半導體集成電路裝置,包括:
電路模塊,形成在半導體襯底上;
導電圖案,形成在所述電路模塊的要被保護的部分的上層中;
振蕩電路,與所述導電圖案連接,并且被配置為以由所述導電圖案的電路常數確定的振蕩頻率振蕩;以及
檢測電路,被配置為確定預設范圍是否包括所述振蕩電路的所述振蕩頻率。
2.根據權利要求1所述的半導體集成電路裝置,其中所述檢測電路還被配置為如果所述預設范圍不包括所述振蕩頻率則檢測到所述導電圖案已經被改變。
3.根據權利要求1所述的半導體集成電路裝置,其中
所述電路模塊包括:
存儲電路,被配置為保持數據;以及
控制電路,被配置為控制對保持在所述存儲電路中的數據的訪問,以及
所述控制電路還被配置為如果檢測到所述導電圖案已經被改變則執行使保持在所述存儲電路中的數據復位的操作和禁止訪問保持在所述存儲電路中的數據的操作中的一個操作。
4.根據權利要求1所述的半導體集成電路裝置,其中所述檢測電路包括對所述振蕩電路的振蕩頻率計數的計數器電路。
5.根據權利要求1所述的半導體集成電路裝置,其中
所述振蕩電路包括以環形形式連接多個奇數個的反相器電路的環形振蕩器電路,
所述導電圖案的第一部分與所述環形振蕩器電路連接,以及
所述導電圖案的第二部分與基準電位線連接。
6.根據權利要求1所述的半導體集成電路裝置,其中所述振蕩電路包括經由所述導電圖案以環形形式連接多個奇數個的反相器電路的環形振蕩器電路。
7.根據權利要求1所述的半導體集成電路裝置,其中所述電路常數包括所述導電圖案的寄生電阻和寄生電容。
8.根據權利要求1所述的半導體集成電路裝置,還包括多對導電圖案和振蕩電路,
其中多個導電圖案被布置在所述電路模塊上方。
9.根據權利要求1所述的半導體集成電路裝置,其中所述檢測電路被分成多個電路,并且所述多個電路被分散在所述電路模塊中。
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