[發明專利]基于參考向量和位掩碼的SOC的測試方法

有效

• 申請號: 201110248480.X
• 申請日: 2011-08-26
• 公開（公告）號: CN102353894A
• 公開（公告）日: 2012-02-15
• 發明（設計）人: 俞洋;喬立巖;彭宇;陶麗楠;向剛
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 韓末洙

1.基于參考向量和位掩碼的SOC的測試方法，它包括如下步驟：

步驟一：把電路對應的測試數據進行壓縮；

步驟二：將壓縮后的數據傳輸并存儲在ATE上；

步驟三：通過芯片上的解壓結構對壓縮數據解壓縮，還原成測試數據；

步驟四：用測試數據對IP核進行測試。

其特征在于步驟一的壓縮過程如下：

步驟一一：將電路對應的測試數據按照多掃描鏈的形式排列，獲得多個測試片段；

步驟一二：對所有的測試片段進行團劃分，然后根據硬件中分配字典的容量選擇團劃分后分組中頻率高的測試片段作為字典條目；

步驟一三：根據字典條目中測試片段的出現頻率，以由高到低的順序，利用可變前綴索引編碼表進行編碼，形成字典中每一個條目的索引；

步驟一四：將步驟一一得到的多個測試片段分別與字典中的每一個條目逐一進行比較，對于存在相容條目的測試片段，采用步驟一五進行壓縮；對于不存在相容條目的測試片段，采用步驟一六進行壓縮；直到所有測試片段都壓縮完成為止；

步驟一五：若所述測試片段使用位掩碼，則測試數據的壓縮結果為“前綴00+位掩碼+索引”；若所述測試片段未使用位掩碼，則測試數據的壓縮結果為“前綴01+索引”，所述索引是與測試片段相容的條目對應的索引；

步驟一六：利用VPDRL碼對測試數據進行壓縮，壓縮結果為“前綴1+VPDRL碼”，完成測試數據的壓縮。

2.根據權利要求1所述基于參考向量和位掩碼的SOC的測試方法，其特征在于步驟一一中將電路對應的測試數據按照多掃描鏈的形式排列成測試片段的方法為：設電路對應的測試數據為測試集T_D，由n個向量組成，分別為t₁，t₂，t₃，...，t_n，IP核內掃描鏈數量為m，則每個測試向量被平均分割成m組，每組包含d位數據，若每一個測試向量的位數為Ntotal，d＝Ntotal/m，若某組數據長度不足d，用不確定位“X”補齊，將所有測試向量的第j組數據組合在一起形成一個掃描鏈，j＝1，2，...，m，所有掃描鏈的第k位組合到一起構成第k個測試片段。

3.根據權利要求1所述基于參考向量和位掩碼的SOC的測試方法，其特征在于步驟一二中對測試片段進行團劃分的方法為：

步驟a：針對測試片段建立無向圖G＝(V，E)，其中V為頂點集，E為邊集；將無向圖中沒有邊的測試片段利用位掩碼進行編碼，使該測試片段與有邊的頂點相連；

步驟b：在無向圖中搜索當前度數最大的點，若最大點唯一，執行步驟d；若最大點不唯一，執行步驟c；

步驟c：選擇無關位X最少的頂點作為當前度數最大的點；

步驟d：用所有與當前度數最大頂點相連的頂點建立子圖H；

步驟e：搜索子圖H，獲得該子圖H中具有最多公共鄰居的頂點對，若不唯一，選擇無關位X最少的頂點對作為最多公共鄰居的頂點對，然后執行步驟f；若唯一，執行步驟f；

步驟f：合并頂點對；

步驟g：更新子圖H，更新無向圖G，若無向圖G中的E為空，則完成團劃分；否則返回步驟a。

4.根據權利要求1所述基于參考向量和位掩碼的SOC的測試方法，其特征在于步驟一六中利用VPDRL碼壓縮的方法為：

步驟1、將測試片段排列成逐位移入的數據流；

步驟2、采用動態規劃方法對測試數據中的無關位賦值，用游程類型序列T＝{t_i}、游程最小長度序列L＝{l_i}和余量序列M＝{m_i}來描述一個測試集；

步驟3、將賦值問題歸結為以下數學模型：給定三個長度均為n的非負整數序列T＝{t_i}、L＝{l_i}和M＝{m_i}，其中1≤i≤n，m_n＝0；對于長度為n的非負整數序列A＝{a_i}，其中0≤a_i≤m_i，令b_i＝m_i-a_i，b_-1＝0，w_i＝l_i+b_i-1+a_i，給定函數f(i)＝f(t_i，w_i)，總代價函數為：Y(A)=Σi=1nf(i)=Σi=1nf(ti,wi)]]>求非負整數序列A，使得總代價函數Y(A)最小；

步驟4、對賦值完后的測試向量進行劃分，連續的0串由n個0組成，連續的1串由n個1組成，經過這樣的劃分后，0游程和1游程是交替出現的；

步驟5、對于0游程和1游程的測試數據進行壓縮。