[發明專利]基于參考向量和位掩碼的SOC的測試方法

有效

• 申請號: 201110248480.X
• 申請日: 2011-08-26
• 公開（公告）號: CN102353894A
• 公開（公告）日: 2012-02-15
• 發明（設計）人: 俞洋;喬立巖;彭宇;陶麗楠;向剛
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 韓末洙

技術領域

本發明涉及SOC的測試方法。

背景技術

隨著集成電路制造工藝的逐漸提高，一塊芯片上所集成的IP核(Intellectual?Property)越來越多。SOC的復雜度直線上升，與此同時也給SOC測試帶來了許多新的挑戰。其中測試時間長，測試數據量大，測試功耗大已成為SOC測試中需要注意的三大問題。

由于SOC通常是由可以重用的IP核組成，對測試向量進行編碼不需要知道IP核的結構信息，測試壓縮技術在減少測試數據量和測試時間上能取得很好的效果。傳統的數據壓縮和解壓縮的數據流形式，數據壓縮部分是提前做好的，而解壓縮電路是在硬件電路上實現，與測試同步進行。具體過程為首先對測試集Td進行壓縮，生成相對較小的新測試集Te，再將壓縮后的數據存儲在ATE(Automatic?Test?Equipment自動測試設備)上，最后在測試時通過芯片上的解壓結構解壓還原成測試集Td。

數據壓縮的優越性在SOC測試領域日趨明顯。許多數據壓縮的編碼方法被提出來。其中比較經典的有Huffman編碼、游程(Run-Length)編碼、Golomb碼、基于字典的編碼、基于位掩碼的編碼方法。針對多掃描鏈設計的IP核，在分析傳統的字典編碼和位掩碼技術的基礎上，提出了一種基于變長度索引和位掩碼的字典的測試數據壓縮方法(UIBD，Unfixed?Index?and?Bitmask?based?Dictionary?code)。

現有測試方法在對IP核進行檢測時，存在壓縮率較低的問題。

發明內容

本發明是要解決現有測試方法在對IP核進行檢測時，存在壓縮率較低的問題，提供基于參考向量和位掩碼的SOC的測試方法。

本發明基于參考向量和位掩碼的SOC的測試方法的具體步驟為：

步驟一：把電路對應的測試數據進行壓縮；

步驟二：將壓縮后的數據傳輸并存儲在ATE上；

步驟三：通過芯片上的解壓結構對壓縮數據解壓縮，還原成測試數據；

步驟四：用測試數據對IP核進行測試。

其中步驟一的壓縮過程如下：

步驟一一：將電路對應的測試數據按照多掃描鏈的形式排列，獲得多個測試片段；

步驟一二：對所有的測試片段進行團劃分，然后根據硬件中分配字典的容量選擇團劃分后分組中頻率高的測試片段作為字典條目；

步驟一三：根據字典條目中測試片段的出現頻率，以由高到低的順序，利用可變前綴索引編碼表進行編碼，形成字典中每一個條目的索引；

步驟一四：將步驟一一得到的多個測試片段分別與字典中的每一個條目逐一進行比較，對于存在相容條目的測試片段，采用步驟一五進行壓縮；對于不存在相容條目的測試片段，采用步驟一六進行壓縮；直到所有測試片段都壓縮完成為止；

步驟一五：若所述測試片段使用位掩碼，則測試數據的壓縮結果為“前綴00+位掩碼+索引”；若所述測試片段未使用位掩碼，則測試數據的壓縮結果為“前綴01+索引”，所述索引是與測試片段相容的條目對應的索引；

步驟一六：利用VPDRL碼對測試數據進行壓縮，壓縮結果為“前綴1+VPDRL碼”，完成測試數據的壓縮。

步驟一一中將電路對應的測試數據按照多掃描鏈的形式排列成測試片段的方法為：設電路對應的測試數據為測試集T_D，由n個向量組成，分別為t₁，t₂，t₃，...，t_n，IP核內掃描鏈數量為m，則每個測試向量被平均分割成m組，每組包含d位數據，若每一個測試向量的位數為Ntotal，d＝Ntotal/m，若某組數據長度不足d，用不確定位“X”補齊，將所有測試向量的第j組數據組合在一起形成一個掃描鏈，j＝1，2，...，m，所有掃描鏈的第k位組合到一起構成第k個測試片段。

步驟一二中對測試片段進行團劃分的方法為：

步驟a：針對測試片段建立無向圖G＝(V，E)，其中V為頂點集，E為邊集；將無向圖中沒有邊的測試片段利用位掩碼進行編碼，使該測試片段與有邊的頂點相連；

步驟b：在無向圖中搜索當前度數最大的點，若最大點唯一，執行步驟d；若最大點不唯一，執行步驟c；

步驟c：選擇無關位X最少的頂點作為當前度數最大的點；

步驟d：用所有與當前度數最大頂點相連的頂點建立子圖H；