[發(fā)明專利]一種盲檢校驗方法以及相關(guān)裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110238064.1
• 申請日: 2011-08-18
• 公開（公告）號: CN102957494A
• 公開（公告）日: 2013-03-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 矯淵培
• 申請（專利權(quán)）人: 上海華為技術(shù)有限公司
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00
• 代理公司: 深圳市深佳知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44285
• 代理人: 彭愿潔;李文紅

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，尤其涉及一種盲檢校驗方法以及相關(guān)裝置。

背景技術(shù)

在長期演進(LTE，Long?Term?Evolution)協(xié)議下的下行物理控制信道(PDCCH，Physical?Downlink?Control?Channel)中進行下行控制信息(DCI，Downlink?Control?Information)的傳輸，由于用戶設(shè)備(UE，User?Equipment)一般不知道當前傳送的DCI是什么類型的信息，也不知道自己需要的信息在哪個位置。但是UE知道自己當前在期待什么信息，例如在空閑(Idle)狀態(tài)的UE期待的信息是paging，SI；在發(fā)起隨機訪問(Random?Access)后，期待的是RACH?Response；在有上行數(shù)據(jù)等待發(fā)送的時，期待UL?Grant等。對于不同的期望信息，UE用相應(yīng)的無線網(wǎng)絡(luò)臨時標識(RNTI，radio?network?temporary?identifier)去和控制信道單元(CCE，Control?Channel?Element)信息(承載DCI的基本單元是CCE)做循環(huán)冗余校驗碼(CRC，Cyclic?Redundancy?Check)校驗，如果CRC校驗成功，那么UE就知道這個信息是自己需要的，也知道相應(yīng)的DCI類型，從而進一步解出DCI內(nèi)容，這就是盲檢的過程。

在下行控制信息的發(fā)送端確定好相關(guān)數(shù)據(jù)之后，對下行控制信息依次進行編碼，CRC校驗，RNTI加掩以及速率匹配等處理，將進行上述處理后的下行控制信息映射到空口資源上進行發(fā)送。

在現(xiàn)有技術(shù)中，UE端若需要接收上述下行控制信息，則需要對該下行控制信息進行盲檢，即在計算得到的搜索空間上搜索該下行控制信息所在的位置，對該位置的下行控制信息進行譯碼，并依次對譯碼后的下行控制信息進行RNTI解掩和CRC校驗，若經(jīng)CRC校驗后，該下行控制消息的值全為零，則UE端的盲檢成功。

現(xiàn)有技術(shù)在檢驗盲檢結(jié)果時是按發(fā)送端的逆操作進行檢驗的，即先對譯碼后的下行控制信息進行RNTI解掩，然后對每次RNTI解掩的結(jié)果進行一次CRC校驗，由于UE端需要對每個RNTI值都進行一次解掩，若需要對A次盲檢結(jié)果進行RNTI解掩，后續(xù)則需要進行A×B(B為RNTI的個數(shù))次CRC校驗；顯然，隨著盲檢次數(shù)以及RNTI個數(shù)的增加，CRC校驗次數(shù)也會陡增，大大增加了處理時延。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例提供了一種盲檢校驗方法以及相關(guān)裝置，用于快速地完成下行控制信息的盲檢校驗。

本發(fā)明提供的盲檢校驗方法，包括：獲取譯碼后的N位下行控制信息；對N減M位下行控制信息進行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于1的整數(shù)，所述N大于M；對所述M位CRC校驗結(jié)果進行無線網(wǎng)絡(luò)臨時標識RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果；將所述M位RNTI加掩結(jié)果與所述N位下行控制信息中的最后M位進行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。

本發(fā)明提供的盲檢校驗方法，包括：獲取譯碼后的N位下行控制信息；對N減M位下行控制信息進行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M大于1的整數(shù)，所述N大于M；對所述N位下行控制信息中的最后M位進行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果；將所述M位RNTI解掩結(jié)果與所述M位CRC校驗結(jié)果進行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。

本發(fā)明提供的盲檢校驗裝置，包括：獲取單元，用于獲取譯碼后的N位下行控制信息；校驗單元，用于對N減M位下行控制信息進行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于1的整數(shù)，所述N大于M；加掩單元，用于對所述M位CRC校驗結(jié)果進行無線網(wǎng)絡(luò)臨時標識RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果；對比單元，用于將所述M位RNTI加掩結(jié)果與所述N位下行控制信息中的最后M位進行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。

本發(fā)明提供的盲檢校驗裝置，包括：獲取單元，用于獲取譯碼后的N位下行控制信息；校驗單元，用于對N減M位下行控制信息進行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于1的整數(shù)，所述N大于M；解掩單元，用于對所述N位下行控制信息中的最后M位進行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果；盲檢判斷單元，用于將所述M位RNTI解掩結(jié)果與所述M位CRC校驗結(jié)果進行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。