[發(fā)明專利]一種盲檢校驗方法以及相關(guān)裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110238064.1
• 申請日: 2011-08-18
• 公開（公告）號: CN102957494A
• 公開（公告）日: 2013-03-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 矯淵培
• 申請（專利權(quán)）人: 上海華為技術(shù)有限公司
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00
• 代理公司: 深圳市深佳知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44285
• 代理人: 彭愿潔;李文紅

1.一種盲檢校驗方法，其特征在于，包括：

獲取譯碼后的N位下行控制信息；

對N減M位下行控制信息進行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于1的整數(shù)，所述N大于M；

對所述M位CRC校驗結(jié)果進行無線網(wǎng)絡(luò)臨時標識RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果；

將所述M位RNTI加掩結(jié)果與所述N位下行控制信息中的最后M位進行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對N減M位下行控制信息進行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果的過程，包括：

建立由M個寄存器組成的校驗電路，所述M個寄存器的初始值為0；

將所述N減M位下行控制信息依次輸入所述校驗電路，當所述N減M位下行控制信息完全經(jīng)過所述校驗電路的處理后，將所述M個寄存器的當前值作為M位CRC校驗結(jié)果。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述M為16。

4.一種盲檢校驗方法，其特征在于，包括：

獲取譯碼后的N位下行控制信息；

對N減M位下行控制信息進行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M大于1的整數(shù)，所述N大于M；

對所述N位下行控制信息中的最后M位進行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果；

將所述M位RNTI解掩結(jié)果與所述M位CRC校驗結(jié)果進行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述對N減M位下行控制信息進行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果的過程，包括：

建立由M個寄存器組成的校驗電路，所述M個寄存器的初始值為0；

將所述N減M位下行控制信息依次輸入所述校驗電路，當所述N減M位下行控制信息完全經(jīng)過所述校驗電路的處理后，將所述M個寄存器的當前值作為M位CRC校驗結(jié)果。

6.一種盲檢校驗裝置，其特征在于，包括：

獲取單元，用于獲取譯碼后的N位下行控制信息；

校驗單元，用于對N減M位下行控制信息進行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于1的整數(shù)，所述N大于M；

加掩單元，用于對所述M位CRC校驗結(jié)果進行無線網(wǎng)絡(luò)臨時標識RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果；

對比單元，用于將所述M位RNTI加掩結(jié)果與所述N位下行控制信息中的最后M位進行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述校驗單元包括：

電路建立模塊，用于建立由M個寄存器組成的校驗電路，所述M個寄存器的初始值為0；

輸入校驗模塊，用于將所述N減M位下行控制信息依次輸入所述校驗電路，當所述N減M位下行控制信息完全經(jīng)過所述校驗電路的處理后，將所述M個寄存器的當前值作為M位CRC校驗結(jié)果。

8.一種盲檢校驗裝置，其特征在于，包括：

獲取單元，用于獲取譯碼后的N位下行控制信息；

校驗單元，用于對N減M位下行控制信息進行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于1的整數(shù)，所述N大于M；

解掩單元，用于對所述N位下行控制信息中的最后M位進行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果；

盲檢判斷單元，用于將所述M位RNTI解掩結(jié)果與所述M位CRC校驗結(jié)果進行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述校驗單元包括：

電路建立模塊，用于建立由M個寄存器組成的校驗電路，所述M個寄存器的初始值為0；

輸入校驗模塊，用于將所述N減M位下行控制信息依次輸入所述校驗電路，當所述N減M位下行控制信息完全經(jīng)過所述校驗電路的處理后，將所述M個寄存器的當前值作為M位CRC校驗結(jié)果。