[發明專利]一種掃描電子顯微鏡進行粉末狀樣品形貌觀察的分析方法無效
| 申請號： | 201110236938.X | 申請日： | 2011-08-18 |
| 公開（公告）號： | CN102419382A | 公開（公告）日： | 2012-04-18 |
| 發明（設計）人： | 張濤 | 申請（專利權）人： | 上海華碧檢測技術有限公司 |
| 主分類號： | G01Q30/20 | 分類號： | G01Q30/20;G01Q30/02;G01N23/22 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 200433 上海*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 掃描 電子顯微鏡 進行 粉末狀 樣品 形貌 觀察 分析 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種掃描電子顯微鏡進行粉末狀樣品形貌觀察的分析方法，其特征在于：該方法包括以下步驟：
A、準備好樣品支架，在支架上貼好雙面導電銅膠；
B、將粉末樣品自然撒落于導電銅膠的表面；
C、將支架和粉末樣品一起整體接觸工作操作臺面振動幾次，利用慣性，使一部分粉末和導電銅膠自然黏合；
D、使用氮氣槍向支架和黏合于其上的粉末進行充分的吹拭，使得僅有少量與導電銅膠黏附強的粉末留下；
E、對樣品進行鍍金處理；
F、使用掃描電子顯微鏡進行觀察。
2.根據權利要求1所述的一種掃描電子顯微鏡進行粉末狀樣品形貌觀察的分析方法，其特征在于：所述步驟B中，粉末樣品灑落的方法為將粉末樣品置于折成V形的定性濾紙中，輕輕抖動折疊好的定性濾紙，使得粉末樣品沿V形槽滑落于導電銅膠的表面。
3.根據權利要求1所述的一種掃描電子顯微鏡進行粉末狀樣品形貌觀察的分析方法，其特征在于：所述步驟E中，鍍金處理使用的金屬為鉑金。
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