[發(fā)明專利]CVD機臺的晶圓傳送系統(tǒng)和晶圓傳送方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110234936.7 | 申請日: | 2011-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN102953042A | 公開(公告)日: | 2013-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李晶 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫華潤上華半導(dǎo)體有限公司;無錫華潤上華科技有限公司 |
| 主分類號: | C23C16/00 | 分類號: | C23C16/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 214028 江蘇省無*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | cvd 機臺 傳送 系統(tǒng) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種CVD機臺的晶圓傳送系統(tǒng)及使用該CVD機臺的晶圓傳送系統(tǒng)的晶圓傳送方法,尤其涉及CVD機臺的晶圓傳送系統(tǒng)的晶圓位置偏差的檢測和校正技術(shù)。
背景技術(shù)
化學(xué)氣相沉積(CVD)是半導(dǎo)體工業(yè)中應(yīng)用最為廣泛的用來沉積多種材料的技術(shù),包括大范圍的絕緣材料,大多數(shù)金屬材料和金屬合金材料。CVD(Chemical?Vapor?Deposition,化學(xué)氣相淀積),指把含有構(gòu)成薄膜元素的氣態(tài)反應(yīng)劑或液態(tài)反應(yīng)劑的蒸氣及反應(yīng)所需其它氣體引入反應(yīng)室,在襯底表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng)生成薄膜的過程。在超大規(guī)模集成電路中很多薄膜都是采用CVD方法制備。經(jīng)過CVD處理后,表面處理膜密著性約提高30%,防止高強力鋼的彎曲,拉伸等成形時產(chǎn)生的刮痕。
CVD技術(shù)的淀積溫度低,薄膜成份易控,膜厚與淀積時間成正比,均勻性,重復(fù)性好,臺階覆蓋性優(yōu)良。
在現(xiàn)實應(yīng)用中多使用CVD機臺進行晶圓CVD處理,如CVD?SEQUEL和CENTURA機臺。在機臺的晶圓傳送過程中,因Load?lock(晶圓傳送區(qū)域)的傳送臂位置上下偏差、或晶圓翹曲變形而可能引起機臺撞片,導(dǎo)致晶圓CVD處理時出現(xiàn)錯誤,降低良品率。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明目的在于提供一種CVD機臺的晶圓傳送系統(tǒng)及使用該CVD機臺的晶圓傳送系統(tǒng)的晶圓傳送方法。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種CVD機臺的晶圓傳送系統(tǒng),包括:淀積腔體,用于收容晶圓以進行化學(xué)氣相沉積;傳送臂,用于將晶圓傳送到淀積腔體;還包括:光信號發(fā)生器,安裝在傳送臂上,用于向晶圓發(fā)射光信號;光傳感器,用于監(jiān)測光信號發(fā)生器發(fā)出的光信號。
優(yōu)選的,所述淀積腔體包括用于暫時存放晶圓的中轉(zhuǎn)區(qū)域和進行淀積的反應(yīng)區(qū)域,所述傳送臂將晶圓傳送到中轉(zhuǎn)區(qū)域。
優(yōu)選的,還包括控制裝置,所述控制裝置連接光傳感器,當光傳感器接收到光信號發(fā)生器發(fā)出的光信號時,控制裝置向CVD機臺發(fā)出停止機械動作的信號。
優(yōu)選的,當晶圓和傳送臂處于一種預(yù)設(shè)的相對位置關(guān)系時,所述光信號發(fā)生器發(fā)射的光信號穿過晶圓的空隙;當晶圓和傳送臂偏離前述預(yù)設(shè)的相對位置關(guān)系時,光信號投射到晶圓表面并被反射到光傳感器。
優(yōu)選的,所述光信號發(fā)生器為激光發(fā)生器,所述光傳感器為激光傳感器。
優(yōu)選的,所述傳送臂上安裝有兩個激光發(fā)生器。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明還提供了一種使用上述晶圓傳送系統(tǒng)的CVD機臺的晶圓傳送方法,其特征在于,包括以下步驟:
第一步,提供待處理的晶圓;
第二步,使用傳送臂將晶圓向淀積腔體傳送;
第三步,使用光信號發(fā)生器向晶圓發(fā)射光信號;
第四步,在執(zhí)行第三步的同時或者之后,使用光傳感器監(jiān)測光信號;
優(yōu)選的,所述方法還包括以下步驟:
提供連接光傳感器的控制裝置,當光傳感器接受到光信號時,控制裝置向CVD機臺發(fā)出停止機械動作的信號。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:通過設(shè)置光信號發(fā)生器和光傳感器,檢測晶圓和傳送臂的相對位置,避免將不符合要求的晶圓送入淀積腔體。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的具體實施例的晶圓傳送系統(tǒng)的晶圓和傳送臂處于預(yù)設(shè)的相對位置的狀態(tài)圖。
圖2是本發(fā)明的具體實施例的晶圓傳送系統(tǒng)的晶圓和傳送臂處于預(yù)設(shè)的相對位置的狀態(tài)圖。
具體實施方式
以下通過具體實施例說明本發(fā)明的思想。
本發(fā)明的具體實施例的一種CVD機臺的晶圓傳送系統(tǒng)包括:淀積腔體,包括用于暫時存放晶圓的中轉(zhuǎn)區(qū)域和進行淀積的反應(yīng)區(qū)域;傳送臂,用于將晶圓傳送到淀積腔體,具體為傳送到中轉(zhuǎn)區(qū)域;還包括:光信號發(fā)生器,安裝在傳送臂上,用于向晶圓發(fā)射光信號;光傳感器,用于監(jiān)測光信號發(fā)生器發(fā)出的光信號。
在CVD淀積過程中,由傳送臂將整批的晶圓分單片去表到淀積腔體的中轉(zhuǎn)區(qū)域,該區(qū)域業(yè)界通常會有兩種檢查方式用于避免撞片。一是在設(shè)備保養(yǎng)時通過假片的傳送,由設(shè)備人員來調(diào)整傳送位置,從而保證機臺傳送的正確性。二是在進入中轉(zhuǎn)區(qū)域時對整批晶圓進行片架掃描,但是在晶圓的實際傳送過程中,并不檢測晶圓是否翹曲或手臂的位置是否有偏移。
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機材料為特征的





